Retífica

Número do pedido da patente:
PI 9917565-7 A2

Data do depósito:
31/12/1999

Data da publicação:
07/01/2014

Inventores:

Sjaak Melkert

Classificação:
B24B 5/36

Máquinas ou dispositivos próprios para esmerilhar superf?cies de revolu??o da pe?a, incluindo estas, tamb?m, o esmerilhamento das superf?cies laterais planas; Acessórios para os mesmos; / Máquinas ou dispositivos de finalidade ?nica;

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B24B 5/16

M?quinas ou dispositivos pr?prios para esmerilhar superf?cies de revolu??o da pe?a, incluindo estas, tamb?m, o esmerilhamento das superf?cies laterais planas; Acess?rios para os mesmos; / com centros ou mandris para segurar a pe?a; / para esmerilhar superf?cies de perfil especial, p. ex. abauladas;

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B24B 5/37

M?quinas ou dispositivos pr?prios para esmerilhar superf?cies de revolu??o da pe?a, incluindo estas, tamb?m, o esmerilhamento das superf?cies laterais planas; Acess?rios para os mesmos; / M?quinas ou dispositivos de finalidade ?nica; / para esmerilhar rolos, p. ex. rolos perfilados;

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Nome do depositante:
Voith Paper Patent Gmbh

Nome do procurador:
Cruzeiro/ Newmarc - Patentes e Marcas Ltda

Início da fase nacional:
01/07/2002

PCT:
Número: EP9910485 Data:31/12/1999

WO:
Número: 01/49451 Data: 12/07/2001

"RETÍFICA". Uma retífica (10) para alisar uma superfície (12) de um rolo (14), tal como um rolo de máquina de papel, em particular um cilindro para papel tissue, ou um cilindro espelhado, abrange um mecanismo de retífica (16) móvel numa direção basicamente paralela com dito rolo (14) e deslocável encostando no dito rolo (14) e afastando do mesmo. Um sistema de medição (18) associado e deslocável com tal mecanismo de retífica (16) está previsto para determinar a posição do dito mecanismo de retífica deslocável (16) em relação com dito rolo (14) e em relação com pelo menos uma linha de referência (20, 22), prevista fora do cilindro (14) e ajustada em paralelo com o eixo geométrico do dito rolo (14), sendo a posição relativa determinada num plano perpendicular para com ditas linhas (20, 22). A retífica feita pelo dito mecanismo de retífica (16) é controlada na base dos valores de medição, obtidos do dito sistema de medição (18).