Alfredo Rodrigues Vaz

Pesquisador (carreira PAEPE) junto ao Centro de Componentes Semicondutores da UNICAMP (CCS). Atualmente trabalho no desenvolvimento de processos de integração entre micro e nanotecnologias usando um Sistema Dual Beam - FIB/SEM (Focused Ion Beam / Scanning Electron Micoscopy). Especificamente, na síntese, deposição e caracterização de nanoestruturas de carbono (Grafeno e Nanotubos), buscando integrá-los à dispositivos para aplicações como contatos elétricos e sensores. O sistema FIB-SEM instalado no CCS é uma ferramenta essencial para fabricação e integração das novas gerações de MEMS e NEMS (Micro and Nano Electrical Mechanical Systems), pois esse sistema permite gravar padrões diretamente na superfície de wafers de silício, sem o uso de máscaras, possibilitando a prototipagem rápida de dispositivos. O sistema permite a deposição de metais e dielétricos, além disso, pode obter imagens de alta resolução através de microscopia eletrônica de varredura. Quanto a minha formação, fiz a graduação Física (bacharelado e licenciatura) pela Universidade Estadual de Campinas, mestrado em Física Universidade de São Paulo (1999) trabalhando com propriedades óticas de pontos quânticos (Espallhamento Raman de pontos quânticos de InGaAs) e doutorado e pós-doutorado em Física pela Universidade de São Paulo (2004) trabalhando na área de deposição de filmes finos metálicos nanoestruturados depositados pela técnica de Metal Plasma Immertion Ion Implantation and Deposition (MePIIID) e caracterização mecânica e elétrica desses filmes usando Microscopia de Força Atômica (AFM) e tunelamento (STM). Fui bolsista da FAPESP durante o pós-doutorado no Instituto de Física da USP (2004-2006), onde realizei o estudo de Dispositivos submilimétricos para medidas de temperatura.

Informações coletadas do Lattes em 14/05/2022

Acadêmico

Formação acadêmica

Doutorado em Doutoramento em Ciências

2000 - 2004

Universidade de São Paulo
Título: Medidas do Módulo Elástico de Filmes Finos
Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori. Bolsista do(a): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico, CNPq, Brasil. Palavras-chave: Deposição de filmes finos; Módulo Elástico; Microscopia de Força Atômica (AFM); materiais nanoestruturados; propriedades mecânicas.Grande área: Ciências Exatas e da TerraSetores de atividade: Desenvolvimento de Novos Materiais.

Mestrado em Mestrado em Ciências

1997 - 1999

Universidade de São Paulo
Título: espalhamento raman em pontos quânticos de InGaAs,Ano de Obtenção: 1999
Vólia Lemos Crivelenti.Bolsista do(a): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico, CNPq, Brasil. Grande área: Ciências Exatas e da Terra

Graduação em Licenciatura em Física

1997 - 1999

Universidade Estadual de Campinas

Graduação em Física

1991 - 1996

Universidade Estadual de Campinas

Pós-doutorado

2014 - 2015

Pós-Doutorado. , Swiss Federal Inst of Mat Science and Technology, EMPA, Suiça. , Bolsista do(a): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico, CNPq, Brasil. , Grande área: Ciências Exatas e da Terra

2004 - 2006

Pós-Doutorado. , Instituto de Física da USP, IFUSP, Brasil. , Bolsista do(a): Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo, FAPESP, Brasil.

Formação complementar

2009 - 2013

Microeletrônica. , Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer, CTI, Brasil.

2008 - 2008

Física e Microeletrônica. , Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer, CTI, Brasil.

2006 - 2008

Física e Microeletrônica. , Centro de Componentes Semicondutores - UNICAMP, CCS, Brasil.

2007 - 2007

Aplicações em um sistema Dual-Beam FIB/SEM. (Carga horária: 40h). , Laboratório de Aplicações da FEI Company, FEI CO., República Tcheca.

Idiomas

Bandeira representando o idioma Inglês

Compreende Razoavelmente, Fala Razoavelmente, Lê Razoavelmente, Escreve Razoavelmente.

Bandeira representando o idioma Espanhol

Compreende Razoavelmente, Fala Razoavelmente, Lê Razoavelmente.

Bandeira representando o idioma Francês

Compreende Razoavelmente, Fala Razoavelmente, Lê Razoavelmente.

Áreas de atuação

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Nanofabricação usando Feixe de Íons Focalizados.

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Nanofabricação usando Feixe de íons focalizados (FIB) aplicados/Especialidade: Nanocontatos em nanotubos de carbono.

