Joaquim Brasil de Lima Filho

Tem experiência na área de Física, com ênfase em Síntese, Processamento e Caracterização Óptica de Interfaces, Películas e Substratos; Óptica e Fotônica. Experiência em automação em LabView e Programação em Python. Experiência em ensino de física. Atualmente atua com pesquisa em sensores e medidores peara gás liquefeito de petróleo.

Informações coletadas do Lattes em 21/07/2025

Acadêmico

Formação acadêmica

Doutorado em Física

2015 - 2020

Universidade de São Paulo
Título: Optoelectronic characterization of organic photovoltaic devices with emerging achitectures
, Ano de obtenção: 2020. Paulo Barbeitas Miranda. Bolsista do(a): Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior, CAPES, Brasil. Palavras-chave: Continuous Wave Photoinduced Absorption; Organic electronics; Light harvesting capacitor; Surface metal-organic frameworks; Impedance spectroscopy; Photocurrent. Grande área: EngenhariasGrande Área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Organic Electronics. Grande Área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Química / Subárea: Físico-Química / Especialidade: Espectroscopia.

Mestrado em Física

2012 - 2014

Universidade Federal do Piauí
Título: Aplicação da técnica de caracterização óptica por elipsometria ao estudo das propriedades de substratos e filmes finos de materias transparentes, metálicos e poliméricos, Ano de Obtenção: 2014
Ángel Alberto Hidalgo.Bolsista do(a): Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado do Piauí, FAPEPI, Brasil. Palavras-chave: Elipsometria.Grande área: Ciências Exatas e da Terra

Graduação em Bacharelado em Física

2005 - 2012

Universidade Federal do Piauí
Título: A elipsometria como técnica para determinar as propriedades ópticas e elétricas de materiais
Orientador: Ángel Alberto Hidalgo

Ensino Médio (2º grau)

2002 - 2004

Colégio Integral

Ensino Fundamental (1º grau)

1994 - 2001

Andreas Versalius

Formação complementar

2017 - 2018

Extensão universitária em An Introduction to Programming the Internet of Things (IOT). (Carga horária: 80h). , University of California - Irvin, UCI, Estados Unidos.

2016 - 2016

Extensão universitária em LabView Core 2. (Carga horária: 20h). , National Instruments Brazil, NIB, Brasil.

2016 - 2016

Extensão universitária em LabView Core 1. (Carga horária: 20h). , National Instruments Brazil, NIB, Brasil.

2016 - 2016

Extensão universitária em Introduction to Computer Science and Programming Using Python. (Carga horária: 30h). , Massachusetts Institute of Technology, MIT, Estados Unidos.

2016 - 2016

Extensão universitária em Introduction to Computational Thinking and Data Science. (Carga horária: 30h). , Massachusetts Institute of Technology, MIT, Estados Unidos.

2012 - 2013

Extensão universitária em Lingua Inglesa. (Carga horária: 350h). , Wizard Teresina (PI), WIZARD, Brasil.

2012 - 2012

Magnetismo da Terra. (Carga horária: 120h). , Observatório Nacional, ON, Brasil.

2009 - 2009

CURSO DE ASTRONOMIA 2009. (Carga horária: 50h). , Universidade do Estado do Rio de Janeiro, UERJ, Brasil.

Idiomas

Bandeira representando o idioma Inglês

Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.

Bandeira representando o idioma Espanhol

Compreende Pouco, Fala Pouco, Lê Pouco, Escreve Pouco.

Bandeira representando o idioma Português

Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.

Áreas de atuação

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Física da Matéria Condensada/Especialidade: Transp. Eletrônicos e Prop. Elétricas de Superfícies; Interfaces e Películas.

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Física da Matéria Condensada/Especialidade: Superfícies e Interfaces; Películas e Filamentos.

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Física da Matéria Condensada/Especialidade: Prop. Óticas e Espectrosc. da Mat. Condens; Outras Inter. da Mat. com Rad. e Part..

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Física da Matéria Condensada/Especialidade: Estruturas Eletrônicas e Propriedades Elétricas de Superfícies; Interf. e Partículas.

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Astronomia / Subárea: Astronomia de Posição e Mecânica Celeste.

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Astronomia / Subárea: Instrumentação Astronômica.

Participação em eventos

XXII Simpósio Nacional de Ensino de Física.OFICINA: Uma Maquete Simples e de Baixo Custo como Suporte ao Ensino de Astronomia nos Cursos de Física. 2017. (Simpósio).

