Sistema de inspeção do tipo sem contato.

  • Número do pedido da patente:
  • PI 9702250-0 A2
  • Data do depósito:
  • 01/05/1997
  • Data da publicação:
  • 17/02/1999
  • Prioridade unionista:
  • País Número Data
    JAPÃO JAPÃO 8-111757 02/05/1996
Inventores:
  • Classificação:
  • G01N 21/90
    Investiga??o ou an?lise de materiais pelo uso de meios ?pticos, i.e. usando raios infravermelhos, vis?veis ou ultravioletas; / Sistemas especialmente adaptados para aplica??es especiais; / Investiga??o da presen?a de falhas, defeitos ou contamina??o; / num recipiente ou o seu conte?do;
    ;
    G01N 1/00
    Amostragem; Preparação de esp?cimes para investiga??o;
    ;
  • Início da fase nacional:
  • 23/12/1997
  • PCT:
  • Número: JP9701499 Data:01/05/1997
  • WO:
  • Número: 97/42480 Data: 13/11/1997

. "SISTEMA DE INSPEÇÃO DO TIPO SEM CONTATO". , compreendendo um sistema de inspeção do tipo sem contato para inspeção de amostras de teste sendo transportadas, usando um dispositivo de inspeção do tipo sem contato, para avaliar a qualidade das amostras de teste automaticamente. O sistema de inspeção do tipo sem contato compreende uma mesa giratória anular que é girada para transportar amostras de teste, uma mesa de montagem do dispositivo de inspeção dispostas dentro e fora da mesa giratória, e tendo uma câmara CCD e similares como um dispositivo de inspeção do tipo sem contato para inspeção das amostras de teste sendo montado na mesa de montagem do dispositivo de inspeção, um cabeçote giratório que é suportado acima da mesa giratória e giratório sobre o centro de rotação da mesa giratória para reter as porções superiores das amostras de teste sendo transportadas pela mesa giratória, e um mecanismo de intertravamento para girar o cabeçote giratório em sincronia com a mesa giratória. Com esta construção, a capacidade de inspeção do dispositivo de inspeção do tipo sem contato pode ser obtida em uma extensão do tipo sem contato pode ser obtida em uma extensão satisfatória, o layout do dispositivo de inspeção pode ser projetado livremente, e a inspeção das amostras de teste pelo dispositivo de inspeção pode ser executada com uma alta precisão e numa faixa ampla.