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Física da Matéria Condensada/Especialidade: Prop. Óticas e Espectrosc. da Mat. Condens; Outras Inter. da Mat. com Rad. e Part..

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: FILMES FINOS E SUPERFÍCIES.

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Física da Matéria Condensada/Especialidade: Propriedades mecânicas de filmes finos e materiais nanoestruturados.

Participação em eventos

THE 59rd INTERNATIONAL CONFERENCE on ELECTRON, ION, and PHOTON BEAM TECHNOLOGY & NANOFABRICATION. O2 and H2O enhancedFEBIE for low damage fabrication of nanopores in few layer graphene.. 2015. (Congresso).

The 59th International Conference on Electron, Ion, and Photon Beam Technology and Nanofabrication. In Situ Transport Properties Measurements of FEBID Cu(II)(hfa)2 During Annealing. 2015. (Congresso).

FEBIP 2014..In-situ purification of Cu-C material deposited by FEBID using a pulsed infrared laser. 2014. (Oficina).

THE 55rd INTERNATIONAL CONFERENCE on ELECTRON, ION, and PHOTON BEAM TECHNOLOGY & NANOFABRICATION. ii) FIB Cross-Sections for Morphological Analysis of Ni-P Hard-Mask Transformation During Plasma Etching. 2011. (Congresso).

THE 55rd INTERNATIONAL CONFERENCE on ELECTRON, ION, and PHOTON BEAM TECHNOLOGY & NANOFABRICATION. Investigation of contacts between metal and few layer graphene with focused ion beam cross-section. 2011. (Congresso).

THE 53rd INTERNATIONAL CONFERENCE on ELECTRON, ION, and PHOTON BEAM TECHNOLOGY & NANOFABRICATION. EFFECTS OF ION IRRADIATION ON ELECTRICAL PROPERTIES OF CARBON NANOTUBES. 2009. (Congresso).

THE 53rd INTERNATIONAL CONFERENCE on ELECTRON, ION, and PHOTON BEAM TECHNOLOGY & NANOFABRICATION. Low roughness microdisk resonators fabricated by Focused Ion Beam (FIB). 2009. (Congresso).

XXX ENFMC. Caracterização elétrica de estruturas de Pt depositadas por FIB (Focused Íon Beam).. 2007. (Congresso).

5th Brazilian MRSMeeeting. Dual Beam FIB/SEM - Universal Tool for Nanoscience. 2006. (Congresso).

5th Brazilian MRSMeeting. High Resolution Antidot Lattices in AlGaAs/GaAs Parabolic quantum Well Heterostructures Obtained by FIB.. 2006. (Congresso).

XXIX Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Efeitos termoelétricos em termopares de filmes muito finos de Pt/Au. 2006. (Congresso).

XXVIII Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Estudo do Efeito Seebeck para filmes finos nanométricos de Au e Pt. 2005. (Congresso).

XXVI ENFMC. Determinação do Módulo Elástico de Filmes Finos de Paládio depositados pela técnica de MePIIID. 2003. (Congresso).

XXV ENFMC. Determinação do Módulo Elástico de Filmes Finos de Platina. 2002. (Congresso).

XXIV ENFMC. Deposição e caracterização de filmes finos de óxido de alumínio crescidos pela técnica de MePIIID. 2001. (Congresso).

Comissão julgadora das bancas

Hercílio Rodolfo Rechenberg

RECHENBERG, H. R.. Medidas do módulo elástico de filmes finos metálicos. 2004. Tese (Doutorado em Física) - Universidade de São Paulo.

Frank Patrick Missell

SALVADORI, M. C. B. S.;MISSELL, Frank PatrickRECHENBERG, H. R.; BALZARETTI, Naira Maria; VERDONCK, P. B.. Medidas do modulo elastico de filmes finos metalicos. 2004. Tese (Doutorado em Física) - Universidade de São Paulo.

Vólia Lemos Crivellenti

LEMOS, V.; SALVADORI, Mária Cecília Bs;CERDEIRA, F.. Espalhamento Raman em pontos quânticos de InGaAs. 1999. Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade de São Paulo.

Alain André Quivy

QUIVY, A. A. (também QUIVY, A. antes de 1996). Espalhamento Raman em pontos quânticos de InAs. 1999. Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade de São Paulo.

Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori

SALVADORI, M. C.; CRIVELENTI, V. L.. Espalhamento Raman em pontos quânticos de InGaAs. 1999 - Instituto de Física da USP.

