Digeorgia Natalie da Silva

Possui graduação em Física pela Universidade Federal de Minas Gerais (2000), graduação em Engenharia Industrial Elétrica pelo Centro Federal de Educação Tecnológica de Minas Gerais (2003), mestrado em Física pela Universidade Federal de Minas Gerais (2004) e doutorado em Microeletrônica pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (2010). De setembro de 2007 a maio de 2008 foi pesquisadora visitante da Universidade de Minnesota, Estados Unidos.

Informações coletadas do Lattes em 31/10/2019

Acadêmico

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Formação acadêmica

Doutorado em Microeletrônica

2005 - 2010

Universidade Federal do Rio Grande do Sul
Título: Estimation Method for Gate Delay Variability in Nanometer CMOS Technology
Orientador: em University of Minnesota System ( Prof. Dr. Sachin Sapatnekar)
com Dr. Renato Perez Ribas. Bolsista do(a): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico, CNPq, Brasil.

Mestrado em Física

2002 - 2004

Universidade Federal de Minas Gerais
Título: Estudo do Centro O- em Topázio Natural e Irradiado através de Ressonância Paramagnética Eletrônica e sua Relação com a Cor Azul,Ano de Obtenção: 2004
Orientador: Klaus Krambrock
Bolsista do(a): Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior, CAPES, Brasil.

Graduação em Engenharia Industrial Elétrica

1997 - 2003

Centro Federal de Educação Tecnológica de Minas Gerais

Graduação em Física

1997 - 2000

Universidade Federal de Minas Gerais

Curso técnico/profissionalizante em Eletrônica

1993 - 1996

Centro Federal de Educação Tecnológica de Minas Gerais

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Formação complementar

2007 - 2007

Projeto de CI Digital em Cadence. (Carga horária: 30h). , Universidade Federal do Rio Grande do Sul, UFRGS, Brasil.

2006 - 2006

Projeto de circuitos integrados (Mentor Graphics). (Carga horária: 40h). , Universidade Federal do Rio Grande do Sul, UFRGS, Brasil.

2006 - 2006

Oficina de Microfabricação: Construção de CI's MOS. (Carga horária: 80h). , Universidade Estadual de Campinas, UNICAMP, Brasil.

2005 - 2005

Fundamentos de VHDL. (Carga horária: 20h). , Universidade Federal do Rio Grande do Sul, UFRGS, Brasil.

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Idiomas

Inglês

Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.

Espanhol

Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.

Português

Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.

Alemão

Compreende Pouco, Fala Pouco, Lê Pouco, Escreve Pouco.

Holandês

Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.

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Comissão julgadora das bancas

José Francisco de Sampaio

Krambrock K. W. H.;J. F. Sampaio; Paniago R. M.. Estudo do centro O- em topázio natural e irradiado através de ressonância paramagnética eletrônica e sua relação com a cor. 2004. Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade Federal de Minas Gerais.

Roberto da Silva

da SILVA, RobertoWIRTH, Gilson; BAMPI, Sérgio. Parametric Yield Improvement in Standard Cells IC Design. 2008. Exame de qualificação (Doutorando em Computação) - Universidade Federal do Rio Grande do Sul.

Arnaldo Avidago Geraldo

GERALDO, Arnaldo Avidago. Caracterização de filmes finos de ZnO utilizados em células fotovoltáicas.. 2004. Trabalho de Conclusão de Curso (Graduação em Engenharia Industrial Elétrica) - Centro Federal de Educação Tecnológica de Minas Gerais.

Roberto Magalhães Paniago

R. Paniago. Estudo do centro O- em topázio natural e irradiado através de ressonância paramagnética eletrônica e sua relação com a cor. 2004. Dissertação (Mestrado em Mestrado em Física) - Universidade Federal de Minas Gerais.

Leomar Soares da Rosa Junior

DA ROSA JUNIOR, L. S.WIRTH, G. I.BAMPI, S.VAN NOIJE, W. A. M.. An Estimation Method for Gate Delay Variability Model in Nanometer CMOS Technology. 2010. Tese (Doutorado em Programa de Pós Graduação em Microeletrônica) - Universidade Federal do Rio Grande do Sul.

Leomar Soares da Rosa Junior

DA ROSA JUNIOR, L. S.; DA SILVA, R.;WIRTH, G. I.BAMPI, S.. Parametric Yield Improvement in Standard Cells IC Design. 2008. Exame de qualificação (Doutorando em Programa de Pós-Graduação em Microeletrônica) - Universidade Federal do Rio Grande do Sul.

Klaus Wilhelm Heinrich Krambrock

KRAMBROCK, K.; SAMPAIO, J. F.;PANIAGO, R.. Estudo do centro O- em topazio natural e irradiado atraves de ressonancia paramagnetica eletronica e sua relacao com a cor azul. 2004. Dissertação (Mestrado em Fisica) - Universidade Federal de Minas Gerais.

