Carlos Leonardo da Silva Azeredo

Engenheiro de Produção formado pela Universidade Salgado de Oliveira (2019), e Técnico em Metrologia formado pelo Inmetro (2002). Atua como Técnico em Metrologia e Qualidade na Divisão de Metrologia em Dinâmica de Fluidos, na área de vazão de líquidos e grandes volumes desde 2012. Possui experiência técnica anterior em Força, Torque, Dimensional, Pressão, e Interferometria.Além de experiência em Gestão Técnica e Gestão da Qualidade de Laboratório de Metrologia. Participou de projetos de pesquisa em Metrologia Óptica e Metrologia em Dinâmica de Fluidos.

Informações coletadas do Lattes em 29/08/2025

Acadêmico

Formação acadêmica

Graduação em Engenharia de Produção

2015 - 2019

Universidade Salgado de Oliveira

Curso técnico/profissionalizante em Técnico em Metrologia

1999 - 2002

Colégio Estadual Círculo Operário

Formação complementar

2024 - 2024

EURAMET 2024 TC Flow Summer School. (Carga horária: 40h). , EURAMET, EURAMET, Alemanha.

2019 - 2019

Curso de Capacitação Interna de Calibração de Balanças. (Carga horária: 15h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2018 - 2018

Treinamento sobre a NBR ISO 17025:2017. (Carga horária: 17h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2015 - 2015

Estatística e Incerteza de Medição. (Carga horária: 30h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2014 - 2015

Nivelamento conceitual em Dinâmica de Fluidos. (Carga horária: 46h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2014 - 2014

IMPLANTAÇÃO ABNT NBR ISOIEC 17025, APLIC. A DINAM. (Carga horária: 13h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2012 - 2012

Curso de Formação de Auditores Internos. (Carga horária: 32h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2011 - 2011

Labview Intermediário. (Carga horária: 40h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2011 - 2011

Programa de Integração para os Novos Servidores. (Carga horária: 137h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2011 - 2011

Calibração de Blocos Pequenos_Interferômetro JENA. (Carga horária: 80h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2011 - 2011

Calibração de Blocos Pequenos - Interferômetro GBI. (Carga horária: 80h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2010 - 2010

Labview Básico. (Carga horária: 35h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2010 - 2010

Manutenção da Grandeza de Comprimento. (Carga horária: 35h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2009 - 2009

Aplicação da NBR 17025:2005 no SGQ. (Carga horária: 14h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2009 - 2009

Inspetor de Soldagem Nível I. (Carga horária: 200h). , Fundação Brasileira de Tecnologia da Soldagem, FBTS, Brasil.

2009 - 2009

Caracterização do Radiômetro de Filtro. (Carga horária: 1h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2009 - 2009

Comparador Interferométrico Kösters. (Carga horária: 37h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2005 - 2005

Ferramentas da Qualidade. (Carga horária: 7h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2005 - 2005

Sistema de Gestão da Qualidade-NBR ISO/IEC 17025. (Carga horária: 13h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2005 - 2005

Técnicas Aplicadas a Calibração de Padrões Dimen. (Carga horária: 35h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2005 - 2005

Garantia da Qualidade dos Resultados. (Carga horária: 3h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2005 - 2005

Incerteza de Medição. (Carga horária: 13h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2005 - 2005

SITAD - Sistema de Tramitação e Arquivamento de. (Carga horária: 6h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2005 - 2005

Visual Basic. (Carga horária: 30h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2004 - 2004

Curso de Excel. (Carga horária: 20h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2004 - 2004

? Calibração de blocos-padrão entre 0,5 e 100 mm p. (Carga horária: 10h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

2002 - 2002

Metrologia de Torque, Força e Dureza. (Carga horária: 34h). , Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.

Áreas de atuação

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Áreas Clássicas de Fenomenologia e suas Aplicações/Especialidade: Ótica.

Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Física Geral/Especialidade: Metrologia, Técnicas Gerais de Laboratório, Sistema de Instrumentação.

Participação em eventos

3º Congresso Internacional de Metrologia Mecânica. Calibration of a compact prover by water draw method using a tank prover. 2014. (Congresso).

Rio Oil & Gas 2014. 2014. (Exposição).

Seminário de Medição Multifásica. 2014. (Seminário).

II Encontro Científico do Curso Técnico de Metrologia. 2013. (Encontro).

Painel Setorial sobre medição de leite. 2013. (Outra).

VII Congresso Brasileiro de Metrologia. 2013. (Congresso).

Painel Setorial Inmetro - Nanometrologia e o Desenvolvimento de Nanomateriais para Cosméticos.. 2012. (Encontro).

Semana da Física 2012 - Cefet Uned Petrópolis. 2012. (Outra).

Seminário da Licenciatura - Astrobiologia e a busca por vida dentro e fora do sistema solar.. 2012. (Seminário).

Seminário da Licenciatura - Novo currículo mínimo de Física do estado do Rio de Janeiro: Um currículo desenvolvido por competências, e habilidades e não por conteúdos.. 2012. (Seminário).

Seminário da Licenciatura - Relatos de uma viagem ao maior acelerador de partículas do mudo ? CERN ? LHC. 2012. (Seminário).

Congresso Interno de Inovação.. 2010. (Congresso).

I Encontro Científico do Curso Técnico de Metrologia. 2008. (Encontro).

Produções bibliográficas

  • COSTA, P A ; BESSA, M S ; SCHUTZ, J S ; AZEREDO, C L S ; FRANÇA, R S ; QUELHAS, K N ; MALINOVSKI, I . Traceability transfer in high accuracy contact temperature measurements for length interferometry. Journal of Physics. Conference Series (Online) , v. 575, p. 012025, 2015.

  • RAELE, MARCUS PAULO ; TARELHO, LUIZ VICENTE GOMES ; DA SILVA AZEREDO, CARLOS LEONARDO ; COUCEIRO, Iakyra Borrakuens ; FREITAS, ANDERSON ZANARDI . Improving axial resolution in spectral domain low-coherence interferometry through fast Fourier transform harmonic artifacts. Optical Engineering (Bellingham. Print) , v. 53, p. 073106, 2014.

  • MALINOVSKI, I. ; COUCEIRO, I. B. ; FRANCA, R. S. ; LIMA, M. S. ; AZEREDO, C. L. S. ; ALMEIDA, C. ; WEID, J. P. V. D. . Imaging interference microscope for nanometrology. ACTA IMEKO , v. 3, p. 28-32, 2014.

  • COUCEIRO, I. B. ; Thiago Ferreira da Silva ; TARELHO, Luiz Vicente Gomes ; AZEREDO, C. L. S. ; Igor Malinovski ; GRIENEISEIN, H. P. H. ; BARROS, W. S. ; FARIA, G. V. ; WEID, J. P. V. D. ; AMARAL, Marcello Magri ; RAELE, M. P. ; FREITAS, Anderson Zanardi de . Development of traceability methodology for optical coherence tomography (OCT) using step height standard as calibration reference. Proceedings - SPIE , v. 80822, p. 80822P-1, 2011.

  • COUCEIRO, I.B. ; SILVA, T. F. ; Tarelho, L.V.G. ; AZEREDO, C. L. S. ; MALINOVSKI, I. ; GRIENEISEN, H. P. ; BARROS, W.S. ; FARIA, G. V. ; WEID, J. P. V. D. ; AMARAL, Marcello Magri ; RAELE, M. P. ; FREITAS, A. Z. . Development of traceability methodology for optical coherence tomography (OCT) using step height standard as calibration reference. OCTNews, Internet, 27 maio 2011.

  • SILVA, E. ; CHACON, I. T. ; SANTOS, A. M. ; GARCIA, D. A. ; AZEREDO, C. L. S. . Validação de bancada experimental para investigação metrológica de escoamento bifásico (ar-água) em tubulação horizontal. In: 8º Congresso Brasileiro de Metrologia, 2015, Bento Gonçalves - RS. 8º Congresso Brasileiro de Metrologia, 2015.

  • AIBE, V. Y. ; AQUINO, M. H. G. ; CASTRO, H. F. F. ; AZEREDO, C. L. S. . Calibration of a compact prover by water draw method using a tank prover. In: 3º Congresso Internacional de Metrologia Mecânica, 2014, Gramado - RS. 3º Congresso Internacional de Metrologia Mecânica, 2014.

  • AIBE, V. Y. ; AQUINO, M. H. G. ; GABRIEL, P. C. ; CASTRO, H. F. F. ; AZEREDO, C. L. S. . Innovative combined method for tank prover calibration. In: 3º Congresso Internacional de Metrologia Mecânica, 2014, Gramado - RS. 3º Congresso Internacional de Metrologia Mecânica, 2014.

  • Costa, P.A. ; Bessa, M.S. ; SCHUTZ, J. S. ; AZEREDO, C. L. S. ; FRANCA, R. S. ; QUELHAS, K. N. ; MALINOVSKI, I. . Traceability transfer in high accuracy contact temperature measurements for length interferometry. In: 7° Congresso Brasileiro de Metrologia, 2013, Ouro Preto - MG. 7° Congresso Brasileiro de Metrologia, 2013.

  • MALINOVSKY, I. ; FRANCA, R. S. ; COUCEIRO, I. B. ; LIMA, M. S. ; AZEREDO, C. L. S. ; ALMEIDA, C. ; WEID, J. P. V. . PRIMARY IMAGING INTERFERENCE MICROSCOPE FOR NANOMETROLOGY. In: XX IMEKO World Congress, 2012, Busan. IMEKO 2012, 2012.

