Metodologia para estimação das constantes ópticas e da espessura de um filme fino utilizando minimização irrestrita

Número do pedido da patente:
PI 9901600-1 A2

Data do depósito:
08/04/1999

Data da publicação:
17/10/2000

Inventores:

José Mario Martínez

Ivan Emilio Chambouleyron

Ernesto Julián Goldberg Birgin

Classificação:
G01B 11/06

Disposi??es de medi??o caracterizadas pelo uso de meios ?pticos; / para medi??o de comprimentos, larguras, ou espessuras; / para medi??o de espessuras;

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Nome do depositante:
Universidade Estadual de Campinas - Unicamp

Nome do procurador:
Octacílio Machado Ribeiro

"METODOLOGIA PARA ESTIMAÇÃO DAS CONSTANTES ÓPTICAS E DA ESPESSURA DE UM FILME FINO UTILIZANDO MINIMIZAÇÃO IRRESTRITA", dita metodologia destina-se a possibilitar a estimação das constantes ópticas e da espessura de um filme fino, baseada na minimização irrestrita.