Rafael Galhardo Vaz

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Produções bibliográficas

• MENDONÇA, EDUARDO GOMES ; CAVALCANTE, TASSIO CORTÊS ; VAZ, RAFAEL GALHARDO ; PEREIRA JUNIOR, EVALDO CARLOS FONSECA ; GONÇALEZ, ODAIR LELIS . Experimental method for determining the supply current of a PMOS power transistor for use as a RADFET dosimeter. BRAZILIAN JOURNAL OF RADIATION SCIENCES , v. 11, p. 01-12, 2023.

• ALBERTON, S G ; BÔAS, A C V ; MEDINA, N H ; GUAZZELLI, M A ; AGUIAR, V A P ; ADDED, N ; FEDERICO, C A ; GONÇALEZ, O L ; CAVALCANTE, T C ; PEREIRA JUNIOR, E C F ; VAZ, R G . Neutron-Induced Radiation Effects in UMOS Transistor. JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SERIES (PRINT) , v. 2340, p. 012046, 2022.

• BENEVENUTI, FABIO ; GONÇALVES, MARCIO M. ; PEREIRA, EVALDO CARLOS F. ; VAZ, RAFAEL G. ; GONÇALEZ, ODAIR L. ; BASTOS, RODRIGO POSSAMAI ; LETICHE, MANON ; KASTENSMIDT, FERNANDA L. ; AZAMBUJA, JOSÉ RODRIGO . Investigating the reliability impacts of neutron-induced soft errors in aerial image classification CNNs implemented in a softcore SRAM-based FPGA GPU. MICROELECTRONICS RELIABILITY , v. 138, p. 114738, 2022.

• VILAS BÔAS, ALEXIS CRISTIANO ; GABRIEL ALBERTON, SAULO ; MEDINA, NILBERTO ; ÂNGELO PAULINO, VITOR ; ASSIS MELO, MARCO ANTONIO ; BAGINSKI SANTOS, ROBERTO ; GIACOMINI, RENATO ; CAVALCANTE, TÁSSIO ; GALHARDO VAZ, RAFAEL ; JUNIOR, EVALDO ; SEIXAS, LUIS ; FINCO, SAULO ; GUAZZELLI, MARCILEI . Reliability analysis of gamma- and X-ray TID effects, on a commercial AlGaN/GaN based FET. JICS. JOURNAL OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS (ED. PORTUGUÊS) , v. 16, p. 1-7, 2021.

• GONZÁLEZ, CARLOS J. ; COSTA, BRUNO L. ; MACHADO, DIEGO N. ; VAZ, RAFAEL G. ; BÔAS, ALEXIS C. VILAS ; GONÇALEZ, ODAIR L. ; PUCHNER, HELMUT ; KASTENSMIDT, FERNANDA L. ; MEDINA, NILBERTO H. ; GUAZZELLI, MARCILEI A. ; BALEN, TIAGO R. . Failure Mechanism and Sampling Frequency Dependency on TID Response of SAR ADCs. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS , v. 37, p. 329-343, 2021.

• GONZALEZ, CARLOS J ; MACHADO, DIEGO ; Vaz, Rafael G ; VILAS BÔAS, ALEXIS C ; GONÇALEZ, ODAIR L ; PUCHNER, HELMUT ; ADDED, NEMITALA ; MACCHIONE, EDUARDO L. A. ; AGUIAR, VITOR A. P ; KASTENSMIDT, FERNANDA L. ; MEDINA, NILBERTO H. ; GUAZZELLI, MARCILEI A. ; BALEN, TIAGO R. . Testing a Fault Tolerant Mixed-Signal Design Under TID and Heavy Ions. JICS. JOURNAL OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS (ED. PORTUGUÊS) , v. 16, p. 1-11, 2021.