  • COUCEIRO, I.B. ; SILVA, T. F. ; Tarelho, L.V.G. ; AZEREDO, C. L. S. ; MALINOVSKI, I. ; GRIENEISEN, H. P. ; BARROS, W.S. ; FARIA, G. V. ; WEID, J. P. V. D. ; AMARAL, Marcello Magri ; RAELE, M. P. ; FREITAS, A. Z. . Development of traceability methodology for optical coherence tomography (OCT) using step height standard as calibration reference. In: SPIE Optical Metrology, 2011, Munique. Proceeedings of Optical Measurements systems for industrial inspection, 2011. v. 8082.

  • MALINOVSKI, I. ; FRANCA, R. S. ; Tarelho, L.V.G. ; COUCEIRO, I.B. ; AZEREDO, C. L. S. ; ALMEIDA, C. M. S. . PRIMARY TRACEABLE NANOMETROLOGY AT INMETRO BASED ON THE INTERFERENCE MICROSCOPE AND AFM CALIBRATION. In: VI Brazilian Congress of Metrology, 2011, Natal/Rio Grande do Norte. Proceedings, 2011.

  • CASTRO, H. F. F. ; AZEREDO, C. L. S. . Calibração de Provadores em Campo. 2015. (Apresentação de Trabalho/Seminário).

  • AIBE, V. Y. ; AQUINO, M. H. G. ; CASTRO, H. F. F. ; AZEREDO, C. L. S. . Calibration of a compact prover by water draw method using a tank prover. 2014. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

  • AZEREDO, C. L. S. ; MALINOVSKI, I. ; FRANCA, R. S. . Sistema de calibração de sensores de temperatura aplicados em calibração de blocos padrão. 2012. (Apresentação de Trabalho/Seminário).

  • AZEREDO, C. L. S. . Modernização do Comparador Interferométrico Koesters. 2011. (Apresentação de Trabalho/Seminário).

Outras produções

AZEREDO, C. L. S. ; MALINOVSKI, I. ; FRANCA, R. S. . Rastreabilidade do sistema de calibração de sensores de temperatura por comparação com termorresistência de referência. 2012. (Relatório Técnico Científico).

FRANCA, R. S. ; Costa, P.A. ; Bessa, M.S. ; AZEREDO, C. L. S. . Procedimento para a Estimativa das Componentes de Incerteza de calibração de blocos padrão de 100 mm a 1000 mm no interferômetro Koesters. 2012. (Relatório Técnico Científico).

Tarelho, L.V.G. ; AZEREDO, C. L. S. . Modernização do Comparador Interferométrico Kösters. 2010. (Relatório de pesquisa).

Tarelho, L.V.G. ; GRIENEISEN, H. P. ; AZEREDO, C. L. S. . Reestruturação do Dispositivo de Transferência da grandeza comprimento do SI. 2010. (Relatório de pesquisa).

Tarelho, L.V.G. ; AZEREDO, C. L. S. . Modernização do Comparador Interferométrico Kösters. 2009. (Relatório de pesquisa).

Tarelho, L.V.G. ; FRANCA, R. S. ; AZEREDO, C. L. S. . Reestruturação do Dispositivo de Transferência da grandeza comprimento do SI. 2009. (Relatório de pesquisa).

Projetos de pesquisa

  • 2023 - Atual

    Implantação de infraestrutura para padronização de vazão de gás e aumento da capacidade da infraestrutura implantada de vazão de água, Descrição: Implantação do laboratório de vazão instantânea de água e de calibração de medidores de gás usando PVTt.. , Situação: Em andamento; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Marcos Henrique Gonçalves de Aquino - Integrante / Priscila Costa Gabriel - Integrante / Fábio Ouverney Costa - Integrante / Samuel Araújo - Integrante / Gelson Martins da Rocha - Coordenador.

  • 2023 - Atual

    Melhoria da exatidão e ampliação da capacidade de medições de vazão mássica e vazão volumétrica de fluidos, massa totalizada e volume totalizado de fluidos, velocidade de fluidos e Volume de medidas materializadas de líquidos acima de 20 L do Inmetro., Descrição: Suporte técnico nas operações de calibração e ensaios dos laboratórios de vazão de líquidos e gases.. , Situação: Em andamento; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Marcos Henrique Gonçalves de Aquino - Integrante / Priscila Costa Gabriel - Integrante / Fábio Ouverney Costa - Integrante / Samuel Araújo - Coordenador / Gelson Martins da Rocha - Integrante.

  • 2020 - Atual

    Estudo de Condições de Contorno para Calibração de Medidores de Vazão, Descrição: O projeto visa avaliar metrologicamente os métodos e as condições de calibração especificadas na regulamentação em vigor, aplicável aos medidores de vazão utilizados nas operações de medição fiscal, transferência de custódia e apropriação (fundamentalmente), de petróleo e gás natural. Para tal, será investigada a influência das condições de contorno nas calibrações para as duas tecnologias escolhidas como alvo do estudo: medidor de vazão mássica por efeito Coriolis e medidor ultrassônico. As hipóteses identificadas, relacionadas à propriedade de "transferability" para medidores tipo Coriolis e a correlação entre os fatores de calibração e o número de Reynolds para medidores tipo ultrassônico serão avaliadas experimentalmente, nas mais diversas condições de contorno. Para isso, processos experimentais serão realizados a fim de se comparar os resultados das calibrações utilizando os métodos mencionados. Em seguida, os dados experimentais serão analisados estatisticamente de modo a concluir sobre a capacidade e a viabilidade das diferentes tecnologias de medidores de vazão serem calibrados sob os novos métodos propostos. O projeto propõe ainda o estudo sobre a adequação da definição de pontos nominais para calibração de medidores de vazão em operação.. , Situação: Em andamento; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Coordenador / Marcos Henrique Gonçalves de Aquino - Integrante / Priscila Costa Gabriel - Integrante / Douglas Almeida Garcia - Integrante / Fábio Ouverney Costa - Integrante / Samuel Araújo - Integrante / Felipe dos Santos Ferreira - Integrante / Gelson Martins da Rocha - Integrante / Jorge Gomez Sanchez - Integrante / Anderson Mascarenhas Fontes - Integrante / Edísio Alves de Aguiar Junior - Integrante / Nayara França Cavalcanti - Integrante / WERICKSON FORTUNATO DE CARVALHO ROCHA - Integrante., Financiador(es): Petróleo Brasileiro - Rio de Janeiro - Matriz - Auxílio financeiro / Fundação de Desenvolvimento da Pesquisa - Outra.

  • 2014 - 2018

    ESTUDO METROLÓGICO DE ESCOAMENTOS MULTIFÁSICOS, Descrição: O projeto visa à investigação de escoamentos multifásicos, tomando-se como base, juntamente com fundamentação teórica, estudos experimentais nos âmbitos científico e metrológico a serem realizados na busca de melhor compreensão dos fenômenos dinâmicos envolvidos neste tipo de escoamento. Também visa ao aprimoramento das metodologias e procedimentos de medição destes escoamentos.. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Heber Ferreira Franco de Castro - Integrante / Maria Helena Farias - Coordenador / Eving da Silva - Integrante / Alessandra Maciel dos Santos - Integrante.

Projetos de desenvolvimento

  • 2011 - 2012

    Desenvolvimento de metrologia dimensional em nanoescala, Descrição: Propõe-se criar pela primeira vez um sistema de microscopia de interferência primário, rastreado à unidade de comprimento do SI- o metro. Um dispositivo de transferência de rastreabilidade em nanometrologia servirá como o primeiro passo para estabelecer a base da nanometrologia nacional. O resultado principal do projeto será reconhecimento internacional de capacidade do INMETRO como provedor de medição primária na área de nanometrologia, demonstrado através da participação em intercomparações chave do BIPM na área, consolidando a metodologia que será utilizada e a planilha de incertezas a ser determinada. As aplicações esperadas são ofertas de serviços metrológicos para as áreas de nanociência e nanotecnologia nacionais. Com o microscópio de interferência Linnik é possível dar rastreabilidade a medições de micro e nanoescala como, por exemplo, medições de rugosidade realizadas com rugosímetros de ponta stylus e de padrões de degrau usados com microscópios de força atômica. O sistema será baseado no conhecimento de alto nível existente atualmente no campo de interferometria avançada de artefatos, e o proponente atua nessa área há mais de 15 anos com experiência adicional em automação laboratorial e processamento de imagens, confeccionando os próprios softwares para uso no laboratório. A vantagem deste sistema é que ele é uma extensão natural do nível de avanço da metrologia de comprimento nacional que o laboratório alcançou nos últimos anos, tendo sido desenvolvido todo o conjunto de conhecimentos necessários e testes preliminares para o desenvolvimento dessa padronização primária da área de nanotecnologia vinculada ao padrão primário macroscópico o metro O desenvolvimento de um microscópio de interferência tipo Linnik irá garantir uma continuação orgânica de boas práticas metrológicas e reforçar a capacidade existente no Laboratório de Interferometria.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (2) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Integrante / Igor Malinovski - Coordenador., Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa.