Foi orientado por

Mauro Sergio Dorsa Cattani

Medidas do módulo elástico de filmes finos metálicos; 2004; Tese (Doutorado em Fisica) - Instituto de Física da Usp, Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico; Coorientador: Mauro Sergio Dorsa Cattani;

Vólia Lemos Crivellenti

Espalhamento Raman em pontos quânticos de InGaAs; 1999; 0 f; Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade de São Paulo, Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico; Orientador: Vólia Lemos Crivellenti;

Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori

Medidas do Módulo Elástico de Filmes Finos Metálicos; 2004; 100 f; Tese (Doutorado em Física) - Instiuto de Física, Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico; Orientador: Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori;

Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori

Desenvolvimento de fabricação de dispositivos submilimétricos para medida de gradientes de temperatura; 2006; Instituto de Física da USP, Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo; Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori;

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  • VAZ, A. R. ; L.L. Melo ; M.C. Salvadori ; M. Cattani . Grain Size and Surface Roughness in Metallic Thin Films. In: 10th International Symposium on Metastable, Mechanically Alloyed and Nanocrysatlline Materials (ISMANAM 2003), 2003, Foz do Iguaçu. Aceito para publicação, 2003.

  • Gelamo, R.V. ; Rouxinol, F.P. ; VERISSIMO, C. ; Abbaspour A. ; VAZ, A. R. ; MORAES, M. B. ; Moshkalev, S.A. . Carbon Nanotube Based Pressure and Gas Sensors. In: NATO Advanced Research Workshop - Advanced Materials and Technologies for Micro/Nano-Devices, Sensors and Actuators, 2009, St. Petersburg. Programme and Abstracts of Advanced Materials and Technologies for Micro/Nano-Devices, Sensors and Actuators, 2009. p. 54-54.

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  • M.C. Salvadori ; VAZ, A. R. ; D.R. Martins ; M. Cattani . Determinação do Módulo Elástico de Filmes de Pt. In: XXV - Encontro Nacional de física da Matéria Condensada, 2002, Caxambu. Física da matéria condensada - Resumos, 2002. p. 535.

  • D.R. Martins ; VAZ, A. R. ; M.C. Salvadori . Controle de Processo de um sistema de deposição por Arco Catódico.. In: XXIV - Encontro Nacional de física da Matéria Condensada, 2001, São Lourenço. Física da Matéria condensada - Resumos, 2001. p. 397.

  • VAZ, A. R. ; D.R. Martins ; M.C. Salvadori . Deposição e caracterização de filmes finos de óxido de Alumínio crescido pela técnica de MePIIID(Metal Plasma Immertion Ion Implantation and deposition. In: XXIV - Encontro Nacional de Física da matéria condensada, 2001, São Lourenço. Física da matéria condensada. p. 397.

  • VAZ, A. R. ; D.R. Martins ; M.C. Salvadori . Purity control in cathodic arc film deposition. In: 33rd IUVSTA Workshop and IV Brazilian Meeting on Diamond, Diamond-Like, Nanotubes, Nitrides & Silicon carbide., 2001, Campos do Jordão. Abstracts, 2001. p. 28.

  • VAZ, A. R. ; V. Lemos . Fônons de Borda de Zona de Brillouin induzidos em espectroscopia Raman por defeito local. In: XXI - Encontro nacional de Física da Matéria Condensada, 1998, Caxambu. Física da Matéria Condensada - Resumos, 1998.

  • VAZ, A. R. ; V. Lemos ; A.A. Quivy ; J.R. Leite . Raman Scattering in Self-Assembled InGaAs. In: Sixteenth International Conference on Raman Spectroscopy, 1998, Cidade do Cabo. proceedings of the Sixteenth International Conference on Raman Spectroscopy. Pretoria: A.M. Heyns - University of Pretoria, 1998.

  • VAZ, A. R. ; V. Lemos . Caracterização de filmes de Diamante por espectroscopia Raman. In: XIX Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada, 1996, Águas de Lindóia. Física da matéria Condensada - Resumos, 1996. p. 199-199.

  • VAZ, A. R. ; V. Lemos . Espectroscopia raman em filmes de diamante. In: 2o Encontro da sociedade Brasileira de Crescimento de Cristais, 1995, São José dos Campos. Caderno de resumos, 1995.