• SEIXAS, LUÍS EDUARDO ; GONÇALEZ, ODAIR LELLIS ; VAZ, RAFAEL GALHARDO ; DA COSTA TELLES, ANTONIO CARLOS ; FINCO, SAULO ; GIMENEZ, SALVADOR PINILLOS . Minimizing the TID effects due to gamma rays by using diamond layout for MOSFETs. JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS , v. 30, p. 4339-4351, 2019.

• GONZALEZ, CARLOS JULIO ; VAZ, RAFAEL G. ; OLIVEIRA, MATHEUS B. ; LEORATO, VICENTE W. ; GONCALEZ, ODAIR L. ; BALEN, TIAGO R. . TID Effects on a Data Acquisition System With Design Diversity Redundancy. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 65, p. 583-590, 2018.

• SEIXAS, L. E. ; GONCALEZ, O. L. ; SOUZA, R. ; FINCO, S. ; Vaz, R. G. ; DA SILVA, G. A. ; GIMENEZ, S. P. . Improving MOSFETs? TID Tolerance through Diamond Layout Style. IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY , v. 65, p. 1-1, 2017.

• 2017 GONCALEZ, O. L. ; SOUZA, R. ; FINCO, S. ; VAZ, R. G. ; DA SILVA, G. A. ; GIMENEZ, S. P. . Improving MOSFETs? TID Tolerance through Diamond Layout Style. IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY , v. 65, p. 1-1, 2017.

• 2017 GONCALEZ, O. L. ; SOUZA, R. ; FINCO, S. ; VAZ, R. G. ; DA SILVA, G. A. ; GIMENEZ, S. P. . Improving MOSFETs? TID Tolerance through Diamond Layout Style. IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY , v. 65, p. 1-1, 2017.

• BALEN, TIAGO R. ; VAZ, RAFAEL G. ; FERNANDES, GUSTAVO S. ; GONCALEZ, ODAIR L. . Influence of Alternate Biasing on TID Effects of Irradiated Mixed-Signal Programmable Arrays. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 63, p. 2390-2398, 2016.

• E. C. F. Pereira Jr. ; Odair Lelis Gonçalez ; VAZ, R. G. ; Wirth, G. I. ; PEREIRA, M. A. . Efeito da radiação ionizante em memorias SRAM e Flash. Atividades de Pesquisa e Desenvolvimento (Instituto de Estudos Avançados) , v. 5, p. 90-90, 2012.

• KASTENSMIDT, F. G. L. ; E. C. F. Pereira Jr. ; TARRILLO, J. ; VAZ, R. G. ; Odair Lelis Gonçalez . Estudo dos efeitos de dose total de radiação ionizante em FPGA. Atividades de Pesquisa e Desenvolvimento (Instituto de Estudos Avançados) , v. 5, p. 99-99, 2012.

• VAZ, R. G. ; SOUZA, D. A. ; Odair Lelis Gonçalez . Medida dos Efeitos da radiação ionizante no desempenho do conversor de tensão DC/DC LM2696 com cargas variáveis. Atividades de Pesquisa e Desenvolvimento (Instituto de Estudos Avançados) , v. 5, p. 113-113, 2012.

• VAZ, R. G. ; Odair Lelis Gonçalez . Uma Plataforma de testes dos efeitos da radiação ionizante em diodos e transistores NPN e PNP. Atividades de Pesquisa e Desenvolvimento (Instituto de Estudos Avançados) , v. 5, p. 131-131, 2012.

• PRADO, A. C. M. ; Claudio A Federico ; VAZ, R. G. ; Odair Lelis Gonçalez . Montagem e testes do protótipo de um monitor de Nêutrons de radiação cósmica no solo. Anais do Simpósio de Ciência e Tecnologia do Instituto de Estudos Avançados , v. 1, p. 54-59, 2012.