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Foi orientado por

Wilmar Barbosa Ferraz

Desenvolvimento de tratamentos termoquímicos para otimizar o beneficiamento por irradiação gama de topázios incolores de Minas Gerais e Rondônia (TEC-2757/98); 2000; 0 f; Iniciação Científica - Comissão Nacional de Energia Nuclear, Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de Minas Gerais; Orientador: Wilmar Barbosa Ferraz;

Andre Inácio Reis

An Estimation Method for Gate Delay Variability Model in Nanometer CMOS Technology; 2010; Tese (Doutorado em PGMICRO) - Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior; Coorientador: Andre Inacio Reis;

Silvania Sousa do Nascimento

Ensino de Física em espaços alternativos : sistema de coloração biológica; 2000; 0 f; Trabalho de Conclusão de Curso; (Graduação em Fisica) - Universidade Federal de Minas Gerais; Orientador: Silvania Sousa do Nascimento;

Renato Perez Ribas

An Estimation Method for Gate Delay Variability Model in Nanometer CMOS Technology; 2010; Tese (Doutorado em Microeletrônica) - Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior; Orientador: Renato Perez Ribas;

Arnaldo Avidago Geraldo

Caracterização de filmes finos de ZnO utilizados em células fotovoltáicas; 2004; 27 f; Trabalho de Conclusão de Curso; (Graduação em Engenharia Industrial Elétrica) - Centro Federal de Educação Tecnológica de Minas Gerais; Orientador: Arnaldo Avidago Geraldo;

Klaus Wilhelm Heinrich Krambrock

Estudo do centro O- em topazio natural e irradiado atraves de ressonancia paramagnetica eletronica e sua relacao com a cor azul; 2004; Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade Federal de Minas Gerais, Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior; Orientador: Klaus Wilhelm Heinrich Krambrock;

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Produções bibliográficas

  • da Silva, Digeorgia N. ; Reis, André I. ; Ribas, Renato P. . CMOS logic gate performance variability related to transistor network arrangements. Microelectronics and Reliability , v. 49, p. 977-981, 2009.

  • Silva, D.N. da ; Guedes, K.J. ; Pinheiro, M.V.B. ; Spaeth, J.M. ; KRAMBROCK, K. . The microscopic structure of the oxygen aluminium hole center in natural and neutron irradiated blue topaz. Physics and Chemistry of Minerals , v. 32, p. 436-441, 2005.

  • SILVA, D. N. ; GUEDES, K. J. ; PINHEIRO, M. V. B. ; SCHWEIZER, S. ; Spaeth, J.-M. ; KRAMBROCK, K. . The O-(Al2) centre in topaz and its relation to the blue colour. Physica Status Solidi. C, Conferences and Critical Reviews , v. 2, p. 397-400, 2005.

  • SILVA, D. N. ; GUEDES, K. J. ; KRAMBROCK, K. . Investigation of the O- hole center in natural and irradiated topaz by electron paramagnetic resonance. In: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada, 2004, Poços de Caldas. Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada, 2004.

  • SILVA, D. N. ; GUEDES, K. J. ; KRAMBROCK, K. . The blue color in irradiated topaz. In: ESR Dosimetry and Applications, 2003, Campos do Jordão. ESR Dosimetry and Applications, 2003.

  • SILVA, D. N. ; PANIAGO, R. ; PINHEIRO, M. V. B. ; LADEIRA, L. O. ; KRAMBROCK, K. . High-temperature treatments and their relation with the color centers in topaz. In: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada, 2003, Caxambu. Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada, 2003.

  • SILVA, D. N. ; PINHEIRO, M. V. B. ; DANTAS, M.S.S. ; KRAMBROCK, K. . Raman characterization of topaz treated under controlled atmospheres and gamma irradiation. In: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada, 2002, Caxambu. Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada, 2002.

  • SILVA, D. N. ; LAMEIRAS, F.S. ; FERRAZ, W.B. ; KRAMBROCK, K. ; PINHEIRO, M. V. B. . Characterization and thermochemical treatment of topaz. In: Simpósio Brasileiro de Estruturologia, 2001, Tiradentes. Simpósio Brasileiro de Estruturologia, 2001.

  • da Silva, Digeorgia N. ; André I. Reis ; Renato P. Ribas . Gate Delay Variability Estimation Method for Parametric Yield Improvement in Nanometer CMOS Technology. Microelectronics and Reliability , 2010.

Histórico profissional

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Experiência profissional

  • 2007 - 2010

    Nangate Laboratory Research

    Vínculo: Colaborador, Enquadramento Funcional: Pesquisadora

    Outras informações:
    Foco em análise estatística e modelamento de atraso em portas lógicas digitais.

  • 2004 - 2004

    Fundação Centro Tecnológico de Minas Gerais

    Vínculo: Estágio, Enquadramento Funcional: Estagiária em Engenharia Elétrica, Carga horária: 20

    Outras informações:
    Trabalho desenvolvido com células fotovoltáicas.

  • 2003 - 2003

    Universidade Federal de Minas Gerais

    Vínculo: Estágio Docente, Enquadramento Funcional: Professor estagiário

    Outras informações:
    Aulas de laboratório de Eletromagnetismo e Mecânica para alunos de graduação.

  • 2002 - 2002

    Escola Municipal Hugo Pinheiro Soares

    Vínculo: Funcionário Público, Enquadramento Funcional: Professora do Ensino Médio, Carga horária: 20