Hans Lochbihler

Possui mestrado em Fisica - Technische Universität München (1989) e doutorado em Fisica - Technische Universität München (1993). Atualmente é pesquisador - Papierfabrik Louisenthal GmbH, Alemanha. Tem experiência na área de Física, com ênfase em Ótica, atuando principalmente no seguinte tema: nanoestruturas (subwavelength gratings, random surfaces, nanoparticles, thin films), micro-optica, hologramas, photolitografia e nanofabricação, cores, marcas de seguranca.

Informações coletadas do Lattes em 10/11/2022

Acadêmico

Formação acadêmica

Doutorado em Fisica

1990 - 1993

Technische Universitaet Muenchen
Título: Eine theoretische und experimentelle Studie von hochleitenden Drahtgitter im Resonanzbereich
Orientador: Prof. Joachim Trümper
Palavras-chave: gratings.Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Áreas Clássicas de Fenomenologia e suas Aplicações / Especialidade: Ótica. Grande Área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Matemática / Subárea: Matemática Aplicada / Especialidade: Análise Numérica. Grande Área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Astronomia / Subárea: Instrumentação Astronômica / Especialidade: Astronomia Espacial.

Mestrado em Fisica

1988 - 1989

Technische Universitaet Muenchen
Orientador: Prof. Joachim Trümper
Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Áreas Clássicas de Fenomenologia e suas Aplicações / Especialidade: Ótica. Grande Área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Astronomia / Subárea: Instrumentação Astronômica / Especialidade: Astronomia Espacial.

Pós-doutorado

1993 - 1996

Pós-Doutorado. , Max-Planck-Institut für Extraterrestrische Physik, MPE, Alemanha. , Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Áreas Clássicas de Fenomenologia e suas Aplicações / Especialidade: Ótica. , Grande Área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Astronomia / Subárea: Instrumentação Astronômica / Especialidade: Astronomia Espacial.

Idiomas

Inglês

Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.

Português

Compreende Razoavelmente, Fala Razoavelmente, Lê Bem, Escreve Razoavelmente.

Italiano

Compreende Razoavelmente, Fala Pouco, Lê Razoavelmente, Escreve Pouco.

Alemão

Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.

Áreas de atuação

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Áreas Clássicas de Fenomenologia e suas Aplicações/Especialidade: Ótica.

Grande área: Outros / Área: Microeletrônica / Subárea: Nanotecnologia.

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Ciência da Computação / Subárea: Metodologia e Técnicas da Computação/Especialidade: Banco de Dados.

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Ciência da Computação / Subárea: Matemática da Computação/Especialidade: Modelos Analíticos e de Simulação.

Grande área: Engenharias / Área: Engenharia de Produção / Subárea: Gerência de Produção/Especialidade: Planejamento, Projeto e Controle de Sistemas de Produção.

Grande área: Engenharias / Área: Engenharia Aeroespacial / Subárea: Sistemas Aeroespaciais/Especialidade: Satélites e Outros Dispositivos Aeroespaciais.

Participação em eventos

EOS Conference: Meeting on Optical Microsystems. 2009. (Congresso).

EOS Scientific Annual Meeting. 2008. (Congresso).

J.J. Giambiagi Winter School: From the nano to the macro scale. Characterization of metallic wire-gratings by analyzing optical resonant phenomena. 2007. (Congresso).

16th Congress of the International Commission for Optics. etermination of the wire profile of highly conducting wire gratings using an electromagnetic theory of diffraction. 1993. (Congresso).

Produções bibliográficas

LOCHBIHLER, H. . Enhanced transmission of TE polarized light through wire gratings. Physical Review. B, Condensed Matter and Materials Physics , v. 79, p. 245427-1-245427-8, 2009.
LOCHBIHLER, H. . Colored images generated by metallic sub-wavelength gratings. Optics Express , v. 17, p. 12189-12196, 2009.
Lochbihler, Hans . Surface polaritons on metallic wire gratings studied via power losses. Physical Review. B, Condensed Matter. (Cessou 1997. Cont. 1098-0121 Physical Review. B, Condensed Matter and Materials Physics) , v. 53, p. 10289-10295, 1996.
Polnau, E. ; Lochbihler, Hans . Origin of modulated interference effects in photoelastic modulators. Optical Engineering (Bellingham. Print) , v. 35, p. 3331-3334, 1996.
Lochbihler, Hans . Diffraction from highly conducting lamellar gratings in conical mountings. Journal of Modern Optics , v. 43, p. 1867-1890, 1996.
Lochbihler, Hans ; Rotsch, Christian ; Predehl, Peter . Recognition of damage in polarizing transmission-grating facets. Applied Optics , v. 35, p. 826-831, 1996.
Lochbihler, Hans ; Polnau, Ernst ; Predehl, Peter . Polarimetry of transmission gratings. Applied Optics , v. 34, p. 5725-5731, 1995.
Lochbihler, Hans . Surface polaritons on gold-wire gratings. Physical Review. B, Condensed Matter. (Cessou 1997. Cont. 1098-0121 Physical Review. B, Condensed Matter and Materials Physics) , v. 50, p. 4795-4801, 1994.
LOCHBIHLER, H. . Field enhancement on metallic wire gratings. Optics Communications (Print) , v. 111, p. 417-422, 1994.
Lochbihler, Hans ; PREDEHL, P. ; Tesche, B. . Reconstruction of the profile of gold wire gratings: A comparison of different methods. Optik (Stuttgart) , v. 98, p. 21-25, 1994.
LOCHBIHLER, H. ; Depine, R. A. . Characterization of highly conducting wire gratings using an electromagnetic theory of diffraction. Optics Communications (Print) , v. 100, p. 231-239, 1993.
Lochbihler, Hans ; Depine, Ricardo . Highly conducting wire gratings in the resonance region. Applied Optics , v. 32, p. 3459-3465, 1993.
Lochbihler, Hans ; Depine, Ricardo . Diffraction from Highly Conducting Wire Gratings of Arbitrary Cross-section. Journal of Modern Optics , v. 40, p. 1273-1298, 1993.
PREDEHL, P. ; KRAUS, H. ; Braeuninger, H. W. ; BURKERT, W. ; Kettenring, G. ; LOCHBIHLER, H. . Grating elements for the AXAF low-energy transmission grating spectrometer. Proceedings of SPIE , v. 1743, p. 475, 1992.
Lochbihler, Hans ; Predehl, Peter . Characterization of x-ray transmission gratings. Applied Optics , v. 31, p. 964-971, 1992.
Lochbihler, Hans . Erzeugung von Echtfarbenbildern durch Subwellenlängengittern. Photonik, p. 30 - 32, 01 fev. 2010.
LOCHBIHLER, H. ; Depine, R. A. . Determination of the wire profile of highly conducting wire gratings using an electromagnetic theory of diffraction. In: 16th Congress of the International Commission for Optics, 1993, Budapest. Proc. SPIE, 1993. v. 1983. p. 612-613.
Brinkman, A. C. ; van Baren, C. ; Gunsing, C. J. T. ; Kaastra, J. S. ; Kamperman, T. M. ; van der Meij, Z. N. ; Mewe, R. ; Valkenburg, C. ; Braeuninger, H. W. ; Kettenring, G. ; LOCHBIHLER, H. ; PREDEHL, P. . High resolution X-ray spectroscopy with the low energy transmission grating of AXAF. In: International Conference on X-ray Astronomy and Astrophysics: Röntgenstrahlung from the Universe, 1996. MPE-Report, 1996. v. 263. p. 677-678.

