Método para analisar material em partículas.

Número do pedido da patente:
PI 0205186-9 A2

Data do depósito:
13/12/2002

Data da publicação:
29/06/2004

Prioridade unionista:

País	Número	Data
ESTADOS UNIDOS	10/013,864	13/12/2001

Inventores:

Steven M. Malachowski

Vincenzo G. Marcello

Classificação:
G01N 15/06

Investiga??o das caracter?sticas das part?culas; Investiga??o da permeabilidade, do volume dos poros, ou da ?rea superficial de materiais porosos; / Investiga??o da concentra??o de suspens?es de part?culas;

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Nome do depositante:
Xerox Corporation

Nome do procurador:
Dannemann, Siemsen, Bigler & Ipanema Moreira

"SISTEMA E PROCESSOS PARA ANÁLISE DE MATERIAL EM PARTÍCULAS". Um sistema para analisar partículas, que compreende: uma fonte de partículas sólidas; um aparelho amostrador fixado a uma fonte de partículas sólidas, e solidário à mesma, cujo aparelho está adaptado para possibilitar a remoção de pequenas quantidades de material de amostra a partir da fonte; uma célula de sonicação ligada ao aparelho de amostragem, cuja célula de sonicação recebe, opcionalmente condiciona, e sonica as pequenas quantidades de material de amostra; um aparelho de análise de amostra ligado à célula de sonicação, cujo aparelho de análise de amostra está adaptado para receber, opcionalmente condicionar mais ainda, e analisar a amostra sonicada resultante recebida da célula de sonicação; e uma bomba de líquido e linhas condutoras de líquido adaptadas para: retirar alíquotas a partir da fonte; conduzir uma alíquota retirada para a célula de sonicação e para o aparelho de análise de amostra; e arrastar por jato de água o sistema, para se livrar de contaminação de alíquotas residuais.