Davi Anders Brasil
Candidato a doutorado pela TU Ilmenau. Trabalha como assistente científico no IMMS.
Informações coletadas do Lattes em 27/10/2025
Acadêmico
Formação acadêmica
Doutorado em andamento em Engenharia Mecânica
2023 - Atual
Technische Universität Ilmenau, TU Ilmenau
Título: Highly dynamic nanopositioning for probe-based lithography systems
Orientador: Thomas Kissinger
Coorientador: Thomas Fröhlich. Bolsista do(a): Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme, IMMS, Alemanha. Grande área: EngenhariasGrande Área: Engenharias / Área: Engenharia Mecânica / Subárea: Nanoposicionadores. Grande Área: Engenharias / Área: Engenharia Mecânica / Subárea: Metrologia, Técnicas Gerais de Laboratório, Sistema de Instrumentação.
Mestrado em Engenharia Elétrica
2009 - 2023
Universidade Estadual de Campinas
Título: Estudo da influência da pressão atmosférica na calibração de fones audiométricos para determinação de um fator de correção, Ano de Obtenção: 2023
Orientador: Antonio Augusto Fasolo Quevedo
Bolsista do(a): Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior, CAPES, Brasil. Grande área: Engenharias
Graduação em Engenharia Mecatrônica
2003 - 2008
Universidade de Brasília, UnB
Título: Controle de Orientação do Pé de uma Prótese Robótica para Amputados acima do Joelho
Orientador: Geovany Araújo Borges
Formação complementar
2024 - 2024
Avaliador em Acreditação de Lab. de Ensaios - ISO 17025:2017. (Carga horária: 104h). , Sociedade Brasileira de Metrologia, ABMETRO, Brasil.
2024 - 2024
Especialista em Acreditação de Lab. de Ensaios - ISO 17025:2017. (Carga horária: 64h). , Sociedade Brasileira de Metrologia, ABMETRO, Brasil.
2024 - 2024
Avaliador Líder em Acreditação de Lab. de Calib. e Ensaios - ISO 17025:2017. (Carga horária: 96h). , Sociedade Brasileira de Metrologia, ABMETRO, Brasil.
2024 - 2024
Avaliador em Acreditação de Lab. de Calibração- ISO 17025:2017. (Carga horária: 104h). , Sociedade Brasileira de Metrologia, ABMETRO, Brasil.
2024 - 2024
Especialista em Acreditação de Lab. de Calibração - ISO 17025:2017. (Carga horária: 64h). , Sociedade Brasileira de Metrologia, ABMETRO, Brasil.
2012 - 2012
Extensão universitária em Oficina de Microfabricação: CI´s e MOS. (Carga horária: 80h). , Universidade Estadual de Campinas, UNICAMP, Brasil.
2011 - 2011
Programa Nacional de Formação de Projetistas de CI. (Carga horária: 1460h). , Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer, CTI, Brasil.
Idiomas
Inglês
Compreende Bem, Fala Razoavelmente, Lê Bem, Escreve Razoavelmente.
Português
Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.
Áreas de atuação
Grande área: Engenharias / Área: Engenharia Elétrica / Subárea: Fotônica / Nanofotônica.
Grande área: Engenharias / Área: Engenharia Biomédica / Subárea: Engenharia Médica/Especialidade: Tecnologia de Próteses.
Grande área: Engenharias / Área: Engenharia Biomédica.
Grande área: Outros / Área: Robótica, Mecatrônica e Automação.
Participação em eventos
22nd International Metrology Congress (CIM 2025). A virtual metrology frame test setup using fiber interferometer sensors. 2025. (Congresso).
60th Ilmenau Scientific Colloquim. Overview of Current EMPIR Research Projects for the Non-Static Traceability of Mechanical Quantities. 2023. (Congresso).
euspen SIG Meeting: Micro/Nano Manufacturing. Unconventional, lateral measurements with laser focus sensors for nanopositioning stages. 2023. (Congresso).