• Odair Lelis Gonçalez ; VAZ, R. G. ; E. C. F. Pereira Jr. ; PEREIRA, M. A. ; Wirth, G. I. ; KASTENSMIDT, F. G. L. ; T. R. Balen ; TARRILLO, J. . Qualification of Electronic Components with Respect to the Cosmic Radiation Tolerance for Space Applications. Anais Werice Aeroespacial , v. 1, p. 51-56, 2012.

• BOTH, T. H. ; WIRTH, G. I. ; PEREIRA JUNIOR, E. C. F. ; GONCALEZ, O. L. ; VAZ, R. G. ; PEREIRA, M. A. ; MILAGRES, D. C. . Analysis of Total Ionizing Dose Effects on a Pseudo-Static Random Access Memory (PSRAM). ECS Transactions , v. 49, p. 69-76, 2012.

• T. R. Balen ; VAZ, R. G. ; Odair Lelis Gonçalez ; LUBASZEWSKI, M. S. . Efeito da radiação ionizante em um Field Programmable Analog Array (FPAA). Atividades de Pesquisa e Desenvolvimento (Instituto de Estudos Avançados) , v. 5, p. 91-91, 2012.

• BALEN, T. R. ; VAZ, R. G. ; CARDOSO, G. S. ; Odair Lelis Gonçalez ; LUBASZEWSKI, M. S. . TID in a Switched-Capacitor FPAA: Degradation and Partial Inactivity Windows Due to Compensating Effects in MOS Transistors. IEEE Transactions on Nuclear Science , v. 58, p. 2883-2889, 2011.

• TARRILLO, J. ; AZAMBUJA, J. R. ; KASTENSMIDT, F. G. L. ; E. C. F. Pereira Jr. ; VAZ, R. G. ; Odair Lelis Gonçalez . Analyzing the Effects of TID in an Embedded System Running in a Flash-Based FPGA. IEEE Transactions on Nuclear Science , v. 58, p. 2855-2862, 2011.

• KASTENSMIDT, F. G. L. ; PEREIRA JUNIOR, E. C. F. ; VAZ, R. G. ; GONÇALEZ, O. L. ; Chipana, R. ; WIRTH, G. I. . TID in Flash-Based FPGA: Power Supply-Current Rise and Logic Function Mapping Effects in Propagation-Delay Degradation. IEEE Transactions on Nuclear Science , v. 58, p. 1927-1934, 2011.

• ALBERTON, SAULO G. ; BÔAS, ALEXIS C. V. ; MEDINA, NILBERTO H. ; GUAZZELLI, MARCILEI A. ; AGUIAR, VITOR A. P. ; ADDED, NEMITALA ; FEDERICO, CLAUDIO A. ; GONÇALEZ, ODAIR L. ; CAVALCANTE, TÁSSIO C. ; PEREIRA JÚNIOR, EVALDO C. F. ; VAZ, RAFAEL G. . Alpha Particle- and Neutron-Induced Single-Event Effects in COTS Power FETS. In: 2022 22nd European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2022, Venice. 2022 22nd European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2022. p. 1.

• GONÇALEZ, ODAIR LELIS ; PEREIRA JUNIOR, EVALDO CARLOS FONSECA ; VAZ, RAFAEL GALHARDO ; PEREIRA, MARLON ANTONIO ; WIRTH, GILSON INÁCIO ; BOTH, THIAGO HANNA . Measurements of radiation effects on a 4 Mb PSRAM memory. In: XXXVI BRAZILIAN WORKSHOP ON NUCLEAR PHYSICS, 2014, São Sebastião. org.crossref.xschema._1.Title@760e206a. p. 97.

• BALEN, TIAGO R. ; VAZ, RAFAEL G. ; FERNANDES, GUSTAVO S. ; MACHADO, EDERSON R. ; GONCALEZ, ODAIR L. . Alternate Biasing Modular Redundancy: An alternative tolerance technique to cope with TID effects. In: 2014 19th International MixedSignals, Sensors and Systems Test Workshop (IMS3TW), 2014, Porto Alegre. 19th Annual International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop Proceedings, 2014. p. 1.

