William Souza da Cruz

Possui graduação em Engenharia pela Fundação Educacional Inaciana Padre Sabóia de Medeiros (2016) e Mestrado em Engenharia Elétrica pela Fundação Educacional Inaciana Padre Sabóia de Medeiros (2019). Tem experiência nas áreas de Robótica, Mecatrônica, Automação e Eletrônica, com ênfase em microeletrônica e dispositivos semicondutores, trabalhando principalmente nos seguintes tópicos: Efeitos de Radiação em MOSFETs, Diferentes Geometrias de Porta para MOSFETs, Ataques de Injeção de Falhas a Laser, Efeitos Fotoelétricos em MOSFETs e, Concepção e Simulação de Modelos Compactos para Testes de Circuitos Integrados.

Informações coletadas do Lattes em 29/05/2023

Acadêmico

Formação acadêmica

Doutorado em andamento em Microélectronique

2019 - Atual

Ecole Nacionale Superieur des Mines de St. Etienne
Orientador: Jean-Max Dutertre
Coorientador: Guillaume Hubert. Bolsista do(a): Région Provence - Alpes - Côte d'Azur, PACA, França.

Mestrado em Engenharia Elétrica

2017 - 2019

Fundação Educacional Inaciana Padre Sabóia de Medeiros
Título: Estudo experimental da influência das radiações ionizantes de raios-X em MOSFETs com estilo de leiaute de porta octogonal com tecnologia de fabricação de CIs CMOS de silício-germânio de 130 nm
, Ano de Obtenção: 2019.Salvador Pinillos Gimenez.Bolsista do(a): Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior, CAPES, Brasil. Palavras-chave: MOSFET Octogonal; DEPAMBBRE; Total Ionizing Dose; Radiações Ionizantes por Raios-X; Longitudinal Corner Effect; PAMDLE. Grande área: OutrosGrande Área: Outros / Área: Microeletrônica / Subárea: Dispositivos.

Graduação em Engenharia

2012 - 2016

Fundação Educacional Inaciana Padre Sabóia de Medeiros
Título: VDV: Veículo de Deslocamento Vertical
Orientador: Orlando Del Bianco Filho
Bolsista do(a): PROUNI, Centro Universitário da FEI, PROUNI, Brasil.

Curso técnico/profissionalizante em Mecatrônica

2010 - 2012

Etec Profº Basilides de Godoy

Ensino Médio (2º grau)

2009 - 2011

Etec Profº Basilides de Godoy

Ensino Fundamental (1º grau)

2001 - 2008

EMEF Júlio de Oliveira

Formação complementar

2017 - 2017

Teoria e Prática de Processamento de Sinais e Imagens. (Carga horária: 20h). , Centro Universitário da FEI, FEI, Brasil.

2016 - 2016

Extensão universitária em Introdução ao Controle de Sistemas. , Instituto Tecnológico de Aeronáutica, ITA, Brasil.

2016 - 2016

Desenho Técnico: Leitura e Interpretação. (Carga horária: 15h). , eduK, EDUK, Brasil.

2016 - 2016

SketchUp: Design de interiores em 3D. (Carga horária: 6h). , eduK, EDUK, Brasil.

2016 - 2016

LabVIEW Core 2. , National Instruments Brazil, NIB, Brasil.

2016 - 2016

LabVIEW Core 1. , National Instruments Brazil, NIB, Brasil.

2015 - 2016

Extensão universitária em Programa de Capacitação em Energias Renováveis. (Carga horária: 112h). , Observatório de Energias Renováveis para América Latina e Caribe, ONUDI, Espanha.

2015 - 2015

AutoCAD. (Carga horária: 20h). , Instituto Politécnico de Ensino à Distância, IPED, Brasil.

2015 - 2015

MOOC - AutoCad. (Carga horária: 20h). , Centro Estadual de Educação Tecnológica Paula Souza, CEETEPS, Brasil.

2015 - 2015

Processo de Comunicação e Comunicação Institucional. (Carga horária: 5h). , Fundação Getúlio Vargas, FGV, Brasil.

2014 - 2014

Microeletrônica Experimental‏. (Carga horária: 12h). , FUNDACAO EDUCACIONAL INACIANA PADRE SABOIA DE MEDEIROS, FEI, Brasil.