Orientou
Analysis of the accuracy increase potential of a virtual metrology frame for nanopositioning stages; 2024; Dissertação (Mestrado em Engenharia Automotiva) - Technische Universität Ilmenau, ; Orientador: Davi Anders Brasil;
Produções bibliográficas
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MATUS, M ; PÉREZ, M DEL MAR ; PRIETO, E ; GERMAK, A ; CZU'EK, D ; SOSINOWSKI, P ; DU'', A ; DUGHEANU, E ; ZELENIKA, S ; ÄREMANN, M ; OZGUR, B ; ASAR, M ; GREEFF, P ; MANANA, K ; SUN, S ; BUAJARERN, J ; BRASIL, D A ; GASTALDI, B ; ZECHNER, G . Report on EURAMET supplementary comparison on measurement of a 1 mm stage micrometer. METROLOGIA (ONLINE) , v. 61, p. 04003, 2024.
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BRASIL, D A ; ALVES, J A P ; PEKELSKY, J R . An imaging grating diffractometer for traceable calibration of grating pitch in the range 20 μm to 350 nm. Journal of Physics. Conference Series (Online) , v. 648, p. 012013, 2015.
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BRASIL, D. A. ; HESSE, S. ; KATZSCHMANN, M. ; HERZOG, L. ; FROEHLICH, T. ; KISSINGER, T. . Investigation of distance measurement reproducibility for a long-range nanopositioning machine combined with a laser focus sensor. In: 20th International Conference on Precise Engineering, 2024, Sendai. Investigation of distance measurement reproducibility for a long-range nanopositioning machine combined with a laser focus sensor, 2024.
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SOARES, Z. ; BRASIL, D A ; FONTES, V. . Audiometer: Correction Factor for Atmospheric Pressure. In: Internoise, 2016, Hamburgo. 45th International Congress and Exposition on Noise Control Engineering, 2016.
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BRASIL, D. A. ; ALVES, J. A. P. ; PEKELSKY, J. R. . An Imaging Grating Diffractometer for Traceable Calibration of Grating Pitch in the Range 20 µm to 350 nm. In: 3º Congresso Internacional de Metrologia Mecânica, 2014, Gramado. 3º CIMMEC, 2014.
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BRASIL, D. A. ; KATZSCHMANN, M. ; HESSE, S. ; HERZOG, L. ; KISSINGER, T. ; FROEHLICH, T. . Unconventional, lateral measurements with laser focus sensors for nanopositioning stages. In: euspen SIG Meeting: Micro/Nano Manufacturing, 2023, Ilmenau. SIG : Micro Manufacturing, 2023.
Projetos de pesquisa
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2023 - Atual
Highly dynamic nanopositioning for probe-based lithography systems, Situação: Em andamento; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Davi Anders Brasil - Coordenador.
Histórico profissional
Endereço profissional
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Technische Universität Ilmenau. , Ehrenbergstraße 27, Ilmenau, 98693 - Ilmenau, - Alemanha, Telefone: (3677) 8749364
Experiência profissional
2023 - Atual
Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-SystemeVínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Assistente científico, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.
2012 - Atual
Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e TecnologiaVínculo: Servidor Público, Enquadramento Funcional: Pesquisador-Tecnologista, Carga horária: 40
2012 - 2012
Centro de Tecnologia da Informação Renato ArcherVínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Pesquisador em Fotônica, Carga horária: 40
2008 - 2009
SEAT Sistemas Eletrônicos de Atendimento LtdaVínculo: Celetista formal, Enquadramento Funcional: Engenheiro de Controle e Automação, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.
2008 - 2008
SEAT Sistemas Eletrônicos de Atendimento LtdaVínculo: Estagio, Enquadramento Funcional: Estagiários, Carga horária: 20
2007 - 2007
FIAT AUTOMÓVEIS SAVínculo: Estágio, Enquadramento Funcional: Estagiário, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.
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