  • Fischer c. ; VERISSIMO, C. ; Vaz, A. F. ; Moshkalev, S.A. ; SWART, J. W. . High-Aspect Ratio Silicon Nanopillars Using Deep Reactive Ion Etching. 2009. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

  • L. A. M. Barea ; F. Vallini ; Vaz, A. F. ; MIALICHI, J. R. ; N.C. Frateschi . Low-Roughness Active Microdisk Resonators Fabricated by Focused Ion Beam (FIB). 2009. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

  • Vaz, A. F. ; J. León ; SILVA, M. M. ; Gelamo, R.V. ; Moshkalev, S.A. ; SWART, J. W. . EFFECTS OF ION IRRADIATION ON ELECTRICAL PROPERTIES OF CARBON NANOTUBES. 2009. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

Projetos de pesquisa

  • 2017 - Atual

    In-operando control of direct-write nanoscale decoration of graphene and reduced graphene oxide by novel mini-reactors, Descrição: This research collaboration project aims to enable fundamental investigations of novel nanostruc-tured materials synthesized from graphene (Gr) and reduced graphene oxide (rGO) in combination with cutting edge methods in nanoanalysis and nanofabrication: (i) in-operando optical Raman spec-troscopy, and (ii) area selective atomic layer deposition (ALD) with molecular control over size di-mensions using focused electron beam induced deposition (FEBID) as templating method. To achieve our goal, we will join our complementary core competencies: the Brazilian partner will synthesize graphene and reduced graphene oxide and will design and fabricate the mini-reactors. The Swiss team will integrate these materials and mini-reactors into existing dedicated setups in the group for Raman spectroscopy, scanning electron microscopy and atomic layer deposition. The result will be the transformation of ?standard? equipment into high-end in-operando and nanoscale direct-write platforms for nanostructured novel material fabrication and detailed synthesis monitoring. This un-precedented control on nanomaterials synthesis will spur continuing long-term collaboration and will be important for the respective research activities of the Brazilian and Swiss partners in investigating novel materials for gas sensors, strain sensors as well as magnetic sensors and energy storage.. , Situação: Em andamento; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Doutorado: (2) . , Integrantes: Alfredo Rodrigues Vaz - Integrante / Stanislav A. Moshkalev - Integrante / UTKE, IVO - Coordenador / SAVU, RALUCA - Integrante.

  • 2016 - Atual

    Reparo do Sistema Dual Beam FIB/SEM (Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy) modelo NOVA Nanolab 200., Descrição: O Equipamento Dual Beam FIB/SEM foi adquirido com auxílio FAPESP através do Programa Equipamentos Multiusuários 2004 e esta em operação no CCSNano desde julho de 2006 atendendo colaborativamente diversos grupos de pesquisa. O sistema é composto por três partes principais que são: Microscópio Eletrônico, Feixe de Íons Focalizados e Sistema de injeção de gases organometálicos para deposição de platina e óxido de silício. Esses três itens possuem elementos que se esgotam com o uso frequente e necessitam de troca periódica e são respectivamente: (1) Fonte de Elétrons (Tungstênio), (2) Fonte de Íons (Ga+ Ions - Liquid Metal Ion Source - LMIS) e (3) Reservatório de Platina (Cyclopentadienyl Trimethyl Platinum - (C5H5)Pt(CH3)3 ), além das partes mecânicas, que não apresentam um tempo de uso pré-estipulado mas que se desgastam e precisam ser substituidas, principalmente aquelas usadas no sistema de movimentação do suporte para amostras. Ao longo desses 10 anos houve um crescente aumento de usuários e consequentemente o aumento de trabalhos publicados que usaram algumas das facilidades do sistema Dual Beam como: Imagens de alta resolução,prototipagem de dispositivos, cortes, soldas, deposição de metal e óxido, microanálise da composição de materiais entre outras. Por outro lado o gasto das fonte e partes mecânicas se intensificou. Dessa maneira o objetivo desse projeto é substituir os itens esgotados e danificados que são: Fonte de elétrons, Reservatório de Platina e a engrenagem que movimenta a inclinação das amostras, além do serviço técnico especializado para a substituição e calibração dos itens. Com o esgotamento da fonte de elétrons, várias combinações de tensões e correntes passaram a não funcionar mais adequadamente dificultando a obtenção de imagens de alta resolução (5-10 nm), assim como resultado da troca da fonte de elétrons, esperamos ter as imagens excelentes que caracteriza o equipamento, além disso, com a troca da fonte de platina, poderemos ter de volta mais uma das facilidades do equipamento que é o processos de Cross Section para a caracterização das amostras. Com relação ao desgaste das partes mecânicas, a engrenagem que controla a inclinação da amostra apresenta travamento durante a execução do movimento impedindo um movimento suave e alcance de alguns ângulos que são essenciais para a calibração e execução de alguns processos de corte das amostras, dessa forma a sua troca permitirá um retorno da movimentação normal do suporte para amostra.. , Situação: Em andamento; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Alfredo Rodrigues Vaz - Coordenador / Stanislav A. Moshkalev - Integrante / SAVU, R. - Integrante.