2011 - 2011

Teatrando. (Carga horária: 130h). , Centro Estadual de Educação Tecnológica Paula Souza, CEETEPS, Brasil.

2008 - 2008

Aluno Monitor. (Carga horária: 140h). , Microsoft Informática, MICROSOFT BRASIL, Brasil.

Idiomas

Bandeira representando o idioma Inglês

Compreende Razoavelmente, Fala Pouco, Lê Bem, Escreve Razoavelmente.

Bandeira representando o idioma Espanhol

Compreende Razoavelmente, Fala Pouco, Lê Razoavelmente, Escreve Pouco.

Bandeira representando o idioma Português

Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.

Bandeira representando o idioma Francês

Compreende Razoavelmente, Fala Razoavelmente, Lê Razoavelmente, Escreve Razoavelmente.

Áreas de atuação

Grande área: Outros / Área: Robótica, Mecatrônica e Automação.

Grande área: Engenharias / Área: Engenharia Elétrica / Subárea: Circuitos Elétricos, Magnéticos e Eletrônicos/Especialidade: Circuitos Eletrônicos.

Participação em eventos

Seminatec 2018.Comparative Study for gm/IDS of Ellipsoidal Layout MOSFET for 180 nm Technology. 2018. (Seminário).

7 SICFEI.VII Simpósio de Iniciação Científica, Didática e de Ações Sociais da FEI. 2017. (Simpósio).

SEMINATEC 2017. Study of the Annular Ellipsoidal Layout Style for MOSFETs in X-rays Ionizing Radiation Environments. 2017. (Congresso).

6 SICFEI.Estudo do Leiaute Elipsoidal para MOSFETs em Ambientes de Radiação. 2016. (Simpósio).

Congresso de Inovação 2016 - Megatendências 2050. 2016. (Congresso).

InovaFEI. VDV: Veículo de Deslocamento Vertical. 2016. (Exposição).

Olimpíada Brasileira de Astronomia e Astronáutica (OBA). XII Olimpíada Brasileira de Astronomia e Astronáutica (OBA). 2009. (Olimpíada).

Produções bibliográficas

  • PERUZZI, VINICIUS VONO ; CRUZ, WILLIAM ; DA SILVA, GABRIEL AUGUSTO ; SIMOEN, EDDY ; CLAEYS, COR ; GIMENEZ, SALVADOR PINILLOS . Using the Hexagonal Layout Style for MOSFETs to Boost the Device Matching in Ionizing Radiation Environments. JICS. JOURNAL OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS (ED. PORTUGUÊS) , v. 15, p. 1-5, 2020.

  • PERUZZI, VINICIUS VONO ; DA CRUZ, WILLIAM SOUZA ; DA SILVA, GABRIEL AUGUSTO ; SIMOEN, E. ; CLAEYS, COR ; GIMENEZ, SALVADOR PINILLOS . Using the Octagonal Layout Style for MOSFETs to boost the Device Matching in Ionizing Radiation Environments. IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY , v. 20, p. 754-759, 2020.

  • CRUZ, WILLIAM SOUZA ; SWART, JACOBUS WILLIBRORDUS ; GIMENEZ, SALVADOR PINILLOS . Using Ellipsoidal Layout Style to Boost the Electrical Performance of the MOSFETs Regarding the 180 nm CMOS ICs Manufacturing Process. ECS TRANSACTIONS (ONLINE) , v. 85, p. 97-102, 2018.

  • DA CRUZ, WILLIAM SOUZA ; VIERA, RAPHAEL ; DUTERTRE, JEAN-MAX ; RIGAUD, JEAN-BAPTISTE ; HUBERT, GUILLAUME . Further Analysis of Laser-induced IR-drop. In: 2021 IEEE 30th Asian Test Symposium (ATS), 2021, Matsuyama. 2021 IEEE 30th Asian Test Symposium (ATS), 2021. p. 91.

  • DA CRUZ, WILLIAM SOUZA ; DUTERTRE, JEAN-MAX ; RIGAUD, JEAN-BAPTISTE ; HUBERT, GUILLAUME . Evidence of a Dynamic Fault Model in the DICE Radiation-Hardened Cell. In: 2020 33rd Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (SBCCI), 2020, Campinas. 2020 33rd Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (SBCCI), 2020. p. 1.