  • 2010 - 2012

    Metrologia Dimensional com pente de frequências, Descrição: A Divisão de Metrologia Óptica (Diopt) do Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) é responsável pela realização e manutenção da unidade de comprimento do Sistema Internacional de Unidades (SI) e provimento de rastreabilidade aos padrões dos laboratórios acreditados que a disseminam à indústria e comércio brasileiros. Essas atividades apóiam a área de metrologia dimensional que utiliza a grandeza comprimento e a dissemina para várias outras atividades de medição mecânica. A realização prática da grandeza de comprimento do SI é obtida através da freqüência óptica (comprimento de onda) de um laser estabilizado e a materialização da grandeza é disseminada pelo uso de blocos padrão. Os clientes atendidos pelo laboratório são companhias como FIAT, Volkswagen, Mitutoyo, Starrett, Romi e laboratórios acreditados como CERTI/Labmetro e SENAI/CETEMP. Ainda são atendidos, internamente, os laboratórios de Metrologia Dimensional (Lamed) da Divisão de Metrologia Mecânica (Dimec) e Laboratório de Vibrações (Lavib) da Divisão de Vibrações e Acústica (Diavi). Além desses clientes nacionais, a boa qualificação de resultados de comparações chave internacionais tem atraído clientes da envergadura de institutos metrológicos nacionais da América Latina como, por exemplo: INTI (Argentina), INDECOPI (Peru) e CENAM (México), demonstrando a alta capacitação dos profissionais envolvidos nestas atividades. A demanda pelos serviços tem aumentado e a modernização do parque de equipamentos tem sido uma preocupação do Inmetro, tanto que está em fase de implantação um interferômetro irradiado a laser (Gauge Block Interferometer- GBI) adquirido da Mitutoyo, que está sendo automatizado para as calibrações de blocos padrão em apoio ao Interferômetro JENA e será futuramente incluído no Sistema de Gestão da Qualidade (SGQ) do Inmetro para posterior oferta de serviços. Outra maneira de realizar a grandeza comprimento é através da relação entre comprimento e tempo .. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hakima Belaïdi - Integrante / Elizabeth Vilcañaupa Raymundo - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Coordenador / Igor Malinovski - Integrante., Financiador(es): Ministério do Desenvolvimento, Indústria e Comércio Exterior - Auxílio financeiro.

  • 2009 - 2010

    Reestruturação do dispositivo de transferência da grandeza comprimento do SI, Descrição: O Comparador Interferométrico Kösters é o dispositivo de transferência responsável pela materialização do padrão primário de comprimento em artefatos materiais (blocos padrão) úteis para disseminação da grandeza comprimento do SI. O Comparador necessita modificações em alguns de seus sistemas para ter um desempenho satisfatório nas suas atividades rotineiras bem com em intercomparações internacionais. O fator mais preponderante na planilha de incertezas das medições realizadas no equipamento é referente ao sistema de controle e medição de temperatura constituído por uma ponte DC, que será substituído por um sistema de monitoração composto por multímetros e pontes de alta sensibilidade. Outra mudança propícia para a minimização dos erros experimentais devido ao observador é a automatização do sistema de observação de franjas, substituindo a observação ocular por uma câmera CCD. Cada uma das etapas de modificação do sistema será avalizada por uma avaliação de incertezas das medições realizadas no comparador Interferométrico antes e depois das modificações. Estas avaliações darão subsídios para a construção de uma planilha de incertezas mais fidedigna que refletirá a capacidade instrumental do equipamento e que poderá ser submetida ao apêndice C do KCDB (CMCs) do BIPM. . , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Ricardo dos Santos França - Integrante / Humberto Siqueira Brandi - Coordenador / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante., Financiador(es): Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - Outra / Fundação Carlos Chagas Filho de Amparo à Pesquisa do Estado do RJ - Bolsa.

  • 2011 - 2012

    Desenvolvimento de metrologia dimensional em nanoescala, Descrição: Propõe-se criar pela primeira vez um sistema de microscopia de interferência primário, rastreado à unidade de comprimento do SI- o metro. Um dispositivo de transferência de rastreabilidade em nanometrologia servirá como o primeiro passo para estabelecer a base da nanometrologia nacional. O resultado principal do projeto será reconhecimento internacional de capacidade do INMETRO como provedor de medição primária na área de nanometrologia, demonstrado através da participação em intercomparações chave do BIPM na área, consolidando a metodologia que será utilizada e a planilha de incertezas a ser determinada. As aplicações esperadas são ofertas de serviços metrológicos para as áreas de nanociência e nanotecnologia nacionais. Com o microscópio de interferência Linnik é possível dar rastreabilidade a medições de micro e nanoescala como, por exemplo, medições de rugosidade realizadas com rugosímetros de ponta stylus e de padrões de degrau usados com microscópios de força atômica. O sistema será baseado no conhecimento de alto nível existente atualmente no campo de interferometria avançada de artefatos, e o proponente atua nessa área há mais de 15 anos com experiência adicional em automação laboratorial e processamento de imagens, confeccionando os próprios softwares para uso no laboratório. A vantagem deste sistema é que ele é uma extensão natural do nível de avanço da metrologia de comprimento nacional que o laboratório alcançou nos últimos anos, tendo sido desenvolvido todo o conjunto de conhecimentos necessários e testes preliminares para o desenvolvimento dessa padronização primária da área de nanotecnologia vinculada ao padrão primário macroscópico o metro O desenvolvimento de um microscópio de interferência tipo Linnik irá garantir uma continuação orgânica de boas práticas metrológicas e reforçar a capacidade existente no Laboratório de Interferometria.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (2) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Integrante / Igor Malinovski - Coordenador., Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa.

  • 2010 - 2012

    Metrologia Dimensional com pente de frequências, Descrição: A Divisão de Metrologia Óptica (Diopt) do Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) é responsável pela realização e manutenção da unidade de comprimento do Sistema Internacional de Unidades (SI) e provimento de rastreabilidade aos padrões dos laboratórios acreditados que a disseminam à indústria e comércio brasileiros. Essas atividades apóiam a área de metrologia dimensional que utiliza a grandeza comprimento e a dissemina para várias outras atividades de medição mecânica. A realização prática da grandeza de comprimento do SI é obtida através da freqüência óptica (comprimento de onda) de um laser estabilizado e a materialização da grandeza é disseminada pelo uso de blocos padrão. Os clientes atendidos pelo laboratório são companhias como FIAT, Volkswagen, Mitutoyo, Starrett, Romi e laboratórios acreditados como CERTI/Labmetro e SENAI/CETEMP. Ainda são atendidos, internamente, os laboratórios de Metrologia Dimensional (Lamed) da Divisão de Metrologia Mecânica (Dimec) e Laboratório de Vibrações (Lavib) da Divisão de Vibrações e Acústica (Diavi). Além desses clientes nacionais, a boa qualificação de resultados de comparações chave internacionais tem atraído clientes da envergadura de institutos metrológicos nacionais da América Latina como, por exemplo: INTI (Argentina), INDECOPI (Peru) e CENAM (México), demonstrando a alta capacitação dos profissionais envolvidos nestas atividades. A demanda pelos serviços tem aumentado e a modernização do parque de equipamentos tem sido uma preocupação do Inmetro, tanto que está em fase de implantação um interferômetro irradiado a laser (Gauge Block Interferometer- GBI) adquirido da Mitutoyo, que está sendo automatizado para as calibrações de blocos padrão em apoio ao Interferômetro JENA e será futuramente incluído no Sistema de Gestão da Qualidade (SGQ) do Inmetro para posterior oferta de serviços. Outra maneira de realizar a grandeza comprimento é através da relação entre comprimento e tempo .. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hakima Belaïdi - Integrante / Elizabeth Vilcañaupa Raymundo - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Coordenador / Igor Malinovski - Integrante., Financiador(es): Ministério do Desenvolvimento, Indústria e Comércio Exterior - Auxílio financeiro.

  • 2009 - 2010

    Reestruturação do dispositivo de transferência da grandeza comprimento do SI, Descrição: O Comparador Interferométrico Kösters é o dispositivo de transferência responsável pela materialização do padrão primário de comprimento em artefatos materiais (blocos padrão) úteis para disseminação da grandeza comprimento do SI. O Comparador necessita modificações em alguns de seus sistemas para ter um desempenho satisfatório nas suas atividades rotineiras bem com em intercomparações internacionais. O fator mais preponderante na planilha de incertezas das medições realizadas no equipamento é referente ao sistema de controle e medição de temperatura constituído por uma ponte DC, que será substituído por um sistema de monitoração composto por multímetros e pontes de alta sensibilidade. Outra mudança propícia para a minimização dos erros experimentais devido ao observador é a automatização do sistema de observação de franjas, substituindo a observação ocular por uma câmera CCD. Cada uma das etapas de modificação do sistema será avalizada por uma avaliação de incertezas das medições realizadas no comparador Interferométrico antes e depois das modificações. Estas avaliações darão subsídios para a construção de uma planilha de incertezas mais fidedigna que refletirá a capacidade instrumental do equipamento e que poderá ser submetida ao apêndice C do KCDB (CMCs) do BIPM. . , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Ricardo dos Santos França - Integrante / Humberto Siqueira Brandi - Coordenador / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante., Financiador(es): Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - Outra / Fundação Carlos Chagas Filho de Amparo à Pesquisa do Estado do RJ - Bolsa.

  • 2011 - 2012

    Desenvolvimento de metrologia dimensional em nanoescala, Descrição: Propõe-se criar pela primeira vez um sistema de microscopia de interferência primário, rastreado à unidade de comprimento do SI- o metro. Um dispositivo de transferência de rastreabilidade em nanometrologia servirá como o primeiro passo para estabelecer a base da nanometrologia nacional. O resultado principal do projeto será reconhecimento internacional de capacidade do INMETRO como provedor de medição primária na área de nanometrologia, demonstrado através da participação em intercomparações chave do BIPM na área, consolidando a metodologia que será utilizada e a planilha de incertezas a ser determinada. As aplicações esperadas são ofertas de serviços metrológicos para as áreas de nanociência e nanotecnologia nacionais. Com o microscópio de interferência Linnik é possível dar rastreabilidade a medições de micro e nanoescala como, por exemplo, medições de rugosidade realizadas com rugosímetros de ponta stylus e de padrões de degrau usados com microscópios de força atômica. O sistema será baseado no conhecimento de alto nível existente atualmente no campo de interferometria avançada de artefatos, e o proponente atua nessa área há mais de 15 anos com experiência adicional em automação laboratorial e processamento de imagens, confeccionando os próprios softwares para uso no laboratório. A vantagem deste sistema é que ele é uma extensão natural do nível de avanço da metrologia de comprimento nacional que o laboratório alcançou nos últimos anos, tendo sido desenvolvido todo o conjunto de conhecimentos necessários e testes preliminares para o desenvolvimento dessa padronização primária da área de nanotecnologia vinculada ao padrão primário macroscópico o metro O desenvolvimento de um microscópio de interferência tipo Linnik irá garantir uma continuação orgânica de boas práticas metrológicas e reforçar a capacidade existente no Laboratório de Interferometria.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (2) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Integrante / Igor Malinovski - Coordenador., Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa.