Prêmios

2009

Micrograph Contest: GRAND PRIZE in The 53rd International Conference on Electron, Ion and Photon Beam Technology and Nanofabrication, http://www.zyvexlabs.com/EIPBNuG/EIPBN2009/2009.html#grandprize.

Histórico profissional

Endereço profissional

  • Centro de Componentes Semicondutores - UNICAMP. , Rua João Pandiá Calógeras n90, Barão Geraldo, 13083-870 - Campinas, SP - Brasil, Telefone: (019) 35217282, URL da Homepage:

Experiência profissional

2017 - Atual

Swiss Federal Inst of Mat Science and Technology

Vínculo: , Enquadramento Funcional:

2016 - Atual

Centro de Componentes Semicondutores e Nanotecnologias - UNICAMP

Vínculo: , Enquadramento Funcional:

2013 - Atual

Centro de Componentes Semicondutores - UNICAMP

Vínculo: , Enquadramento Funcional: CLE, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Pesquisador (Carreira PAEPE - UNICAMP)

2011 - 2013

Centro de Componentes Semicondutores - UNICAMP

Vínculo: Colaborador, Enquadramento Funcional: Pesquisador Colaborador, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Bolsista CNPq ? Modalidade Desenvolvimento Tecnológico ? SDT- B Área: Microeletrônica Projeto: Design House Centro de Pesquisa Renato Archer Local: Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer/Centro de Componentes Semicondutores Processo: 300285/2009-4

2009 - 2011

Centro de Componentes Semicondutores - UNICAMP

Vínculo: Colaborador, Enquadramento Funcional: Pesquisador Colaborador, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Bolsista CNPq ? Modalidade Desenvolvimento Tecnológico ? SDT/1B Área: Microeletrônica Projeto: Design House Centro de Pesquisa Renato Archer Local: Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer/Centro de Componentes Semicondutores Processo: 380772/2009-4

2008 - 2008

Centro de Componentes Semicondutores - UNICAMP

Vínculo: Colaborador, Enquadramento Funcional: Pesquisador Colaborador, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Bolsista CNPq?Modalidade Desenvolvimento Tecnológico em Semicondutores - MDT/1A Área: Engenharia Elétrica Projeto: Design House Centro de Pesquisa Renato Archer Local: Centro de Pesquisas Renato Archer/Centro de Componentes Semicondutores Processo: 380120/2008-9

2006 - 2008

Centro de Componentes Semicondutores - UNICAMP

Vínculo: Colaborador, Enquadramento Funcional: Pesquisador Colaborador, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Bolsista CNPq ? Modalidade DTI/D Projeto: Tecnologia de Microfabricação para Sensores, Dispositivos de potência e Circuitos integrados de Rádio freqüência. Local: Centro de Componentes Semicondutores (CCS) - UNICAMP Processo: 310797/2005-5

2003 - 2003

Universidade de São Paulo

Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Bolsista/Doutorado, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Disciplina Ministrada Laboratório de Física I para Oceanografia (FEP-0111) - 2o semestre 2003 Local ? Instituto de Física da USP (IFUSP)

2003 - 2003

Universidade de São Paulo

Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Bolsista/Doutorado, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Disciplina ? Laboratório de Física II para Oceanografia (FEP-0112) 1o Semestre de 2003 Local ? Instituto de Física da USP

2002 - 2002

Universidade de São Paulo

Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Bolsista/Doutorado, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Disciplina ? Laboratório de Física para Engenharia II (FEP-2198) Local ? Instituto de Física da USP Período : 2o Semestre de 2002

2001 - 2001

Universidade de São Paulo

Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Bolsista/Doutorado, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Disciplina ? Introdução às medidas em Física (FAP-152) Local ? Instituto de Física da USP Período : 1o Semestre de 2001

2001 - 2001

Universidade de São Paulo

Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Bolsista/Doutorado, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Monitoria em curso de Graduação Disciplina ? Física Geral e Experimental p/Engenharia I ? FEP2195 Local ? Instituto de Física da USP Período : 2o Semestre de 2001

2001 - 2001

Universidade de São Paulo

Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Bolsista/Doutorado, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Monitoria em curso de Graduação Disciplina ? Física IV (Instituto de Química da USP) ? FGE2250 Local ? Instituto de Física da USP Período : 2o Semestre de 2001