XXII Simpósio Nacional de Ensino de Física.Uma Maquete Simples e de Baixo Custo Como Suporte ao Ensino de Astronomia nos Cursos de Física. 2017. (Simpósio).

XV Brazil MRS Meeting. Charge photogeneration and recombination dynamics in a new solar cell architecture: the light harvesting capacitor. 2016. (Congresso).

XIV SBPMat Meeting. Characterization of Optical Properties of Thin Films of Polyaniline (PAni) by Spectroscopic Ellipsometry (SE). 2015. (Congresso).

XIV SBPMat Meeting. Interference Pattern Analysis For Thin Film Thickness Determination From Spectroscopic Ellipsometry (SE) Data. 2015. (Congresso).

LV Encontro Regional de Ensino de Astronomia.OFICINA: O Sistema Solar em Escala. 2014. (Encontro).

LV Encontro Regional de Ensino de Astronomia.OFICINA: Construção do Relógio Solar. 2014. (Encontro).

XIII Brazilian Materials Society Meeting. Interface effect on very thin PAni layers onto glass substrates. 2014. (Congresso).

5th Workshop of the National Institute for Organic Electronics.SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY AND UV-Vis CHARACTERIZATION OF SELF ASSEMBLED FILMS OF PAn. 2013. (Oficina).

XII Brazilian MRS Meeting.Spectroscopic Ellipsometry and UV-Vis characterization of self assembled films of PAni. 2013. (Encontro).

4th Workshop of the National Institute for Organic Electronics - INEO.Ellipsometry, FTIR and UV-Vis characterization of self assembled films of PAni. 2012. (Outra).

4th Workshop of the National Institute for Organic Electronics - INEO.Elliposmetry. 2012. (Outra).

XI Brazilian MRS Meeting.Spectroscopic Ellipsometry characterization of self assembled films of PAni. 2012. (Encontro).

XI Brazilian MRS Meeting.DMA, FTIR, Raman and UV-Vis characterization of self assembled films of PAni. 2012. (Encontro).

XXX Encontro de Físicos do Norte e Nordeste.Ellispsometry as Technique to Measure Optical and Electrical Properties of Materials. 2012. (Encontro).

XXX Encontro de Físicos do Norte e Nordeste.Ellipsometric Measurements of Optical and Electrical Properties of PAni. 2012. (Encontro).

XXXIV Encontro Regional de Ensino de Astronomia. 2012. (Encontro).

XV Escola de Verão Jorge André Swieca Física Nuclear Teórica. 2011. (Outra).

V Congresso Inaciano de Educação. 2010. (Congresso).

XXVIII Encontro de Físicos do Norte e Nordeste. 2010. (Encontro).

Produções bibliográficas

  • LIMA FILHO, J. B. ; Silva, M. L. ; PAIXAO, H. M. ; IBIAPINA, R. M. . Construção de uma maquete de sistema planetário como atividade auxiliar ao ensino de astronomia nos cursos de física. Revista Brasileira de Ensino de Física (Online) , v. 39, p. e3504, 2017.

  • DE LIMA FILHO, JOAQUIM BRASIL ; HIDALGO, ÁNGEL ALBERTO . Film thickness by interference pattern and optical characterization of polyaniline by spectroscopic ellipsometry. Synthetic Metals , v. 223, p. 80-86, 2017.

  • LIMA FILHO, J. B. ; Silva, M. L. ; PAIXAO, H. M. ; IBIAPINA, R. M. . Uma Maquete Simples e de Baixo Custo Como Suporte ao Ensino de Astronomia nos Cursos de Físcia. In: XXII Simpósio Nacional de Ensino de Física, 2017, São Carlos. Site de Trabalhos e Resumos do XXII SNEF, 2017.

  • LIMA FILHO, J. B. ; Silva, M. L. ; PAIXAO, H. M. ; IBIAPINA, R. M. . Uma Maquete Simples e de Baixo Custo Como Suporte ao Ensino de Astronomia nos Cursos de Física. In: XXII Simpósio Nacional de Ensino de Física, 2017, São Carlos. Resumos do XXII Simpósio Nacional de Ensino de Física, 2017.