  • 2010 - 2012

    Metrologia Dimensional com pente de frequências, Descrição: A Divisão de Metrologia Óptica (Diopt) do Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) é responsável pela realização e manutenção da unidade de comprimento do Sistema Internacional de Unidades (SI) e provimento de rastreabilidade aos padrões dos laboratórios acreditados que a disseminam à indústria e comércio brasileiros. Essas atividades apóiam a área de metrologia dimensional que utiliza a grandeza comprimento e a dissemina para várias outras atividades de medição mecânica. A realização prática da grandeza de comprimento do SI é obtida através da freqüência óptica (comprimento de onda) de um laser estabilizado e a materialização da grandeza é disseminada pelo uso de blocos padrão. Os clientes atendidos pelo laboratório são companhias como FIAT, Volkswagen, Mitutoyo, Starrett, Romi e laboratórios acreditados como CERTI/Labmetro e SENAI/CETEMP. Ainda são atendidos, internamente, os laboratórios de Metrologia Dimensional (Lamed) da Divisão de Metrologia Mecânica (Dimec) e Laboratório de Vibrações (Lavib) da Divisão de Vibrações e Acústica (Diavi). Além desses clientes nacionais, a boa qualificação de resultados de comparações chave internacionais tem atraído clientes da envergadura de institutos metrológicos nacionais da América Latina como, por exemplo: INTI (Argentina), INDECOPI (Peru) e CENAM (México), demonstrando a alta capacitação dos profissionais envolvidos nestas atividades. A demanda pelos serviços tem aumentado e a modernização do parque de equipamentos tem sido uma preocupação do Inmetro, tanto que está em fase de implantação um interferômetro irradiado a laser (Gauge Block Interferometer- GBI) adquirido da Mitutoyo, que está sendo automatizado para as calibrações de blocos padrão em apoio ao Interferômetro JENA e será futuramente incluído no Sistema de Gestão da Qualidade (SGQ) do Inmetro para posterior oferta de serviços. Outra maneira de realizar a grandeza comprimento é através da relação entre comprimento e tempo .. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hakima Belaïdi - Integrante / Elizabeth Vilcañaupa Raymundo - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Coordenador / Igor Malinovski - Integrante., Financiador(es): Ministério do Desenvolvimento, Indústria e Comércio Exterior - Auxílio financeiro.

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    Reestruturação do dispositivo de transferência da grandeza comprimento do SI, Descrição: O Comparador Interferométrico Kösters é o dispositivo de transferência responsável pela materialização do padrão primário de comprimento em artefatos materiais (blocos padrão) úteis para disseminação da grandeza comprimento do SI. O Comparador necessita modificações em alguns de seus sistemas para ter um desempenho satisfatório nas suas atividades rotineiras bem com em intercomparações internacionais. O fator mais preponderante na planilha de incertezas das medições realizadas no equipamento é referente ao sistema de controle e medição de temperatura constituído por uma ponte DC, que será substituído por um sistema de monitoração composto por multímetros e pontes de alta sensibilidade. Outra mudança propícia para a minimização dos erros experimentais devido ao observador é a automatização do sistema de observação de franjas, substituindo a observação ocular por uma câmera CCD. Cada uma das etapas de modificação do sistema será avalizada por uma avaliação de incertezas das medições realizadas no comparador Interferométrico antes e depois das modificações. Estas avaliações darão subsídios para a construção de uma planilha de incertezas mais fidedigna que refletirá a capacidade instrumental do equipamento e que poderá ser submetida ao apêndice C do KCDB (CMCs) do BIPM. . , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Ricardo dos Santos França - Integrante / Humberto Siqueira Brandi - Coordenador / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante., Financiador(es): Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - Outra / Fundação Carlos Chagas Filho de Amparo à Pesquisa do Estado do RJ - Bolsa.

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    Desenvolvimento de metrologia dimensional em nanoescala, Descrição: Propõe-se criar pela primeira vez um sistema de microscopia de interferência primário, rastreado à unidade de comprimento do SI- o metro. Um dispositivo de transferência de rastreabilidade em nanometrologia servirá como o primeiro passo para estabelecer a base da nanometrologia nacional. O resultado principal do projeto será reconhecimento internacional de capacidade do INMETRO como provedor de medição primária na área de nanometrologia, demonstrado através da participação em intercomparações chave do BIPM na área, consolidando a metodologia que será utilizada e a planilha de incertezas a ser determinada. As aplicações esperadas são ofertas de serviços metrológicos para as áreas de nanociência e nanotecnologia nacionais. Com o microscópio de interferência Linnik é possível dar rastreabilidade a medições de micro e nanoescala como, por exemplo, medições de rugosidade realizadas com rugosímetros de ponta stylus e de padrões de degrau usados com microscópios de força atômica. O sistema será baseado no conhecimento de alto nível existente atualmente no campo de interferometria avançada de artefatos, e o proponente atua nessa área há mais de 15 anos com experiência adicional em automação laboratorial e processamento de imagens, confeccionando os próprios softwares para uso no laboratório. A vantagem deste sistema é que ele é uma extensão natural do nível de avanço da metrologia de comprimento nacional que o laboratório alcançou nos últimos anos, tendo sido desenvolvido todo o conjunto de conhecimentos necessários e testes preliminares para o desenvolvimento dessa padronização primária da área de nanotecnologia vinculada ao padrão primário macroscópico o metro O desenvolvimento de um microscópio de interferência tipo Linnik irá garantir uma continuação orgânica de boas práticas metrológicas e reforçar a capacidade existente no Laboratório de Interferometria.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (2) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Integrante / Igor Malinovski - Coordenador., Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa.

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    Metrologia Dimensional com pente de frequências, Descrição: A Divisão de Metrologia Óptica (Diopt) do Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) é responsável pela realização e manutenção da unidade de comprimento do Sistema Internacional de Unidades (SI) e provimento de rastreabilidade aos padrões dos laboratórios acreditados que a disseminam à indústria e comércio brasileiros. Essas atividades apóiam a área de metrologia dimensional que utiliza a grandeza comprimento e a dissemina para várias outras atividades de medição mecânica. A realização prática da grandeza de comprimento do SI é obtida através da freqüência óptica (comprimento de onda) de um laser estabilizado e a materialização da grandeza é disseminada pelo uso de blocos padrão. Os clientes atendidos pelo laboratório são companhias como FIAT, Volkswagen, Mitutoyo, Starrett, Romi e laboratórios acreditados como CERTI/Labmetro e SENAI/CETEMP. Ainda são atendidos, internamente, os laboratórios de Metrologia Dimensional (Lamed) da Divisão de Metrologia Mecânica (Dimec) e Laboratório de Vibrações (Lavib) da Divisão de Vibrações e Acústica (Diavi). Além desses clientes nacionais, a boa qualificação de resultados de comparações chave internacionais tem atraído clientes da envergadura de institutos metrológicos nacionais da América Latina como, por exemplo: INTI (Argentina), INDECOPI (Peru) e CENAM (México), demonstrando a alta capacitação dos profissionais envolvidos nestas atividades. A demanda pelos serviços tem aumentado e a modernização do parque de equipamentos tem sido uma preocupação do Inmetro, tanto que está em fase de implantação um interferômetro irradiado a laser (Gauge Block Interferometer- GBI) adquirido da Mitutoyo, que está sendo automatizado para as calibrações de blocos padrão em apoio ao Interferômetro JENA e será futuramente incluído no Sistema de Gestão da Qualidade (SGQ) do Inmetro para posterior oferta de serviços. Outra maneira de realizar a grandeza comprimento é através da relação entre comprimento e tempo .. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hakima Belaïdi - Integrante / Elizabeth Vilcañaupa Raymundo - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Coordenador / Igor Malinovski - Integrante., Financiador(es): Ministério do Desenvolvimento, Indústria e Comércio Exterior - Auxílio financeiro.

  • 2009 - 2010

    Reestruturação do dispositivo de transferência da grandeza comprimento do SI, Descrição: O Comparador Interferométrico Kösters é o dispositivo de transferência responsável pela materialização do padrão primário de comprimento em artefatos materiais (blocos padrão) úteis para disseminação da grandeza comprimento do SI. O Comparador necessita modificações em alguns de seus sistemas para ter um desempenho satisfatório nas suas atividades rotineiras bem com em intercomparações internacionais. O fator mais preponderante na planilha de incertezas das medições realizadas no equipamento é referente ao sistema de controle e medição de temperatura constituído por uma ponte DC, que será substituído por um sistema de monitoração composto por multímetros e pontes de alta sensibilidade. Outra mudança propícia para a minimização dos erros experimentais devido ao observador é a automatização do sistema de observação de franjas, substituindo a observação ocular por uma câmera CCD. Cada uma das etapas de modificação do sistema será avalizada por uma avaliação de incertezas das medições realizadas no comparador Interferométrico antes e depois das modificações. Estas avaliações darão subsídios para a construção de uma planilha de incertezas mais fidedigna que refletirá a capacidade instrumental do equipamento e que poderá ser submetida ao apêndice C do KCDB (CMCs) do BIPM.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Ricardo dos Santos França - Integrante / Humberto Siqueira Brandi - Coordenador / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante., Financiador(es): Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - Outra / Fundação Carlos Chagas Filho de Amparo à Pesquisa do Estado do RJ - Bolsa.

