Lucas Barroso Spejo

Técnico em eletrônica pelo Instituto Federal de São Paulo (2012), engenheiro eletricista pela Universidade Estadual de Campinas (2017) e mestre em engenharia elétrica pela Universidade Estadual de Campinas (2020). Possui experiência em processos de nanofabricação e microeletrônica com materiais semicondutores.

Informações coletadas do Lattes em 16/05/2026

Acadêmico

Formação acadêmica

Mestrado em Engenharia Elétrica

2018 - 2020

Universidade Estadual de Campinas
Título: Stress characterization of strained silicon nanostructures by Raman spectroscopy, Ano de Obtenção: 2020
José Alexandre Diniz.Coorientador: Marcos Vinicius Puydinger dos Santos. Bolsista do(a): Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo, FAPESP, Brasil. Grande área: EngenhariasGrande Área: Engenharias / Área: Engenharia Elétrica / Subárea: Microeletrônica.

Graduação em Engenharia Elétrica

2013 - 2017

Universidade Estadual de Campinas

Curso técnico/profissionalizante

2009 - 2012

Instituto Federal de São Paulo

Ensino Médio (2º grau)

2009 - 2012

Instituto Federal de São Paulo

Idiomas

Inglês

Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.

Áreas de atuação

Grande área: Engenharias / Área: Engenharia Elétrica / Subárea: Microeletrônica.

Grande área: Engenharias / Área: Engenharia Elétrica / Subárea: Nanofabricaçâo.

Grande área: Engenharias / Área: Engenharia Elétrica / Subárea: Circuitos Elétricos, Magnéticos e Eletrônicos/Especialidade: Circuitos Eletrônicos.

Organização de eventos

SWART, J. ; DINIZ, J. A. ; SPEJO, L. B. ; PETRINI, P. A. ; STUCCHI-ZUCCHI, L. ; COSTA, L. H. ; SILVA, A. V. . XIV Workshop on Semiconductors and Micro & Nano Technology. 2019. (Congresso).

Participação em eventos

IEDM - International Electron Devices Meeting 2019. 2019. (Congresso).

Nanotoday Conference. Triaxial Strain Analysis of Strained Silicon Nanowires by Raman Spectroscopy and Finite Element Method Simulation. 2019. (Congresso).

Workshop de Espectroscopia Raman: Conceitos e Aplicações.Caracterização da Tensão Mecânica em Nanoestruturas utilizando Espectroscopia Raman. 2019. (Oficina).

XIV Workshop on Semiconductors and Micro and Nano Technology. 2019. (Congresso).

XIII Workshop on Semiconductors and Micro and Nano Technology. Strained Silicon Nanowires without External Mechanical Actuators. 2018. (Congresso).

Seminatec 2017 - XII Workshop on semiconductions and micro & nano technology. Microfabrication, Strain Characterization by Raman Spectroscopy and FEM Simulation of Suspended Strained Silicon Micro-bridges. 2017. (Congresso).

XXIV - Congresso de Iniciação Científica da Unicamp. Fabricação e caracterização de estruturas semicondutoras tensionadas através da técnica de espectroscopia Raman.. 2016. (Congresso).

2 Congresso de Iniciação Científica e Tecnológica do IFSP. Implementação direta de algoritmos genéticos em circuitos digitais programáveis (FPGA). 2011. (Congresso).

3 Workshop de Negócios e Inovação Tecnológica. 2011. (Outra).

Produções bibliográficas

SPEJO, L. B. ; ARRIETA-CONCHA, J. L. ; PUYDINGER DOS SANTOS, M. V. ; BARROS, A. D. ; BOURDELLE, K. K. ; DINIZ, J. A. ; MINAMISAWA, R. A. . Non-linear Raman shift-stress behavior in top-down fabricated highly strained silicon nanowires. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS , v. 128, p. 045704, 2020.
SPEJO, L. B. ; Petrini, P ; Zucchi, L ; Costa, L . ED UNICAMP Student Chapter Organizes SEMINATEC 2019. IEEE EDS Newsletter, p. 23 - 24, 01 jul. 2019.
SPEJO, L. B. ; ARRIETA, J. L. ; MINAMISAWA, R. ; DINIZ, J. A. . Strained Silicon Nanowires without External Mechanical Actuators. In: Seminatec 2018, 2018, São Bernardo do Campo. XIII Workshop on Semiconductors and Micro & Nano Technology, 2018. p. 49-50.
ARRIETA, J. L. ; SPEJO, L. B. ; DENARDI DE BARROS, ANGÉLICA ; ORIO, R. L. ; ALEXANDRE DINIZ, JOSE . Microfabrication, Strain Characterization by Raman Spectroscopy and FEM Simulation of Suspended Strained Silicon Micro-bridges. In: Seminatec 2017 - XII Workshop on semiconductors and micro & nano technology, 2017, São Paulo. Seminatec 2017 - XII Workshop on semiconductors and micro & nano technology, 2017.
SPEJO, L. B. ; ARRIETA, J. L. ; SANTOS, M. V. P. ; MINAMISAWA, R. ; DINIZ, J. A. . Triaxial Strain Analysis of Strained Silicon Nanowires by Raman Spectroscopy and Finite Element Method Simulation. In: 6th Nanotoday Conference, 2019, Lisboa. The 6th Nanotoday conference, 2019.
SPEJO, L. B. ; ARRIETA, J. L. ; DENARDI DE BARROS, ANGÉLICA ; MINAMISAWA, R. ; VAZ. A. ; DOI, I. ; MANERA, L. ; ALEXANDRE DINIZ, JOSE . Structural Breakdown of Suspended Strained Silicon NanoWires by Exposure during Scanning Electron Microscopy Analysis. In: The 61nd International Conference on ELECTRON, ION, AND PHOTON BEAM TECHNOLOGY AND NANOFABRICATION, 2017, Orlando. The 61nd International Conference on ELECTRON, ION, AND PHOTON BEAM TECHNOLOGY AND NANOFABRICATION, 2017.
BARROSO SPEJO, LUCAS ; DENARDI DE BARROS, ANGÉLICA . Fabricação e caracterização de estruturas semicondutoras tensionadas através da técnica de espectroscopia Raman.. In: XXIV Congresso de Iniciação Científica da UNICAMP 2016, 2016, 2016.

Outras produções

Swart, J ; DINIZ, J. A. ; SPEJO, L. B. ; PETRINI, P. A. ; STUCCHI-ZUCCHI, L. ; COSTA, L. H. ; SILVA, A. V. . Workshop Proceedings of the XIV Workshop on Semiconductors and Micro & Nano Technology. 2019. (Editoração/Anais).

Prêmios

2019

Region 9 Chapter of the Year Award, IEEE Electron Devices Society.

Histórico profissional

Experiência profissional

2010 - 2010

Instituto Federal de São Paulo

Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Iniciação científica júnior

Outras informações:
Título: Implementação direta de algoritmos genéticos em circuitos digitais programáveis (FPGA). Bolsista do Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico. Orientador: Miguel Angelo de Abreu de Sousa.

2018 - 2020

Universidade Estadual de Campinas

Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Mestrado, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.

2015 - 2017

Universidade Estadual de Campinas

Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Iniciação Científica, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Título: Caracterização de estruturas semicondutoras tensionadas através da técnica de espectroscopia Raman . Orientador: José Alexandre Diniz. Projeto financiado pela Fapesp.

2020 - Atual

Fachhochschule Nordwestschweiz

Vínculo: Celetista, Enquadramento Funcional: Research scientist, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.