• TAMBARA, LUCAS A. ; TONFAT, JORGE L. ; REIS, RICARDO ; KASTENSMIDT, FERNANDA L. ; PEREIRA, EVALDO C. F. ; VAZ, RAFAEL G. ; GONCALEZ, ODAIR L. . Soft error rate in SRAM-based FPGAs under neutron-induced and TID effects. In: 2014 15th Latin American Test Workshop LATW, 2014, Fortaleza. 2014 15th Latin American Test Workshop - LATW, 2014. p. 1.

• GONC'ALEZ, ODAIR LELIS ; FEDERICO, CLAUDIO ANTONIO ; PRADO, ADRIANE CRISTINA MENDES ; VAZ, RAFAEL GALHARDO ; PAZZIANOTTO, MAURICIO TIZZIANI ; SEMMLER, RENATO . The prototype of a detector for monitoring the cosmic radiation neutron flux on ground. In: XXXV BRAZILIAN WORKSHOP ON NUCLEAR PHYSICS, 2013, Sao Sebastiao. v. 1529. p. 89-91.

• VAZ, R. G. ; GONCALEZ, O. L. ; Wirth, G. I. . A Platform for TID testing of Diodes and Transistors. In: International Nuclear Atlantic Conference - INAC 2013, 2013, Recife. International Nuclear Atlantic Conference, 2013. v. 1.

• E. C. F. Pereira Jr. ; VAZ, R. G. ; GONCALEZ, O. L. ; FEDERICO, C. A. . The SEU cross Section of 4Mb SRAM memory for the 241Am-Be neutron Spectrum. In: V WORKSHOP SOBRE OS EFEITOS DAS RADIAÇÕES IONIZANTES EM COMPONENTES ELETRÔNICOS E FOTÔNICOS DE USO AEROESPACIAL, 2013, São José dos Campso. Anais Werice Aeroespacial, 2013. v. 1. p. 32-34.

• TAMBARA, L. A. ; TONFAT, J. L. ; E. C. F. Pereira Jr. ; VAZ, R. G. ; GONCALEZ, O. L. ; KASTENSMIDT, F. G. L. . Neutron-induced Single Event Effects in a SRAM based FPGA by Using 241Am-Be Source at IEAv. In: V WORKSHOP SOBRE OS EFEITOS DAS RADIAÇÕES IONIZANTES EM COMPONENTES ELETRÔNICOS E FOTÔNICOS DE USO AEROESPACIAL, 2013, São José dos Campos. Anais Werice Aeroespacial, 2013. v. 1. p. 50-54.

• CARDOSO, G. S. ; BALEN, T. R. ; LUBASZEWSKI, M. S. ; VAZ, R. G. ; Odair Lelis Gonçalez . Impact of TID-induced threshold deviations in analog building-blocks of operational amplifiers. In: 13th Latin American Test Workshop (LATW 2012), 2012, Quito. Impact of TID-induced threshold deviations in analog building-blocks of operational amplifiers, 2012. v. 1. p. 1-6.

• Peterson Ribeiro Agostinho ; SOUZA, D. A. ; Odair Lelis Gonçalez ; VAZ, R. G. ; Osamu Saotome . Efeitos de TID em Parâmetros de Amplificador Operacional CMOS. In: XII SIGE, 2010, São José dos campos. XII Simpósio de Aplicações Operacionais em Áreas de Defesa, 2010. p. 94-98.

• SOUZA, D. A. ; VAZ, R. G. ; Odair Lelis Gonçalez ; Osamu Saotome . Estudo dos efeitos da radiação ionizante no conversor de tensão DC/DC LM2596. In: X Workshop anual de pesquisa e desenvilvimento do IEAv, 2010, São José dos Campos. Atividades de pesquisa e desenvolvimento - Insituto de Estudos Avançados - IEAv, 2010. v. 3. p. 54-54.