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    Desenvolvimento de metrologia dimensional em nanoescala, Descrição: Propõe-se criar pela primeira vez um sistema de microscopia de interferência primário, rastreado à unidade de comprimento do SI- o metro. Um dispositivo de transferência de rastreabilidade em nanometrologia servirá como o primeiro passo para estabelecer a base da nanometrologia nacional. O resultado principal do projeto será reconhecimento internacional de capacidade do INMETRO como provedor de medição primária na área de nanometrologia, demonstrado através da participação em intercomparações chave do BIPM na área, consolidando a metodologia que será utilizada e a planilha de incertezas a ser determinada. As aplicações esperadas são ofertas de serviços metrológicos para as áreas de nanociência e nanotecnologia nacionais. Com o microscópio de interferência Linnik é possível dar rastreabilidade a medições de micro e nanoescala como, por exemplo, medições de rugosidade realizadas com rugosímetros de ponta stylus e de padrões de degrau usados com microscópios de força atômica. O sistema será baseado no conhecimento de alto nível existente atualmente no campo de interferometria avançada de artefatos, e o proponente atua nessa área há mais de 15 anos com experiência adicional em automação laboratorial e processamento de imagens, confeccionando os próprios softwares para uso no laboratório. A vantagem deste sistema é que ele é uma extensão natural do nível de avanço da metrologia de comprimento nacional que o laboratório alcançou nos últimos anos, tendo sido desenvolvido todo o conjunto de conhecimentos necessários e testes preliminares para o desenvolvimento dessa padronização primária da área de nanotecnologia vinculada ao padrão primário macroscópico o metro O desenvolvimento de um microscópio de interferência tipo Linnik irá garantir uma continuação orgânica de boas práticas metrológicas e reforçar a capacidade existente no Laboratório de Interferometria.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (2) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Integrante / Igor Malinovski - Coordenador., Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa.

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    Metrologia Dimensional com pente de frequências, Descrição: A Divisão de Metrologia Óptica (Diopt) do Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) é responsável pela realização e manutenção da unidade de comprimento do Sistema Internacional de Unidades (SI) e provimento de rastreabilidade aos padrões dos laboratórios acreditados que a disseminam à indústria e comércio brasileiros. Essas atividades apóiam a área de metrologia dimensional que utiliza a grandeza comprimento e a dissemina para várias outras atividades de medição mecânica. A realização prática da grandeza de comprimento do SI é obtida através da freqüência óptica (comprimento de onda) de um laser estabilizado e a materialização da grandeza é disseminada pelo uso de blocos padrão. Os clientes atendidos pelo laboratório são companhias como FIAT, Volkswagen, Mitutoyo, Starrett, Romi e laboratórios acreditados como CERTI/Labmetro e SENAI/CETEMP. Ainda são atendidos, internamente, os laboratórios de Metrologia Dimensional (Lamed) da Divisão de Metrologia Mecânica (Dimec) e Laboratório de Vibrações (Lavib) da Divisão de Vibrações e Acústica (Diavi). Além desses clientes nacionais, a boa qualificação de resultados de comparações chave internacionais tem atraído clientes da envergadura de institutos metrológicos nacionais da América Latina como, por exemplo: INTI (Argentina), INDECOPI (Peru) e CENAM (México), demonstrando a alta capacitação dos profissionais envolvidos nestas atividades. A demanda pelos serviços tem aumentado e a modernização do parque de equipamentos tem sido uma preocupação do Inmetro, tanto que está em fase de implantação um interferômetro irradiado a laser (Gauge Block Interferometer- GBI) adquirido da Mitutoyo, que está sendo automatizado para as calibrações de blocos padrão em apoio ao Interferômetro JENA e será futuramente incluído no Sistema de Gestão da Qualidade (SGQ) do Inmetro para posterior oferta de serviços. Outra maneira de realizar a grandeza comprimento é através da relação entre comprimento e tempo .. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hakima Belaïdi - Integrante / Elizabeth Vilcañaupa Raymundo - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Coordenador / Igor Malinovski - Integrante., Financiador(es): Ministério do Desenvolvimento, Indústria e Comércio Exterior - Auxílio financeiro.

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    Reestruturação do dispositivo de transferência da grandeza comprimento do SI, Descrição: O Comparador Interferométrico Kösters é o dispositivo de transferência responsável pela materialização do padrão primário de comprimento em artefatos materiais (blocos padrão) úteis para disseminação da grandeza comprimento do SI. O Comparador necessita modificações em alguns de seus sistemas para ter um desempenho satisfatório nas suas atividades rotineiras bem com em intercomparações internacionais. O fator mais preponderante na planilha de incertezas das medições realizadas no equipamento é referente ao sistema de controle e medição de temperatura constituído por uma ponte DC, que será substituído por um sistema de monitoração composto por multímetros e pontes de alta sensibilidade. Outra mudança propícia para a minimização dos erros experimentais devido ao observador é a automatização do sistema de observação de franjas, substituindo a observação ocular por uma câmera CCD. Cada uma das etapas de modificação do sistema será avalizada por uma avaliação de incertezas das medições realizadas no comparador Interferométrico antes e depois das modificações. Estas avaliações darão subsídios para a construção de uma planilha de incertezas mais fidedigna que refletirá a capacidade instrumental do equipamento e que poderá ser submetida ao apêndice C do KCDB (CMCs) do BIPM.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Ricardo dos Santos França - Integrante / Humberto Siqueira Brandi - Coordenador / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante., Financiador(es): Fundação Carlos Chagas Filho de Amparo à Pesquisa do Estado do RJ - Bolsa / Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - Outra.

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    Desenvolvimento de metrologia dimensional em nanoescala, Descrição: Propõe-se criar pela primeira vez um sistema de microscopia de interferência primário, rastreado à unidade de comprimento do SI- o metro. Um dispositivo de transferência de rastreabilidade em nanometrologia servirá como o primeiro passo para estabelecer a base da nanometrologia nacional. O resultado principal do projeto será reconhecimento internacional de capacidade do INMETRO como provedor de medição primária na área de nanometrologia, demonstrado através da participação em intercomparações chave do BIPM na área, consolidando a metodologia que será utilizada e a planilha de incertezas a ser determinada. As aplicações esperadas são ofertas de serviços metrológicos para as áreas de nanociência e nanotecnologia nacionais. Com o microscópio de interferência Linnik é possível dar rastreabilidade a medições de micro e nanoescala como, por exemplo, medições de rugosidade realizadas com rugosímetros de ponta stylus e de padrões de degrau usados com microscópios de força atômica. O sistema será baseado no conhecimento de alto nível existente atualmente no campo de interferometria avançada de artefatos, e o proponente atua nessa área há mais de 15 anos com experiência adicional em automação laboratorial e processamento de imagens, confeccionando os próprios softwares para uso no laboratório. A vantagem deste sistema é que ele é uma extensão natural do nível de avanço da metrologia de comprimento nacional que o laboratório alcançou nos últimos anos, tendo sido desenvolvido todo o conjunto de conhecimentos necessários e testes preliminares para o desenvolvimento dessa padronização primária da área de nanotecnologia vinculada ao padrão primário macroscópico o metro O desenvolvimento de um microscópio de interferência tipo Linnik irá garantir uma continuação orgânica de boas práticas metrológicas e reforçar a capacidade existente no Laboratório de Interferometria.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (2) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Integrante / Igor Malinovski - Coordenador.Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa.

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    Metrologia Dimensional com pente de frequências, Descrição: A Divisão de Metrologia Óptica (Diopt) do Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) é responsável pela realização e manutenção da unidade de comprimento do Sistema Internacional de Unidades (SI) e provimento de rastreabilidade aos padrões dos laboratórios acreditados que a disseminam à indústria e comércio brasileiros. Essas atividades apóiam a área de metrologia dimensional que utiliza a grandeza comprimento e a dissemina para várias outras atividades de medição mecânica. A realização prática da grandeza de comprimento do SI é obtida através da freqüência óptica (comprimento de onda) de um laser estabilizado e a materialização da grandeza é disseminada pelo uso de blocos padrão. Os clientes atendidos pelo laboratório são companhias como FIAT, Volkswagen, Mitutoyo, Starrett, Romi e laboratórios acreditados como CERTI/Labmetro e SENAI/CETEMP. Ainda são atendidos, internamente, os laboratórios de Metrologia Dimensional (Lamed) da Divisão de Metrologia Mecânica (Dimec) e Laboratório de Vibrações (Lavib) da Divisão de Vibrações e Acústica (Diavi). Além desses clientes nacionais, a boa qualificação de resultados de comparações chave internacionais tem atraído clientes da envergadura de institutos metrológicos nacionais da América Latina como, por exemplo: INTI (Argentina), INDECOPI (Peru) e CENAM (México), demonstrando a alta capacitação dos profissionais envolvidos nestas atividades. A demanda pelos serviços tem aumentado e a modernização do parque de equipamentos tem sido uma preocupação do Inmetro, tanto que está em fase de implantação um interferômetro irradiado a laser (Gauge Block Interferometer- GBI) adquirido da Mitutoyo, que está sendo automatizado para as calibrações de blocos padrão em apoio ao Interferômetro JENA e será futuramente incluído no Sistema de Gestão da Qualidade (SGQ) do Inmetro para posterior oferta de serviços. Outra maneira de realizar a grandeza comprimento é através da relação entre comprimento e tempo .. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hakima Belaïdi - Integrante / Elizabeth Vilcañaupa Raymundo - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Coordenador / Igor Malinovski - Integrante.Financiador(es): Ministério do Desenvolvimento, Indústria e Comércio Exterior - Auxílio financeiro.

