Montagem, dispositivo e bloco de multi-válvula

  • Número do pedido da patente:
  • PI 9914591-0 A2
  • Data do depósito:
  • 14/10/1999
  • Data da publicação:
  • 10/07/2001
  • Prioridade unionista:
  • País Número Data
    ESTADOS UNIDOS ESTADOS UNIDOS 09/174131 16/10/1998
Inventores:
  • Classificação:
  • F16K 11/02
    V?lvulas de vias m?ltiplas, p. ex. v?lvulas misturadoras; Acessórios para tubos incorporando essas v?lvulas; Disposi??o das v?lvulas e linhas de fluxo especialmente adaptadas para misturar fluidos; / com todas as superf?cies de veda??o deslocando como um todo;
    ;
  • Início da fase nacional:
  • 16/04/2001
  • PCT:
  • Número: US9923878 Data:14/10/1999
  • WO:
  • Número: 00/23734 Data: 27/04/2000

"MONTAGEM, DISPOSITIVO E BLOCO DE MULTI-VÁLVULA" Um cromatógrafo de gás (600) com válvulas múltiplas (635, 655) é exposto. Uma concretização do cromatógrafo de gás de multi-válvula inclui válvulas múltiplas, múltiplos detectores de condutividade térmica (TCD), e um distribuidor. Isto permite separação e medição de uma amostra de gás em uma unidade integrada compacta. A unidade é particularmente desejável porque os solenóides associados com as válvulas são diretamente presos à parte de baixo do distribuidor, assim eliminando a necessidade de tubulação entre os solenóides e as válvulas. Outras características também podem estar presentes. Por exemplo, um bloco de multi-válvula livre de vazamento pode incluir uma primeira zona de temperatura aquecendo as válvulas e detectores e uma segunda zona de temperatura aquecendo as colunas. A característica livre de vazamento pode ser alcançada por colocação de parafusos de aperto pelo centro de cada válvula. Áreas de inserção de gás portador podem ser providas no bloco de multi-válvula para melhorar desempenho. Separação melhorada das zonas de temperatura conduzindo a ganhos adicionais em desempenho pode ser alcançada por uso de ambos um isolador térmico e uma folga. Ademais, os sensores de temperatura colocados na primeira zona de temperatura podem ser idealmente localizados para minimizar erro de medição, resultando ainda em ganhos de desempenho adicionais.

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