  • PERUZZI, VINICIUS VONO ; CRUZ, WILLIAM SOUZA DA ; SILVA, GABRIEL AUGUSTO DA ; TEIXEIRA, RICARDO COTRIM ; JUNIOR, LUIS EDUARDO SEIXAS ; GIMENEZ, SALVADOR PINILLOS . Boosting the Ionizing Radiation Tolerance in the Mosfets Matching by Using Diamond Layout Style. In: 2019 34th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2019, Sao Paulo. 2019 34th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2019. p. 1.

  • DA CRUZ, WILLIAM SOUZA ; VIERA, RAPHAEL ; RIGAUD, JEAN-BAPTISTE ; HUBERT, GUILLAUME ; DUTERTRE, JEAN-MAX . An Experimentally Tuned Compact Electrical Model for Laser Fault Injection Simulation. In: 2022 IEEE 28th International Symposium on OnLine Testing and Robust System Design (IOLTS), 2022, Torino. 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2022. p. 1.

  • CRUZ, W. S. ; SWART, JACOBUS WILLIBRORDUS ; GIMENEZ, S. P. . Comparative Study for gm/IDS of Ellipsoidal Layout MOSFET for 180 nm Technology. In: Seminatec 2018, 2018, São Bernardo do Campo. Workshop Proceedings of the XIII Workshop on Semiconductors and Micro & Nano Technology: Seminatec 2018. São Bernardo do Campo: Centro Universitário da FEI, 2018.

  • CRUZ, W. S. ; GIMENEZ, S. P. ; SEIXAS, L. E. . Study of the Annular Ellipsoidal Layout Style for MOSFETs in X-rays Ionizing Radiation Environments. In: SEMINATEC 2017, 2017, São Paulo. Seminatec 2017 - XII Workshop on semiconductions and micro & nano technology, 2017. v. 12.

  • CRUZ, W. S. ; GIMENEZ, S. P. . Comparative Experimental Study of the Annular Ellipsoidal and Rectangular Layouts MOSFETs in X-ray Ionizing Radiation Environments. In: 17th Microelectronics Students Forum, 2017, Fortaleza. SForum 2017, 2017.

  • CRUZ, W. S. ; GIMENEZ, S. P. ; SEIXAS, L. E. . Study of the Annular Ellipsoidal Layout Style for MOSFETs in X-rays Ionizing Radiation Environments. 2017. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

  • CRUZ, W. S. ; GIMENEZ, S. P. . Estudo do Leiaute Elipsoidal para MOSFETs em Ambientes de Radiação. 2016. (Apresentação de Trabalho/Simpósio).

Projetos de pesquisa

  • 2016 - 2016

    Estudo do Leiaute Elipsoidal para MOSFETS em Ambientes de Radiação, Descrição: A proposta do projeto é a análise de um novo leiaute de dispositivo eletrônico, tipo elipsoidal, quanto sua tolerância aos efeitos de radiação ionizante total acumulada em duas partes sensíveis. Analisando especificamente o efeito DEPAMBBRE. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) . , Integrantes: William Souza da Cruz - Integrante / Salvador Pinillos Gimenez - Coordenador., Número de produções C, T & A: 2

Prêmios

2011

Olimpíada Brasileira de Matemática das Escolas Públicas (Medalha de Bronze), MCT e MEC.

2011

II Festival de Teatro BG - Melhor Ator (2 Lugar), ETEC Prof Basilides de Godoy.

2011

II Festival de Teatro BG - Melhor Espetáculo (3 Lugar), ETEC Prof Basilides de Godoy.

Histórico profissional

Endereço profissional

  • Ecole Nationale Superieure des Mines de Saint-Etienne. , 880 Route de Mimet, Gardanne, 13120 - Gardanne, - França, Telefone: (04) 42616725

Experiência profissional

2016 - 2016

Centro Universitário da FEI

Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Pesquisador, Carga horária: 20

2014 - 2016

Centro Estadual de Educação Tecnológica Paula Souza

Vínculo: Estágio, Enquadramento Funcional: Auxiliar Docente na área de Automação, Carga horária: 30