• G.S. Ferreira ; VAZ, R. G. ; Odair Lelis Gonçalez . Instrumentação e Automação de Experimentos dedicados ao Estudo do Efeito da Radiação Ionizante em Componentes Eletrônicos e Fotônicos de uso Aeroespacial. In: IV Seminário de Iniciação Cientifica e Pós Graduação do IEAv, 2010, São José dos campos. Anais do Seminário de Iniciação Cientifica e Pós Graduação do IEAv, 2010. v. 1. p. 53-53.

• SOUZA, D. A. ; VAZ, R. G. ; Odair Lelis Gonçalez ; Osamu Saotome . Estudo dos efeitos da radiação ionizante no conversor de tensão DC/DC LM2596. In: IX Workshop anual de pesquisa e desenvolvimento do IEAv, 2009, São José dos Campos. Atividades de pesquisa e desenvolvimento - Insituto de Estudos Avançados - IEAv, 2009. p. 78-78.

• VAZ, R. G. ; Odair Lelis Gonçalez ; Osamu Saotome . Medida dos Efeitos da Radiação Ionizante em uma Fibra Óptica utilizada em Transmissão de Dados. In: IX Workshop anual de pesquisa e desenvolvimento do IEAv, 2009, São José dos campos. Atividades de pesquisa e desenvolvimento - Insituto de Estudos Avançados - IEAv, 2009. v. 2. p. 86-86.

• Peterson Ribeiro Agostinho ; SOUZA, D. A. ; VAZ, R. G. ; Odair Lelis Gonçalez ; Osamu Saotome . Analise dos Efeitos de Irradiação Ionizante em Amplificadores Operacionais. In: IX Workshop anual de pesquisa e desenvolvimento do IEAv, 2009, São José dos campos. Atividades de pesquisa e desenvolvimento - Insituto de Estudos Avançados - IEAv, 2009. p. 84-84.

• Fernanda Gusmão de Lima Kastensmidt ; E. C. F. Pereira Jr. ; VAZ, R. G. ; Odair Lelis Gonçalez ; Chipana, R. ; Wirth, G. I. . TID in Flash-based FPGA: Power Supplycurrent Rise and Logic Function Mapping Effects in Propagation-delay Degradation. IEEE Transactions on Nuclear Science , 2011.

• Odair Lelis Gonçalez ; VAZ, R. G. ; T. R. Balen . TID Facilities & Remote TID Testing. 2010. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).

Outras produções

Projetos de pesquisa

• 2021 - Atual

  EFEITOS NOCIVOS DA RADIAÇÃO IONIZANTE EM TRIPULAÇÕES, SISTEMAS AEROESPACIAIS E DEFESA - ERISA-D, Descrição: O Projeto ERISA-D visa consolidar e aperfeiçoar a infraestrutura e competências para prover proteção e mitigação contra os efeitos das radiações ionizantes sobre sistemas eletrônicos e tripulações, nos ambientes Espacial, Aeronáutico, Nuclear e de Defesa. O projeto possui como objetivos específicos: 1. Adquirir elevado grau de independência estratégica na avaliação e qualificação de circuitos, componentes eletrônicos e materiais quanto ao seu grau de tolerância à radiação ionizante, por meio do aperfeiçoamento de um Laboratório de referência; 2. Implementar uma biblioteca de PI (Propriedade Intelectual) de layouts de circuitos integrados críticos robustos e tolerantes à radiação ionizante; 3. Dominar os processos de simulação computacional e caracterização experimental de ambientes críticos de operação sujeitos à radiação ionizante, tais como os ambientes aeroespaciais e em cenários DQBRN; 4. Desenvolver tecnologias e protocolos de apoio às necessidades operacionais da FAB em ambientes DQBRN e aeroespaciais; 5. Propor metodologias de implantação sistêmica das capacidades e desenvolvimentos alcançados pelo presente projeto, nas operações da FAB.. , Situação: Em andamento; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Mestrado acadêmico: (2) Doutorado: (2) . , Integrantes: Rafael Galhardo Vaz - Integrante / Evaldo Carlos Fonseca Pereira Junior - Integrante / Claudio Antonio Federico - Coordenador / Eduardo Gomes Mendonça - Integrante / Joel Carlos Vieira Reinhardt - Integrante / Antonio César Orozco - Integrante.

