Dagmilson Tonasse Gomes
Possui graduação em Engenharia pelo Nuno Lisboa(1978), aperfeicoamentopela The Jeol Institute(1998) e aperfeicoamentopela Universidade Federal de São Carlos(1989). Atualmente é Analista em C&T do Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico. Tem experiência na área de Engenharia de Materiais e Metalúrgica.
Informações coletadas do Lattes em 23/01/2026
Acadêmico
Formação acadêmica
Formação complementar
1980 - 1980
Curso de Microscopia Eletrônica - Transm. e Varred. (Carga horária: 40h). , Associação Brasileira de Metalurgia.
Idiomas
Inglês
Compreende Pouco, Fala Pouco, Lê Razoavelmente, Escreve Pouco.
Áreas de atuação
Grande área: Engenharias / Área: Engenharia de Materiais e Metalúrgica.
Produções bibliográficas
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GOMES, D. T. ; C. N. Elias ; J. H. C. Lima ; A. Messora ; H. Schechtman . The surface quality of master screw dental implants. In: Micromat 99, 1999, São Paulo. Acta Microscópica, 1999. v. 8. p. 267.
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GOMES, D. T. ; C. N. Elias ; J. H. C. Lima ; E. S. P. Barbosa . Análise de Superfícies de Implantes Osseointegrados. In: L Congresso Anual da ABM, 1995, São Pedro. Congresso da ABM, 1995.
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GOMES, D. T. . Superfícies de Implantes Dentários. In: MICROMAT 94, 1994, São Carlos. Micromat, 1994.
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GOMES, D. T. . EMPREGO DE ELÉTRONS RETROESPALHADOS NA ANÁLISE DE UMA LIGA AL-7SI-0,6MG. In: 13º Colóquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletrônica, 1991, Caxambú. Colóquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletrônica, 1991.
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GOMES, D. T. . FRATOGRAFIA DE UMA LIGA DE ALUMÍNIO 357 PARA FUNDIÇÃO. In: 12º Colóquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletrônica, 1989, Caxambú. Anais do 12º Colóquio, 1989.
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GOMES, D. T. . UTILIZAÇÃO DO MEV NA CARACTERIZAÇÃO DE FILMES FINOS. In: MICROMAT 88, 1988, sÃO pAULO. Anais do MICROMAT, 1988.
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GOMES, D. T. ; Héleder L. Pereira ; L. Sereda ; Leila L. Y. Visconte ; Regina C. R. Nunes ; Regina R. G. Furtado . Use of Rice Husk Ash as a filler for silicone rubber. Adhesion between raw fillers and polymer. In: MICROMAT 1998, 1998, Águas de Lindóia. Acta Microscópica, 1998. v. 7. p. 141-144.
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GOMES, D. T. ; C. N. Elias ; J. H. C. Lima ; G. A. Soares ; M. H. P. da Silva . Comparison of the surface morfology of American, Argentine and Brazilian Dental Implants. In: XVI Meeting of Brazilian Society for Electron Microscopy, 1997, São Paulo. Acta Metalúrgica, 1997. v. 6B. p. 684-685.
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GOMES, D. T. ; C. N. Elias ; J. H. C. Lima ; G. A. Soares ; M. H. P. da Silva ; C. A. Muller ; H. Schechtman . Análise de implantes osseointegrados. In: II Congresso Internacional de Tecnologia Metalúrgica e de Materiais, 1997, São Paulo. II Congresso Int. de Tec. Metal. e de Materiais, 1997. p. 25.
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GOMES, D. T. ; C. N. Elias ; H. P. Lopes ; C. Estrela . Avaliação da Ponte de Tecido Mineralizado após Pulpotomia e recobrimento com Hidróxido de Cálcio. In: 3rd. Interamerican Conference on Electron Microscopy, 1995, Caxambú. 3º Interamerican Congress, 1995.
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GOMES, D. T. . CARACTERIZAÇÃO DE CAMADAS SUPERFICIAIS. In: ENOMAT, 1988, Rio de Janeiro. 1º ENOMAT, 1988.
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GOMES, D. T. . DETERMINAÇÃO DA ESPESSURA DE FILMES FINOS PELA TÉCNICA DE EDS NO MEV. In: CEBRAVIC, 1988, Campinas. 9º CEBRAVIC, 1988.
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GOMES, D. T. . COMPORTAMENTO MECÂNICO DE UM AÇO DE ALTA RESISTÊNCIA E BAIXA LIGA MICROLIGADO COM NB E V. In: CEBECIMAT, 1986, FLORIANÓPOLIS. 7º CEBECIMAT, 1986.
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GOMES, D. T. ; R. Pascual . THIN FILM THICHNESS MEASUREMENT USING THE EDS TECHNIQUE IN A SEM. Periódico, Ontário, 1989.
Histórico profissional
Endereço profissional
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Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico, coene. , Quadra SHIS QI 1, Setor de Habitações Individuais Sul, 71605001 - Brasília, DF - Brasil, Telefone: (61) 32119598, URL da Homepage:
Experiência profissional
2001 - Atual
Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico, CNPqVínculo: Cedido, Enquadramento Funcional: Analista em C&T, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.
Atividades
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06/2001
Serviços técnicos especializados , Diretoria de Unidades de Pesquisa, coctc.,Serviço realizado, Análise Técnica de Projetos RHAE-Inovação e Energias.
1978 - 2001
Instituto Militar de EngenhariaVínculo: Ativo Permanente, Enquadramento Funcional: Pesquisador - Tecnologista HIII, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.
Atividades
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10/1978 - 06/2001
Pesquisa e desenvolvimento , Secao de Engenharia Mecanica e de Materiais, Laboratório de Microscopia Eletrônica.,Linhas de pesquisa
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10/1978 - 06/2001
Serviços técnicos especializados , Secao de Engenharia Mecanica e de Materiais, Laboratório de Microscopia Eletrônica.,Serviço realizado, Operação e Manutenção do MET e do MEV.
1978 - 1978
Companhia do Metropolitano do Rio de JaneiroVínculo: Contratado, Enquadramento Funcional: Técnico Eletricista, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.
Atividades
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07/1978 - 10/1978
Serviços técnicos especializados , Departamento de Manutenção, .,Serviço realizado, manutenção elétrica.
1970 - 1978
Light Serv. de Eletric. S.A.Vínculo: Contratado, Enquadramento Funcional: Técnico, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.
Atividades
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01/1970 - 05/1978
Serviços técnicos especializados , Lab. de Medidores, .,Serviço realizado, Manutenção.
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