  • DE LIMA FILHO, JOAQUIM BRASIL ; MIRANDA, P. B. . Charge photogeneration and recombination dynamics in a new solar cell architecture: the light harvesting capacitor. In: XV Brazil MRS Meeting, 2016, Campinas. Livro de Resumos do XV Brazil MRS Meeting, 2016.

  • LIMA FILHO, J. B. ; HIDALGO, A. A. . Interference pattern analysis for thin film thickness determination from Spectroscopic Ellipsometry (SE) data. In: XIV Brazil MRS Meeting, 2015, Rio de Janeiro. Livro de Resumos do XIV Brazil MRS Meeting, 2015.

  • LIMA FILHO, J. B. ; HIDALGO, A. A. . Characterization of optical properties of thin films of polyaniline (PAni) by Spectroscopic Ellipsometry (SE). In: XIV Brazil MRS Meeting, 2015, Rio de Janeiro. Livro de Resumos do XIV Brazil MRS Meeting, 2015.

  • HIDALGO, A. A. ; LIMA FILHO, J. B. ; SANTOS, M. L. F. ; SANTANA, A. J. ; Vega, M. L. . Interface effect on very thin PAni layers onto glass substrates. In: XIII Encontro da SBPMat, 2014, João Pessoa. Livro de Resumos do XIII Encontro da SBPMat, 2014.

  • SANTANA, A. J. ; LIMA FILHO, J. B. ; HIDALGO, A. A. . Spectroscopic Ellipsometry and UV-Vis characterization of self assembled films of PAni. In: XII Encontro da SBPMat, 2013, Campos do Jordão. Livro de Resumos do XII Encontro da SBPMat, 2013.

  • LIMA FILHO, J. B. ; SANTANA, A. J. ; HIDALGO, A. A. . Spectroscopic Ellipsometry characterization of self assembled films of PAni. In: XI Encontro da SBPMat, 2012, Florianópolis. Livro de Resumos do XI Encontro da SBPMat, 2012.

  • SANTANA, A. J. ; SOUSA JUNIOR, I. V. ; LIMA FILHO, J. B. ; HIDALGO, A. A. . DMA, FTIR, Raman and UV-vis characterization of self assembled films of PAni. In: XI Encontro da SBPMat, 2012, Florianópolis. Livro de Resumos da XI SBPMat, 2012.

Outras produções

DE LIMA FILHO, JOAQUIM BRASIL . cw-PIA analysis. 2017.

LIMA FILHO, J. B. . cw-PIA controller and data acquisition. 2016.

Histórico profissional

Endereço profissional

  • Instituto Federal de Educação Ciência e Tecnologia do Ceará, Campus Crateús. , Avenida Doutor Geraldo Barbosa Marques, 567, Venâncios, 63708260 - Crateús, CE - Brasil, Telefone: (88) 21512943, URL da Homepage:

Experiência profissional

2022 - Atual

Instituto Federal do Ceará - Campus Tianguá

Vínculo: Servidor Público, Enquadramento Funcional: Professor EBTT, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.

2020 - 2022

Universidade Paulista

Vínculo: Celetista, Enquadramento Funcional: Professor titular, Carga horária: 3

2017 - 2022

Universidade Paulista

Vínculo: Celetista, Enquadramento Funcional: Professor, Carga horária: 9

Atividades

  • 01/2017

    Ensino, Engenharia Mecânica, Nível: Graduação,Disciplinas ministradas, Física Básica, Mecânica dos Fluidos, Metrologia, Termodinâmica

2009 - 2009

Colégio Sagrado Coração de Jesus

Vínculo: Celetista, Enquadramento Funcional: Professor, Carga horária: 18

Atividades

  • 07/2008 - 12/2008

    Ensino,,Disciplinas ministradas, Laboratório de Física

  • 07/2008 - 12/2008

    Ensino,,Disciplinas ministradas, Laboratório de Física

2009 - 2013

Colegio São Francisco de Sales

Vínculo: Celetista, Enquadramento Funcional: Professor, Carga horária: 6

Atividades

  • 01/2007 - 12/2011

    Ensino,,Disciplinas ministradas, Física 1

2008 - 2011

Instituto Dom Barreto

Vínculo: Celetista, Enquadramento Funcional: Professor, Carga horária: 25

Atividades

  • 01/2008 - 12/2010

    Ensino,,Disciplinas ministradas, Laboratório de Física

  • 01/2008 - 12/2010

    Ensino,,Disciplinas ministradas, Laboratório de Física