Sistema e processo de testes de dispositivos eletrônicos

  • Número do pedido da patente:
  • PI 0703065-7 A2
  • Data do depósito:
  • 26/07/2007
  • Data da publicação:
  • 10/03/2009
Inventores:
  • Classificação:
  • G01R 31/28
    Disposi??es para teste das propriedades el?tricas; Disposi??es para localiza??o de defeitos el?tricos; Disposi??es para teste el?trico caracterizados pelo que est? sendo verificado, n?o inclu?da em outro local; / Teste de circuitos eletr?nicos, p. ex. por meio de um tra?ador de sinais;
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SISTEMA E PROCESSO DE TESTES DE DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS. A presente invenção refere-se a um sistema e processo de testes de dispositivos eletrônicos (1), particularmente para ser utilizado em testes de módulos de tela de cristal líquido (10) de celulares, onde dito sistema (1) é modi.ilar e compreende um módulo fonte (2) de alimentação, um módulo mecânico (4) para acomodação de um dispositivo de teste (10), um módulo de interface homem-máquina (5) de entrada de dados e acionamento do sistema (1), e um módulo de instrumentação e controle (3) responsável pela conexão entre todos os módulos (2, 3, 4, 5).