Processo para testar conjunto de circuitos eletrônicos e circuito integrado

Número do pedido da patente:
PI 9300579-2 A2

Data do depósito:
15/02/1993

Data da publicação:
24/08/1993

Prioridade unionista:

País	Número	Data
ORGANIZAÇÃO EUROPÉIA DE PATENTES	92200455.1	18/02/1992

Inventores:

Cornelis Hermanus Van Berkel

Maria Elizabeth Roncken

Ronald Wilhelm Johan Jozef Saeijs

Classificação:
G01R 31/28

Disposi??es para teste das propriedades el?tricas; Disposi??es para localiza??o de defeitos el?tricos; Disposi??es para teste el?trico caracterizados pelo que est? sendo verificado, n?o inclu?da em outro local; / Teste de circuitos eletr?nicos, p. ex. por meio de um tra?ador de sinais;

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Nome do depositante:
Philips Electronics N.V

Nome do procurador:
Momsen, Leonardos & Cia

A invençào propõe um processo de teste e arranjo associado para conjuntos de circuitos eletrônicos que combina componentes funcionais que são interconectados por meio de canais de aperto de mão. Diversos canais deste tipo são agora, providos com uma junção de entrada e uma chave de saída, como um par de componentes de teste. A junção possui duas portas passivas e uma porta ativa. A chave possui uma porta passiva e duas portas ativas que são selecionadas através de uma porta de controle passiva. Desta maneira, a entrada e a saída de um canal se torna possível. Agora, a entrada é feita em um primeiro canal, a saída em um segundo canal, de modo tal que todos os componentes que se encontram entre a primeira junção do canal e a segunda chave do canal são testados.