• 2013 - 2018

  Projeto CITAR - Circuitos Integrados Tolerantes a Radiação / CNPq, Descrição: Projeto CITAR - Circuitos Integrados Tolerantes a Radiação Referência FINEP: 2109/10 - Projeto CITAR Convênio n 01.12.0224.00 Palavras Chaves: Circuitos Integrados Rad Hard, Radiation Hardening, Radiação Ionizante, Circuitos Digitais e Analógicos, Spacewire, Rad Hard FPGA Resenha Histórica: sua Expectativa de Evolução Componentes eletrônicos robustos à radiação ionizantes são utilizados principalmente em aplicações aeroespacial e são componentes de alto valor agregado, pois possibilitam o desenvolvimento de satélites para diversos fins dentre eles a aquisição de dados de diversas naturezas, comunicações, monitoramento, aplicações militares e outras que impactam em quase todos os segmentos da economia e segurança de uma nação. O projeto de circuitos integrados dedicados, os chamados ASICs, é uma atividade de alto custo de engenharia e os projetos são longos, tipicamente de dois a quatro anos e exigem uma infraestrutura adequada para seu desenvolvimento. O MCTI tem promovido o desenvolvimento desta área principalmente através das ações do Programa CI-Brasil. O Projeto CITAR - Circuitos Integrados Tolerantes a Radiação no Brasil, teve sua motivação na necessidade de estruturar a competência de se realizar projetos de circuitos integrados robustos à radiação ionizante no Brasil, sendo uma das ações decorrentes do Programa CI-Brasil... , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Rafael Galhardo Vaz - Integrante / Silvio Manea - Integrante / GONCALEZ, O. L. - Integrante / Evaldo Carlos Fonseca Pereira Junior - Integrante / Saulo Finco - Coordenador / Luiz Eduardo Seixas - Integrante.

• 2012 - 2023

  Projeto CITAR/FINEP, Descrição: O Projeto CITAR/FINEP é uma iniciativa multi-institucional, que tem como objetivo consolidar no Brasil a competência para o desenvolvimento do ciclo completo de Circuitos Integrados de Aplicação Específica (ASICs) tolerantes à radiação ionizante, destinados a serem utilizados em satélites científicos brasileiros e outras aplicações pacíficas, que sofrem embargo internacional por serem tecnologias sensíveis. As instituições envolvidas no projeto incluem CTI, INPE, AEB, IEAv, IFUSP, FEI e IMT. Cada instituição desempenha um papel específico no projeto, com conhecimentos e capacidades institucionalizados. O CTI é responsável por realizar o projeto de ASICs Rad Hard, utilizando técnicas avançadas de RHBD para circuitos analógicos, digitais e de potência. O INPE é capacitado para especificar, testar e integrar componentes Rad Hard em sistemas espaciais. A AEB, responsável pelas diretrizes do Programa Espacial Brasileiro PEB e formalização de cooperações internacionais.O IEAv é especializado em testes de Dose Total Ionizante (TID), utilizando Co60. O IFUSP é capacitado para realizar testes de Single Effect Event (SEE), com íons pesados. A FEI possui expertise em testes de TID utilizando raios-X. O IMT é especializado em aplicações utilizando a tecnologia SpaceWire, que é um padrão de comunicação para redes de dados em satélites.A colaboração entre as instituições participantes possibilita o compartilhamento de conhecimentos, recursos e experiências, resultando em avanços significativos na área de circuitos integrados para usos estratégicos. Com isso, o país se posiciona de forma soberana e estratégica no cenário espacial, fortalecendo a indústria nacional e impulsionando a pesquisa científica e tecnológica... , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Rafael Galhardo Vaz - Integrante / Peterson Ribeiro Agostinho - Integrante / Silvio Manea - Integrante / Evaldo Carlos Fonseca Pereira Junior - Integrante / Odair Lelis Gonçalez - Integrante / Saulo Finco - Coordenador / Luiz Eduardo Seixas - Integrante.

