Alan Rodrigo Navia

Formação complementar

Idiomas

Áreas de atuação

Participação em eventos

Participação em bancas

Orientou

Produções bibliográficas

• MARQUES, A. E. B. ; SANTOS FILHO, S. G. ; NAVIA, A. R. ; SONNENBERG, V. ; MARTINO, J. A. . Physical and Electrical characterization of electroless Ni films deposited onto Al gate of MOS capacitors. Physica Status Solidi. B, Basic Research , Berlin - Alemanha, v. 187, n.1, p. 75-84, 2001.

• NAVIA, A. R. ; SANTOS FILHO, S. G. . Electrical and Physical Characterization of Electroless Nickel Films onto Polysilicon Gate Electrodes. In: XVII International Conference on Microelectronics and Packaging, 2002, Porto Alegre. XVII Sbmicro proceedings /Electrochemical Society. New Jersey: John Wiley and Sons, 2002.

• NAVIA, A. R. ; SONNENBERG, V. ; MARQUES, A. E. B. ; SANTOS FILHO, S. G. ; MARTINO, J. A. . Electrical characterization of thin nickel films obtained from electroless plating onto aluminum gate of MOS capacitors. In: XV SBmicro - International conference on microelectronics and packaging, 2000, Manaus - AM. Anais da XV SBMicro - Manaus - AM. Manaus: Editora da UA, 2000.

• NAVIA, A. R. ; CLEMENTE, J. G. ; KASSAB, L. R. P. . Os efeitos das terras-raras hólmio e gadolíneo em amostras de vidros do sistema PbO-B2O3. In: 7ª reuniao anual SBPN, 1999, Londrina - PR. Pesquisa, Desenvolvimento e integração. Londrina: Editora UEL, 1999. p. 771-777.

• NAVIA, A. R. ; SANTOS FILHO, S. G. . Characterization of Electroless Nickel Films onto Polysilicon Gate Electrodes. In: XXIII Congresso Brasileiro de Aplicações do Vácuo na Indústria e na Ciência, 2002, Florianópolis. Anais do XXIII Cbravic. Florianópolis, 2002.

• NAVIA, A. R. ; SANTOS FILHO, S. G. . Electrical characterization of MOS capacitors with gate of nickel/aluminum. In: IV Workshop do Sistema Brasileiro de Tecnologia de Informação, 2001, São Paulo. Extended Abstracts of the IV Workshop do SIBRATI (Sistema Brasileiro de Tecnologia de Informação), 2001.

• NAVIA, A. R. ; SANTOS FILHO, S. G. . Electrical characterization of electroless nickel films onto MOS gates. In: Congresso brasileiro de aplicações de vácuo na indústria e na ciência - XXII CBRAVIC, 2001, Guaratinguetá. Congresso anual da sociedade brasileira de vácuo - livro de palestras convidadas e resumos extendidos. Guaratinguetá: Editora da unesp - faculdade de engenharia, 2001. p. 139-139.

• MARQUES, A. E. B. ; NAVIA, A. R. ; SANTOS FILHO, S. G. ; SONNENBERG, V. ; MARTINO, J. A. . Physical and electrical characterization of electroless Ni films deposited onto Al gates of MOS capacitors. In: 3º brazilian - german workshop on applied surface science, 2001, Florianópolis. Anais do 3º brazilian - german workshop on applied surface science. Florianópolis: Editora da UFSC, 2001.

• NAVIA, A. R. ; SONNENBERG, V. ; MARQUES, A. E. B. ; SANTOS FILHO, S. G. ; MARTINO, J. A. . Caracterização elétrica de filmes finos de níquel obtidos por deposição química espontânea sobre alumínio através de capacitores MOS. In: 2º simpósio de iniciação científica e tecnológica, 2000, São Paulo. Anais do 2º simpósio de iniciação científica e tecnológica - BT/09, 2000.

• NAVIA, A. R. ; SONNENBERG, V. ; MARQUES, A. E. B. ; SANTOS FILHO, S. G. ; MARTINO, J. A. . Caracterização elétrica de filmes finos de níquel obtidos por deposição química espontânea sobre alumínio, através de capacitores MOS. In: 8º simpósio internacional de iniciação científica da universidade de são paulo - 8º CICTE, 2000, São Carlos. Anais do 8º CICTE, 2000.

• NAVIA, A. R. . Estatística. São Paulo: UNIP, 2012 (Livro-Texto).