  • 2009 - 2010

    Reestruturação do dispositivo de transferência da grandeza comprimento do SI, Descrição: O Comparador Interferométrico Kösters é o dispositivo de transferência responsável pela materialização do padrão primário de comprimento em artefatos materiais (blocos padrão) úteis para disseminação da grandeza comprimento do SI. O Comparador necessita modificações em alguns de seus sistemas para ter um desempenho satisfatório nas suas atividades rotineiras bem com em intercomparações internacionais. O fator mais preponderante na planilha de incertezas das medições realizadas no equipamento é referente ao sistema de controle e medição de temperatura constituído por uma ponte DC, que será substituído por um sistema de monitoração composto por multímetros e pontes de alta sensibilidade. Outra mudança propícia para a minimização dos erros experimentais devido ao observador é a automatização do sistema de observação de franjas, substituindo a observação ocular por uma câmera CCD. Cada uma das etapas de modificação do sistema será avalizada por uma avaliação de incertezas das medições realizadas no comparador Interferométrico antes e depois das modificações. Estas avaliações darão subsídios para a construção de uma planilha de incertezas mais fidedigna que refletirá a capacidade instrumental do equipamento e que poderá ser submetida ao apêndice C do KCDB (CMCs) do BIPM.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento.

  • 2011 - 2012

    Desenvolvimento de metrologia dimensional em nanoescala, Descrição: Propõe-se criar pela primeira vez um sistema de microscopia de interferência primário, rastreado à unidade de comprimento do SI- o metro. Um dispositivo de transferência de rastreabilidade em nanometrologia servirá como o primeiro passo para estabelecer a base da nanometrologia nacional. O resultado principal do projeto será reconhecimento internacional de capacidade do INMETRO como provedor de medição primária na área de nanometrologia, demonstrado através da participação em intercomparações chave do BIPM na área, consolidando a metodologia que será utilizada e a planilha de incertezas a ser determinada. As aplicações esperadas são ofertas de serviços metrológicos para as áreas de nanociência e nanotecnologia nacionais. Com o microscópio de interferência Linnik é possível dar rastreabilidade a medições de micro e nanoescala como, por exemplo, medições de rugosidade realizadas com rugosímetros de ponta stylus e de padrões de degrau usados com microscópios de força atômica. O sistema será baseado no conhecimento de alto nível existente atualmente no campo de interferometria avançada de artefatos, e o proponente atua nessa área há mais de 15 anos com experiência adicional em automação laboratorial e processamento de imagens, confeccionando os próprios softwares para uso no laboratório. A vantagem deste sistema é que ele é uma extensão natural do nível de avanço da metrologia de comprimento nacional que o laboratório alcançou nos últimos anos, tendo sido desenvolvido todo o conjunto de conhecimentos necessários e testes preliminares para o desenvolvimento dessa padronização primária da área de nanotecnologia vinculada ao padrão primário macroscópico o metro O desenvolvimento de um microscópio de interferência tipo Linnik irá garantir uma continuação orgânica de boas práticas metrológicas e reforçar a capacidade existente no Laboratório de Interferometria.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (2) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Integrante / Igor Malinovski - Coordenador., Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa.

  • 2010 - 2012

    Metrologia Dimensional com pente de frequências, Descrição: A Divisão de Metrologia Óptica (Diopt) do Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) é responsável pela realização e manutenção da unidade de comprimento do Sistema Internacional de Unidades (SI) e provimento de rastreabilidade aos padrões dos laboratórios acreditados que a disseminam à indústria e comércio brasileiros. Essas atividades apóiam a área de metrologia dimensional que utiliza a grandeza comprimento e a dissemina para várias outras atividades de medição mecânica. A realização prática da grandeza de comprimento do SI é obtida através da freqüência óptica (comprimento de onda) de um laser estabilizado e a materialização da grandeza é disseminada pelo uso de blocos padrão. Os clientes atendidos pelo laboratório são companhias como FIAT, Volkswagen, Mitutoyo, Starrett, Romi e laboratórios acreditados como CERTI/Labmetro e SENAI/CETEMP. Ainda são atendidos, internamente, os laboratórios de Metrologia Dimensional (Lamed) da Divisão de Metrologia Mecânica (Dimec) e Laboratório de Vibrações (Lavib) da Divisão de Vibrações e Acústica (Diavi). Além desses clientes nacionais, a boa qualificação de resultados de comparações chave internacionais tem atraído clientes da envergadura de institutos metrológicos nacionais da América Latina como, por exemplo: INTI (Argentina), INDECOPI (Peru) e CENAM (México), demonstrando a alta capacitação dos profissionais envolvidos nestas atividades. A demanda pelos serviços tem aumentado e a modernização do parque de equipamentos tem sido uma preocupação do Inmetro, tanto que está em fase de implantação um interferômetro irradiado a laser (Gauge Block Interferometer- GBI) adquirido da Mitutoyo, que está sendo automatizado para as calibrações de blocos padrão em apoio ao Interferômetro JENA e será futuramente incluído no Sistema de Gestão da Qualidade (SGQ) do Inmetro para posterior oferta de serviços. Outra maneira de realizar a grandeza comprimento é através da relação entre comprimento e tempo .. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hakima Belaïdi - Integrante / Elizabeth Vilcañaupa Raymundo - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Coordenador / Igor Malinovski - Integrante., Financiador(es): Ministério do Desenvolvimento, Indústria e Comércio Exterior - Auxílio financeiro.

  • 2009 - 2010

    Reestruturação do dispositivo de transferência da grandeza comprimento do SI, Descrição: O Comparador Interferométrico Kösters é o dispositivo de transferência responsável pela materialização do padrão primário de comprimento em artefatos materiais (blocos padrão) úteis para disseminação da grandeza comprimento do SI. O Comparador necessita modificações em alguns de seus sistemas para ter um desempenho satisfatório nas suas atividades rotineiras bem com em intercomparações internacionais. O fator mais preponderante na planilha de incertezas das medições realizadas no equipamento é referente ao sistema de controle e medição de temperatura constituído por uma ponte DC, que será substituído por um sistema de monitoração composto por multímetros e pontes de alta sensibilidade. Outra mudança propícia para a minimização dos erros experimentais devido ao observador é a automatização do sistema de observação de franjas, substituindo a observação ocular por uma câmera CCD. Cada uma das etapas de modificação do sistema será avalizada por uma avaliação de incertezas das medições realizadas no comparador Interferométrico antes e depois das modificações. Estas avaliações darão subsídios para a construção de uma planilha de incertezas mais fidedigna que refletirá a capacidade instrumental do equipamento e que poderá ser submetida ao apêndice C do KCDB (CMCs) do BIPM.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Ricardo dos Santos França - Integrante / Humberto Siqueira Brandi - Coordenador / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante., Financiador(es): Fundação Carlos Chagas Filho de Amparo à Pesquisa do Estado do RJ - Bolsa / Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - Outra.

  • 2011 - 2012

    Desenvolvimento de metrologia dimensional em nanoescala, Descrição: Propõe-se criar pela primeira vez um sistema de microscopia de interferência primário, rastreado à unidade de comprimento do SI- o metro. Um dispositivo de transferência de rastreabilidade em nanometrologia servirá como o primeiro passo para estabelecer a base da nanometrologia nacional. O resultado principal do projeto será reconhecimento internacional de capacidade do INMETRO como provedor de medição primária na área de nanometrologia, demonstrado através da participação em intercomparações chave do BIPM na área, consolidando a metodologia que será utilizada e a planilha de incertezas a ser determinada. As aplicações esperadas são ofertas de serviços metrológicos para as áreas de nanociência e nanotecnologia nacionais. Com o microscópio de interferência Linnik é possível dar rastreabilidade a medições de micro e nanoescala como, por exemplo, medições de rugosidade realizadas com rugosímetros de ponta stylus e de padrões de degrau usados com microscópios de força atômica. O sistema será baseado no conhecimento de alto nível existente atualmente no campo de interferometria avançada de artefatos, e o proponente atua nessa área há mais de 15 anos com experiência adicional em automação laboratorial e processamento de imagens, confeccionando os próprios softwares para uso no laboratório. A vantagem deste sistema é que ele é uma extensão natural do nível de avanço da metrologia de comprimento nacional que o laboratório alcançou nos últimos anos, tendo sido desenvolvido todo o conjunto de conhecimentos necessários e testes preliminares para o desenvolvimento dessa padronização primária da área de nanotecnologia vinculada ao padrão primário macroscópico o metro O desenvolvimento de um microscópio de interferência tipo Linnik irá garantir uma continuação orgânica de boas práticas metrológicas e reforçar a capacidade existente no Laboratório de Interferometria.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (2) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Integrante / Igor Malinovski - Coordenador., Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa.