• 2010 - 2014

  Projeto TESTRAD - Desenvolvimento de plataformas para testes dos efeitos da radiação ionizante em componentes eletrônicos (CNPq/AEB), Descrição: O projeto TESTRAD consiste na formação e fixação de recursos humanos e na transferência de tecnologia de qualificação e testes de tolerãncia à radiação ionizante de componentes eletrõnicos analógicos e digitais para entidades que atuam no setor espacial por meio do desenvolvimento de plataformas de testes de componentes com fontes de radiação ionizante, com a efetiva participação de bolsistas e de colaboradores externos, incluindo colaboradores de empresas fornecedoras de sistemas espaciais para o programa CBERS... , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Graduação: (2) / Mestrado acadêmico: (6) / Doutorado: (2) . , Integrantes: Rafael Galhardo Vaz - Integrante / Odair Lelis Gonçalez - Coordenador / Jonas Rubini Jr - Integrante / Claudio A Federico - Integrante / Wagner Aguiar de Oliveira - Integrante / Angelo Passaro - Integrante / Evaldo Carlos Fonseca Pereira Junior - Integrante / Gilson Inácio Wirth - Integrante / Marlon A. Pereira - Integrante / Fernanda Gusmão de Lima Kastensmidt - Integrante / Adriane C. M. Prado - Integrante / Renato Semmler - Integrante / Evaldo Simôes da Fonseca - Integrante / Heloisa Helena Castilho Pereira - Integrante / Mauricio Tizziani Pazianotto - Integrante / Brett V. Carlson - Integrante / Mariana de Freitas Dewes - Integrante / Raoul Velazco - Integrante / Tiago Roberto Balen - Integrante / Jessica de Freitas Cipeli - Integrante., Financiador(es): Agência Espacial Brasileira - Auxílio financeiro.

• 2007 - 2010

  Avaliação dos efeitos da radiação ionizante em componentes eletrônicos e fotônicos - PEICE, Descrição: O objetivo geral deste projeto é a realização de pesquisa sobre os efeitos da radiação ionizante em componentes e dispositivos eletrônicos e optoeletrônicos, fibras ópticas, circuitos analógicos e digitais, e dispositivos semicondutores nanoestruturados para aplicação aeroespacial e de defesa, promovendo a implantação e operacionalização, no Laboratório de Radiação Ionizante (LRI) do Instituto de Estudos Avançados (IEAv), de uma plataforma (PEICE) para realização de experimentos, testes e ensaios de irradiação destes materiais.... , Situação: Em andamento; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Graduação: (3) / Mestrado acadêmico: (2) / Doutorado: (3) . , Integrantes: Rafael Galhardo Vaz - Integrante / Odair Lelis Gonçalez - Coordenador / Gustavo Soares Vieira - Integrante / Antonio Carlos da Cunha Migliano - Integrante / Jonas Rubini Jr - Integrante / Claudio A Federico - Integrante / Leda Shizue Yanagihara Rigolon - Integrante / Octávio Pereira da Silva Filho - Integrante / Wagner Aguiar de Oliveira - Integrante / Peterson Ribeiro Agostinho - Integrante / Diogo Chadud Milagres - Integrante / Osamu Saotome - Integrante / Fernanda Gusmão de Lima Kastensmidt - Integrante / Angelo Passaro - Integrante., Financiador(es): Financiadora de Estudos e Projetos - Auxílio financeiro.