Sistema de teste e método de testagem do mesmo

  • Número do pedido da patente:
  • PI 0900416-5 A2
  • Data do depósito:
  • 05/02/2009
  • Data da publicação:
  • 02/05/2012
  • Prioridade unionista:
  • País Número Data
    TAIWAN, PROVÍNCIA DA CHINA 097116578 06/05/2008
Inventores:
  • Classificação:
  • G01R 31/02
    Disposi??es para teste das propriedades el?tricas; Disposi??es para localiza??o de defeitos el?tricos; Disposi??es para teste el?trico caracterizados pelo que est? sendo verificado, n?o inclu?da em outro local; / Teste de aparelhos, linhas, ou componentes el?tricos para neles apurar a presen?a de curtos-circuitos, descontinuidades, fugas, ou liga??es defeituosas de linhas;
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SISTEMA DE TESTE E MÉTODO DE TESTAGEM DO MESMO. Sistema de testes e um método de testagem são revelados. O sistema de testes inclui um circuito impresso e um aparato de testagem. O circuito impresso inclui uma pluralidade de condutores e uma pluralidade de suportes de teste dispostos correspondentemente sobre a pluralidade de condutores. A superfície de cada suporte de teste compreende uma estrutura em forma de feijão formada por pasta de solda. O aparato de testagem inclui uma pluralidade de sondas. Cada sonda inclui uma cabeça de sonda e corresponde a cada suporte de teste. O circuito impresso é testado pela pluralidade de sondas em contato com a pluralidade de estruturas em forma de feijão. O diâmetro transversal de cada cabeça de sonda pode ser mais largo do que o diâmetro de cada suporte de teste.

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