  • 2010 - 2012

    Metrologia Dimensional com pente de frequências, Descrição: A Divisão de Metrologia Óptica (Diopt) do Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) é responsável pela realização e manutenção da unidade de comprimento do Sistema Internacional de Unidades (SI) e provimento de rastreabilidade aos padrões dos laboratórios acreditados que a disseminam à indústria e comércio brasileiros. Essas atividades apóiam a área de metrologia dimensional que utiliza a grandeza comprimento e a dissemina para várias outras atividades de medição mecânica. A realização prática da grandeza de comprimento do SI é obtida através da freqüência óptica (comprimento de onda) de um laser estabilizado e a materialização da grandeza é disseminada pelo uso de blocos padrão. Os clientes atendidos pelo laboratório são companhias como FIAT, Volkswagen, Mitutoyo, Starrett, Romi e laboratórios acreditados como CERTI/Labmetro e SENAI/CETEMP. Ainda são atendidos, internamente, os laboratórios de Metrologia Dimensional (Lamed) da Divisão de Metrologia Mecânica (Dimec) e Laboratório de Vibrações (Lavib) da Divisão de Vibrações e Acústica (Diavi). Além desses clientes nacionais, a boa qualificação de resultados de comparações chave internacionais tem atraído clientes da envergadura de institutos metrológicos nacionais da América Latina como, por exemplo: INTI (Argentina), INDECOPI (Peru) e CENAM (México), demonstrando a alta capacitação dos profissionais envolvidos nestas atividades. A demanda pelos serviços tem aumentado e a modernização do parque de equipamentos tem sido uma preocupação do Inmetro, tanto que está em fase de implantação um interferômetro irradiado a laser (Gauge Block Interferometer- GBI) adquirido da Mitutoyo, que está sendo automatizado para as calibrações de blocos padrão em apoio ao Interferômetro JENA e será futuramente incluído no Sistema de Gestão da Qualidade (SGQ) do Inmetro para posterior oferta de serviços. Outra maneira de realizar a grandeza comprimento é através da relação entre comprimento e tempo .. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hakima Belaïdi - Integrante / Elizabeth Vilcaaupa Raymundo - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Coordenador / Igor Malinovski - Integrante., Financiador(es): Ministério do Desenvolvimento, Indústria e Comércio Exterior - Auxílio financeiro.

  • 2009 - 2010

    Reestruturação do dispositivo de transferência da grandeza comprimento do SI, Descrição: O Comparador Interferométrico Kösters é o dispositivo de transferência responsável pela materialização do padrão primário de comprimento em artefatos materiais (blocos padrão) úteis para disseminação da grandeza comprimento do SI. O Comparador necessita modificações em alguns de seus sistemas para ter um desempenho satisfatório nas suas atividades rotineiras bem com em intercomparações internacionais. O fator mais preponderante na planilha de incertezas das medições realizadas no equipamento é referente ao sistema de controle e medição de temperatura constituído por uma ponte DC, que será substituído por um sistema de monitoração composto por multímetros e pontes de alta sensibilidade. Outra mudança propícia para a minimização dos erros experimentais devido ao observador é a automatização do sistema de observação de franjas, substituindo a observação ocular por uma câmera CCD. Cada uma das etapas de modificação do sistema será avalizada por uma avaliação de incertezas das medições realizadas no comparador Interferométrico antes e depois das modificações. Estas avaliações darão subsídios para a construção de uma planilha de incertezas mais fidedigna que refletirá a capacidade instrumental do equipamento e que poderá ser submetida ao apêndice C do KCDB (CMCs) do BIPM.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Ricardo dos Santos França - Integrante / Humberto Siqueira Brandi - Coordenador / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante., Financiador(es): Fundação Carlos Chagas Filho de Amparo à Pesquisa do Estado do RJ - Bolsa / Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - Outra.

  • 2011 - 2012

    Desenvolvimento de metrologia dimensional em nanoescala, Descrição: Propõe-se criar pela primeira vez um sistema de microscopia de interferência primário, rastreado à unidade de comprimento do SI- o metro. Um dispositivo de transferência de rastreabilidade em nanometrologia servirá como o primeiro passo para estabelecer a base da nanometrologia nacional. O resultado principal do projeto será reconhecimento internacional de capacidade do INMETRO como provedor de medição primária na área de nanometrologia, demonstrado através da participação em intercomparações chave do BIPM na área, consolidando a metodologia que será utilizada e a planilha de incertezas a ser determinada. As aplicações esperadas são ofertas de serviços metrológicos para as áreas de nanociência e nanotecnologia nacionais. Com o microscópio de interferência Linnik é possível dar rastreabilidade a medições de micro e nanoescala como, por exemplo, medições de rugosidade realizadas com rugosímetros de ponta stylus e de padrões de degrau usados com microscópios de força atômica. O sistema será baseado no conhecimento de alto nível existente atualmente no campo de interferometria avançada de artefatos, e o proponente atua nessa área há mais de 15 anos com experiência adicional em automação laboratorial e processamento de imagens, confeccionando os próprios softwares para uso no laboratório. A vantagem deste sistema é que ele é uma extensão natural do nível de avanço da metrologia de comprimento nacional que o laboratório alcançou nos últimos anos, tendo sido desenvolvido todo o conjunto de conhecimentos necessários e testes preliminares para o desenvolvimento dessa padronização primária da área de nanotecnologia vinculada ao padrão primário macroscópico o metro O desenvolvimento de um microscópio de interferência tipo Linnik irá garantir uma continuação orgânica de boas práticas metrológicas e reforçar a capacidade existente no Laboratório de Interferometria.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (2) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Integrante / Igor Malinovski - Coordenador., Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa.

  • 2010 - 2012

    Metrologia Dimensional com pente de frequências, Descrição: A Divisão de Metrologia Óptica (Diopt) do Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) é responsável pela realização e manutenção da unidade de comprimento do Sistema Internacional de Unidades (SI) e provimento de rastreabilidade aos padrões dos laboratórios acreditados que a disseminam à indústria e comércio brasileiros. Essas atividades apóiam a área de metrologia dimensional que utiliza a grandeza comprimento e a dissemina para várias outras atividades de medição mecânica. A realização prática da grandeza de comprimento do SI é obtida através da freqüência óptica (comprimento de onda) de um laser estabilizado e a materialização da grandeza é disseminada pelo uso de blocos padrão. Os clientes atendidos pelo laboratório são companhias como FIAT, Volkswagen, Mitutoyo, Starrett, Romi e laboratórios acreditados como CERTI/Labmetro e SENAI/CETEMP. Ainda são atendidos, internamente, os laboratórios de Metrologia Dimensional (Lamed) da Divisão de Metrologia Mecânica (Dimec) e Laboratório de Vibrações (Lavib) da Divisão de Vibrações e Acústica (Diavi). Além desses clientes nacionais, a boa qualificação de resultados de comparações chave internacionais tem atraído clientes da envergadura de institutos metrológicos nacionais da América Latina como, por exemplo: INTI (Argentina), INDECOPI (Peru) e CENAM (México), demonstrando a alta capacitação dos profissionais envolvidos nestas atividades. A demanda pelos serviços tem aumentado e a modernização do parque de equipamentos tem sido uma preocupação do Inmetro, tanto que está em fase de implantação um interferômetro irradiado a laser (Gauge Block Interferometer- GBI) adquirido da Mitutoyo, que está sendo automatizado para as calibrações de blocos padrão em apoio ao Interferômetro JENA e será futuramente incluído no Sistema de Gestão da Qualidade (SGQ) do Inmetro para posterior oferta de serviços. Outra maneira de realizar a grandeza comprimento é através da relação entre comprimento e tempo .. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hakima Belaïdi - Integrante / Elizabeth Vilcaaupa Raymundo - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Coordenador / Igor Malinovski - Integrante., Financiador(es): Ministério do Desenvolvimento, Indústria e Comércio Exterior - Auxílio financeiro.

  • 2009 - 2010

    Reestruturação do dispositivo de transferência da grandeza comprimento do SI, Descrição: O Comparador Interferométrico Kösters é o dispositivo de transferência responsável pela materialização do padrão primário de comprimento em artefatos materiais (blocos padrão) úteis para disseminação da grandeza comprimento do SI. O Comparador necessita modificações em alguns de seus sistemas para ter um desempenho satisfatório nas suas atividades rotineiras bem com em intercomparações internacionais. O fator mais preponderante na planilha de incertezas das medições realizadas no equipamento é referente ao sistema de controle e medição de temperatura constituído por uma ponte DC, que será substituído por um sistema de monitoração composto por multímetros e pontes de alta sensibilidade. Outra mudança propícia para a minimização dos erros experimentais devido ao observador é a automatização do sistema de observação de franjas, substituindo a observação ocular por uma câmera CCD. Cada uma das etapas de modificação do sistema será avalizada por uma avaliação de incertezas das medições realizadas no comparador Interferométrico antes e depois das modificações. Estas avaliações darão subsídios para a construção de uma planilha de incertezas mais fidedigna que refletirá a capacidade instrumental do equipamento e que poderá ser submetida ao apêndice C do KCDB (CMCs) do BIPM.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Ricardo dos Santos França - Integrante / Humberto Siqueira Brandi - Coordenador / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante., Financiador(es): Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - Outra / Fundação Carlos Chagas Filho de Amparo à Pesquisa do Estado do RJ - Bolsa.

  • 2011 - 2012

    Desenvolvimento de metrologia dimensional em nanoescala, Descrição: Propõe-se criar pela primeira vez um sistema de microscopia de interferência primário, rastreado à unidade de comprimento do SI- o metro. Um dispositivo de transferência de rastreabilidade em nanometrologia servirá como o primeiro passo para estabelecer a base da nanometrologia nacional. O resultado principal do projeto será reconhecimento internacional de capacidade do INMETRO como provedor de medição primária na área de nanometrologia, demonstrado através da participação em intercomparações chave do BIPM na área, consolidando a metodologia que será utilizada e a planilha de incertezas a ser determinada. As aplicações esperadas são ofertas de serviços metrológicos para as áreas de nanociência e nanotecnologia nacionais. Com o microscópio de interferência Linnik é possível dar rastreabilidade a medições de micro e nanoescala como, por exemplo, medições de rugosidade realizadas com rugosímetros de ponta stylus e de padrões de degrau usados com microscópios de força atômica. O sistema será baseado no conhecimento de alto nível existente atualmente no campo de interferometria avançada de artefatos, e o proponente atua nessa área há mais de 15 anos com experiência adicional em automação laboratorial e processamento de imagens, confeccionando os próprios softwares para uso no laboratório. A vantagem deste sistema é que ele é uma extensão natural do nível de avanço da metrologia de comprimento nacional que o laboratório alcançou nos últimos anos, tendo sido desenvolvido todo o conjunto de conhecimentos necessários e testes preliminares para o desenvolvimento dessa padronização primária da área de nanotecnologia vinculada ao padrão primário macroscópico o metro O desenvolvimento de um microscópio de interferência tipo Linnik irá garantir uma continuação orgânica de boas práticas metrológicas e reforçar a capacidade existente no Laboratório de Interferometria.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (2) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Integrante / Igor Malinovski - Coordenador., Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa.

