Processo e mecanismo para o rastreio de aresta e exame de arestas
- Número do pedido da patente:
- PI 9704120-3 A2
- Data do depósito:
- 29/07/1997
- Data da publicação:
- 18/05/1999
- Prioridade unionista:
-
País Número Data
SUIÇA
1882/96 29/07/1996
- Classificação:
-
B23K 26/02;Opera??o por feixe de raio laser, p. ex. soldagem, corte, perfura??o; / Posicionamento ou observa??o da pe?a a usinar, p. ex. relativamente ao ponto de impacto; Alinhamento, mira ou focaliza??o do feixe de raios laser;
- Nome do depositante:
- Elpatronic Ag
- Nome do procurador:
- Dannemann, Siemsen, Bigler & Ipanema Moreira
patente de Invenção: . ''PROCESSO E MECANISMO PARA O RASTREITO DE ARESTA E EXAME DE ARESTAS".. Para o rastreio e o exame de uma aresta (13) entre duas chapas (6,7) a serem moldadas, um padrão de linhas (5) é projetado, por um projetor (2), sobre a aresta (13) e é fotografado por uma câmera (3). A foto tirada é analisada, para que do traçado de linhas se chegue a conclusões sobre a fenda entre as chapas ou sobre o traçadode aresta. De acordo com a invenção, várias linhas são projetadas, as quais apresentam diversas intensidades luminosas. Isto permite, durante o processamento da foto tirada, mesmo com comportamento mutável de reflexão das chapas, escolher uma linha que, na foto, não está representada demasiadamente fraca e nem ofuscantemente e que, por conseguinte, pode ser usada para uma avaliação significativa.
Confirma a exclusão?