Outras produções

Lochbihler, Hans ; Werner, Frank . Optical sensor. 2009.

Lochbihler, Hans . Sensor device. 2009.

Lochbihler, Hans . SECURITY ELEMENT. 2008.

Lochbihler, Hans . Position detection device. 1995.

Projetos de pesquisa

1990 - 1996

Low-energy transmission grating for the x-ray satellite CHANDRA, Descrição: Manufacturing and assembly of the grating elements into the spectrometer for the space born x-ray observatory CHANDRA of the NASA.. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Mestrado acadêmico: (4) Doutorado: (1) . , Integrantes: Hans Lochbihler - Coordenador., Financiador(es): Bundesministerium für Bildung und Forschung - Auxílio financeiro / National Aeronautics and Space Administration (NASA) - Cooperação.

Prêmios

2000

NASA Group Achievement Award, NASA, EUA.

Histórico profissional

Endereço profissional

Papierfabrik Louisenthal GmbH. , Postfach 1185, 83701 - Gmund, - Alemanha, URL da Homepage:

Experiência profissional

2008 - Atual

Papierfabrik Louisenthal GmbH

Vínculo: Funcionário, Enquadramento Funcional: Pesquisador, coordenador de projetos, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Físico, pesquisa e desenvolvimento, para marcas de segurança óticas. Projeto de nanoestruturas óticos (subwavelength gratings, random surfaces, multilayer structures, nanoparticles), da teoria eletromagnética e da modelagem, da fabricação e da análise de nanoestruturas (photolithography, e-beam writing, direct laser-writing, electron micrography, thin films, high vacuum-, evaporation technology, UV molding, nanoimprint, electro-forming), micro-sistema ótico, hologramas, cores, marcas de segurança óticas.

2001 - 2001

Giesecke & Devrient GmbH

Vínculo: Funcionário, Enquadramento Funcional: Gerente de qualidade no dep de pesquisa, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Gerente de qualidade para o departamento de pesquisa e desenvolvimento de terminais do pagamento eletrônico. Controlo de projetos do qualidade, desenvolvimento e execução da base de dados da qualidade, figuras da qualidade e métodos estatísticos, aplicação da monitoração de equipamento da inspeção.

1998 - 2001

SAP AG

Vínculo: Funcionário, Enquadramento Funcional: Developer, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Especialista da qualidade para o MySAP.COM módulo Cost Management (CO-PC, CO-OM). Integração do módulo e teste de aceitação, encenações transversais do teste da aplicação, base de dados da qualidade, sistema de informação da qualidade, teste-ferramenta de CATT, apoio a o cliente.

1996 - 1998

OHB-Technology AG

Vínculo: Funcionário, Enquadramento Funcional: Engenheiro para sistemas ópticos espaçais, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Coordenador para sistemas ópticos. Sistema-engenharia e conceito de qualidade para o satélite da pesquisa ABRIXAS, análise ótica e conceito da falha para o telescope de raio X, estudo de campo magnético, planta do teste e da integração dos satélites, conceito da limpeza, planeamento e instalação das salas de limpeza, facilidade do vácuo alto, câmara térmica.

1989 - 1996

Max-Planck-Institut für Extraterrestrische Physik

Vínculo: Funcionário, Enquadramento Funcional: Pesquisador, coordenador, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Responsabilidades do projeto: Fabricação e montagem dos elementos de rede no espectrómetro para o observatório espaçial CHANDRA da NASA. Atividades científicas: sistema ótico de difração, teoria de redes eletromagnéticas, métodos numéricos para o cálculo de problemas eletromagnéticos, excitações de superfície óticas, foto-acústica, polarimetria, sistema ótico do raio X, processamento de imagem.