  • 2010 - 2012

    Metrologia Dimensional com pente de frequências, Descrição: A Divisão de Metrologia Óptica (Diopt) do Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) é responsável pela realização e manutenção da unidade de comprimento do Sistema Internacional de Unidades (SI) e provimento de rastreabilidade aos padrões dos laboratórios acreditados que a disseminam à indústria e comércio brasileiros. Essas atividades apóiam a área de metrologia dimensional que utiliza a grandeza comprimento e a dissemina para várias outras atividades de medição mecânica. A realização prática da grandeza de comprimento do SI é obtida através da freqüência óptica (comprimento de onda) de um laser estabilizado e a materialização da grandeza é disseminada pelo uso de blocos padrão. Os clientes atendidos pelo laboratório são companhias como FIAT, Volkswagen, Mitutoyo, Starrett, Romi e laboratórios acreditados como CERTI/Labmetro e SENAI/CETEMP. Ainda são atendidos, internamente, os laboratórios de Metrologia Dimensional (Lamed) da Divisão de Metrologia Mecânica (Dimec) e Laboratório de Vibrações (Lavib) da Divisão de Vibrações e Acústica (Diavi). Além desses clientes nacionais, a boa qualificação de resultados de comparações chave internacionais tem atraído clientes da envergadura de institutos metrológicos nacionais da América Latina como, por exemplo: INTI (Argentina), INDECOPI (Peru) e CENAM (México), demonstrando a alta capacitação dos profissionais envolvidos nestas atividades. A demanda pelos serviços tem aumentado e a modernização do parque de equipamentos tem sido uma preocupação do Inmetro, tanto que está em fase de implantação um interferômetro irradiado a laser (Gauge Block Interferometer- GBI) adquirido da Mitutoyo, que está sendo automatizado para as calibrações de blocos padrão em apoio ao Interferômetro JENA e será futuramente incluído no Sistema de Gestão da Qualidade (SGQ) do Inmetro para posterior oferta de serviços. Outra maneira de realizar a grandeza comprimento é através da relação entre comprimento e tempo .. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) . , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante / Natacha Cristina Eckardt Pereira - Integrante / Hakima Belaïdi - Integrante / Elizabeth Vilcañaupa Raymundo - Integrante / Hans Peter Grieneisen - Coordenador / Igor Malinovski - Integrante., Financiador(es): Ministério do Desenvolvimento, Indústria e Comércio Exterior - Auxílio financeiro.

  • 2009 - 2010

    Reestruturação do dispositivo de transferência da grandeza comprimento do SI, Descrição: O Comparador Interferométrico Kösters é o dispositivo de transferência responsável pela materialização do padrão primário de comprimento em artefatos materiais (blocos padrão) úteis para disseminação da grandeza comprimento do SI. O Comparador necessita modificações em alguns de seus sistemas para ter um desempenho satisfatório nas suas atividades rotineiras bem com em intercomparações internacionais. O fator mais preponderante na planilha de incertezas das medições realizadas no equipamento é referente ao sistema de controle e medição de temperatura constituído por uma ponte DC, que será substituído por um sistema de monitoração composto por multímetros e pontes de alta sensibilidade. Outra mudança propícia para a minimização dos erros experimentais devido ao observador é a automatização do sistema de observação de franjas, substituindo a observação ocular por uma câmera CCD. Cada uma das etapas de modificação do sistema será avalizada por uma avaliação de incertezas das medições realizadas no comparador Interferométrico antes e depois das modificações. Estas avaliações darão subsídios para a construção de uma planilha de incertezas mais fidedigna que refletirá a capacidade instrumental do equipamento e que poderá ser submetida ao apêndice C do KCDB (CMCs) do BIPM.. , Situação: Concluído; Natureza: Desenvolvimento. , Integrantes: Carlos Leonardo da Silva Azeredo - Integrante / Luiz Vicente Gomes Tarelho - Integrante / Ana Paula Dornelles de Alvarenga - Integrante / Ricardo dos Santos França - Integrante / Humberto Siqueira Brandi - Coordenador / Iakyra Borrakuens Couceiro - Integrante., Financiador(es): Fundação Carlos Chagas Filho de Amparo à Pesquisa do Estado do RJ - Bolsa / Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - Outra.

Histórico profissional

Endereço profissional

  • Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, Diretoria de Metrologia Científica e Industrial, Divisão de Metrologia em Dinâmica de Fluidos. , Av. Nossa Senhora das Graças, 50, Xerém, 25250020 - Duque de Caxias, RJ - Brasil, Telefone: (21) 21453210, URL da Homepage:

Experiência profissional

2012 - Atual

Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia

Vínculo: Servidor Público, Enquadramento Funcional: Técnico em Metrologia e Qualidade, Carga horária: 40

Outras informações:
Técnico em Metrologia e Qualidade da Divisão de Metrologia em Dinâmica de Fluidos. Atuação em calibrações de Medidores de vazão, provadores tipo pistão e medidas materializadas de volume.

2011 - 2012

Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia

Vínculo: Servidor Público, Enquadramento Funcional: Técnico em Metrologia e Qualidade, Carga horária: 40

Outras informações:
Técnico em Metrologia e Qualidade da Divisão de Metrologia Óptica. Atuando como Coordenador Substituto da Qualidade do Laboratório de Interferometria no período de 14/09/2010 a 02/05/2012.

2009 - 2011

Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia

Vínculo: Colaborador, Enquadramento Funcional: Bolsista - Técnico em Metrologia, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Coordenador Substituto da Qualidade do Laboratório de Interferometria.

2004 - 2005

Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia

Vínculo: Colaborador, Enquadramento Funcional: Bolsista - Técnico em Metrologia, Carga horária: 40

Outras informações:
Diretoria de Metrologia Científica e Industrial ?Dimci. Divisão de Metrologia Óptica ? Diopt. Laboratório de Interferometria. Atividades: Calibração de blocos-padrão por método Interferométrico, atuando como signatário autorizado, e também atuando no apoio à coordenação da qualidade. Auxílio ao Curso Técnico de Metrologia SEE-RJ/ INMETRO, atuando como monitor da disciplina Interferometria, professor M.Sc Ricardo dos Santos França.

2002 - 2002

Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia

Vínculo: Estagiário, Enquadramento Funcional: Estagiário, Carga horária: 20, Regime: Dedicação exclusiva.

Outras informações:
Diretoria de Metrologia Científica e Industrial - Dimci Divisão de Metrologia Mecânica - Dimec Laboratório de Força, Torque e Dureza - Lafor. Atividades: Calibrações de Transdutores de força, células de carga, anel/anéis dinamométricos, caixas de taragem, torquimetros, trandutores de torque e durômetro.

Atividades

  • 10/2012

    Pesquisa e desenvolvimento, Diretoria de Metrologia Científica e Industrial, Divisão de Metrologia em Dinâmica de Fluidos.,Linhas de pesquisa

  • 06/2009 - 10/2012

    Pesquisa e desenvolvimento, Diretoria de Metrologia Científica e Industrial, Divisão de Metrologia Óptica / Laboratório de Interferometria.,Linhas de pesquisa

2006 - 2008

Comaf Indústria Aeronáutica Ltda

Vínculo: Celetista formal, Enquadramento Funcional: Gerente de Metrologia, Carga horária: 40

Outras informações:
Atividades: Atuando como Gerente de Metrologia, mantendo a rastreabilidade dos instrumentos, seja calibrando-os internamente ou repassando a calibração a terceiros. Realização de calibrações em campo dos seguintes instrumentos: Manômetros, transdutores de pressão, voltímetros, amperímetros e tacômetros. Manutenção dos seguintes instrumentos: Manômetros, micrômetros, paquímetros e relógios comparadores. Orientação para implantação do sistema da qualidade e para criar estrutura laboratorial adequada para satisfazer as necessidades internas da empresa. Elaboração de procedimentos para calibração e para o sistema da qualidade. Atendimento aos auditores representantes de nossos clientes.

2006 - 2006

Centro de Pesquisa e Desenvolvimento Leopoldo Américo Miguêz de Mello

Vínculo: Celetista Terceirizado, Enquadramento Funcional: Técnico Metrologista, Carga horária: 40

Outras informações:
SOP/MAO ? Setor de Manutenção LABCAL ? Laboratório de Calibração Laboratório de Pressão. Atividades: Calibração de Manômetros, transmissores de pressão, transdutores de pressão, válvulas de segurança e Pressostatos. Atuando também no apoio a coordenação da qualidade para a acreditação do LABCAL. Obs.: Neste período trabalhei como celetista formal das empresas Promontest Engenharia e JP Manutenção.

2003 - 2004

Instituto Fluminense de Metrologia

Vínculo: Celetista formal, Enquadramento Funcional: Técnico Metrologista, Carga horária: 40

Outras informações:
Atividades: Laboratório de Metrologia Dimensional : Calibrações de Blocos Padrão, Paquímetro, micrômetro, relógio comparador, escala, trena, nível prumo, esquadro. Laboratório de Metrologia de Força e Torque: Atividades: Calibrações de torquímetro, Transdutor de torque, célula de carga, anel dinamométrico, dinamômetro.