Método, medidor de capacitncia, programa de computador e produto de programa de computador para medição de capacitncia aperfeiçoada

  • Número do pedido da patente:
  • PI 1003527-3 A8
  • Data do depósito:
  • 16/09/2010
  • Data da publicação:
  • 08/01/2013
  • Prioridade unionista:
  • País Número Data
    ORGANIZAÇÃO EUROPÉIA DE PATENTES 09 170649.9 18/09/2009
Inventores:
  • Classificação:
  • G01R 27/26
    Disposi??es para a medi??o da resist?ncia, reat?ncia, imped?ncia ou caracter?sticas derivadas das mesmas; / Medi??o de resist?ncias, reat?ncias, imped?ncias, reais ou complexas, ou de outras caracter?sticas bipolares derivadas das mesmas, p. ex. constante de tempo; / Medi??o da indut?ncia ou capacit?ncia; Medi??o do fator de qualidade, p. ex. por meio de m?todo de resson?ncia; Medi??o do fator de perda; Medi??o de constantes diel?tricas;
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MÉTODO, MEDIDOR DE CAPACITNCIA, PROGRAMA DE COMPUTADOR E PRODUTO DE PROGRAMA DE COMPUTADOR PARA MEDIÇÃO DE CAPACITNCIA APERFEIÇOADA. A presente invenção refere-se a um método que é apresentado para medir a capacitância usando um medidor de capacitância, o medidor de capacitância compreendendo uma fonte de força AC com uma frequência controlável que é alimentada para um capacitor para medir a sua capacitância. O método compreende as etapas de: executar, no medidor de capacitância, uma primeira medição da capacitância usando uma primeira frequência; quando a primeira medição da capacitância indica que a capacitância está abaixo de uma capacitância limiar, executar uma medição de capacitância mais baixa no medidor de capacitância, usando uma segunda medição da capacitância que usa uma segunda frequência; e quando a primeira medição da capacitância indica a capacitância estando acima de uma capacitância limiar, executar uma medição de capacitância mais alta no medidor de capacitância, usando uma segunda medição da capacitãncia que usa uma terceira frequência, a terceira frequência sendo mais baixa do que a segunda frequência.

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