Alexandra Lackmann Zimpeck

Formação complementar

Idiomas

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Organização de eventos

Participação em eventos

Participação em bancas

Orientou

Produções bibliográficas

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• PETER, CLEBER S. ; PENNING, LUCAS ; Zimpeck, Alexandra ; MARQUES, FELIPE ; YAMIN, ADENAUER . An Approach to Remote Update Embedded Systems in the Internet of Things. JOURNAL OF INTERNET SERVICES AND APPLICATIONS , v. 14, p. 151-159, 2023.

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• ZIMPECK, ALEXANDRA L. ; REIS, RICARDO . Impact of variability effects on FinFET transistors and combinational cells. In: 2016 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2016, Monte Carlo. 2016 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2016. p. 440.

• AGUIAR, Y. Q. ; ZIMPECK, A.L. ; MEINHARDT, C. . Automação da inserção de falhas ​Single Event Transient ​em Circuitos Combinacionais em tecnologias nanométricas. In: Mostra da Produção Universitária (MPU), 2015, Rio Grande. 14ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2015.

• ZIMPECK, A. L. ; MEINHARDT, C. ; BUTZEN, P. F. . Análise do comportamento do Holding Time em circuitos de tecnologias nanométricas com falhas Stuck-Open. In: 12ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2013, Rio Grande. 12ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2013.

• ZIMPECK, A. L. ; CAMACHO, P. M. ; AGUIAR, Y. Q. ; MACIEL, B. K. ; RODRIGUES, R. B. ; MULLER, R. H. ; MACHADO, V. F. ; OLIVEIRA, M. O. ; OLIVEIRA, V. M. . Ensino, Pesquisa e Extensão: Uma síntese das atividades do PET-C3 no Ambiente Acadêmico. In: XVI Encontro Nacional de Grupos do Programa de Edcuação Tutorial (ENAPET), 2011, Goiás. XVI Encontro Nacional de Grupos do Programa de Edcuação Tutorial (ENAPET), 2011.

• SIQUEIRA, I. G. ; GRELLERT, M. ; ZIMPECK, A.L. . Técnicas de aprendizado de máquina aplicadas à redução de complexidade do codificador de vídeo AV1. In: Salão Universitário da UCPel, 2021, Pelotas. Salão Universitário da UCPel, 2021.

• SCHEUNEMANN, C. S. ; ZIMPECK, A.L. . Otimização de modelos de aprendizado de máquina supervisionado para detecção de doenças neurológicas. In: Salão Universitário da UCPel, 2021, Pelotas. Salão Universitário da UCPel, 2021.

• SILVA, T. A. A. ; ZIMPECK, A.L. . Diagnóstico de Câncer de Mama: Criação de Modelos de predição baseados em Aprendizado de Máquina. In: Salão Universitário da UCPel, 2021, Pelotas. Salão Universitário da UCPel, 2021.

• SILVEIRA, A. ; DINIZ, C. M. ; GRELLERT, M. ; ZIMPECK, A. L. . Identificação de padrões de atenção visual em crianças com autismo por meio de dispositivos móveis. In: Salão Universitário da UCPel, 2021, Pelotas. Salão Universitário da UCPel, 2021.

• LUZ, E. L. W. ; ZIMPECK, A.L. ; ALMEIDA, S. J. M. . Análise Automatizada de Imagens para Colonoscopia. In: Salão Universitário da UCPel, 2021, Pelotas. Salão Universitário da UCPel, 2021.

• CLEFF, V. M. ; ZIMPECK, A.L. ; ALMEIDA, S. J. M. . Estudo de viabilidade do uso de aprendizado de máquina em análises de fluxo ótimo de potência em redes de distribuição. In: Salão Universitário da UCPel, 2021, Pelotas. Salão Universitário da UCPel, 2021.

• SOARES, B. L. ; ZIMPECK, A.L. . Análise de arquiteturas de somadores de 1-bit tolerantes a falhas. In: Salão Universitário da UCPel, 2021, Pelotas. Salão Universitário da UCPel, 2021.

• SILVA, M. F. ; ZIMPECK, A.L. . Avaliação de fatores que afetam a confiabilidade em portas lógicas XOR na tecnologia FinFET. In: Salão Universitário da UCPel, 2021, Pelotas. Salão Universitário da UCPel, 2021.

• FIGUEIREDO, G. D. R. ; ZIMPECK, A.L. . Projeto de somadores FinFET visando a mitigação da variabilidade de processo. In: Salão Universitário da UCPel, 2021, Pelotas. Salão Universitário da UCPel, 2021.

• SOARES, B. L. ; ZIMPECK, A.L. . Impacto da Variabilidade Simultânea em Circuitos FinFET. In: Salão Universitário da UCPel, 2020, Pelotas. Salão Universitário da UCPel, 2020.

• MOREIRA, I. C. ; ZIMPECK, A.L. . Aplicação de Aprendizado Supervisionado para Predição de Robustez dos Circuitos em Tecnologias Emergentes. In: Salão Universitário da UCPel, 2020, Pelotas. Salão Universitário da UCPel, 2020.

• VILLARINS, R. T. ; ROSA, V. S. ; ZIMPECK, A.L. . Análise da Qualidade dos Grãos de Arroz utilizando Visão Computacional. In: Salão Universitário da UCPel, 2020, Pelotas. Salão Universitário da UCPel, 2020.

• ZIMPECK, A. L. ; MEINHARDT, C. ; BUTZEN, P. F. . Simulador de Falhas Stuck-Open para Portas Lógicas CMOS. In: 11ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2012, Rio Grande. 11ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2012.

• OLIVEIRA, M. O. ; ZIMPECK, A. L. ; AGUIAR, Y. Q. ; MACIEL, B. K. ; SOARES, L. B. ; MACHADO, V. F. ; RODRIGUES, R. B. ; MULLER, R. H. ; CAMACHO, P. M. ; OLIVEIRA, V. M. . Acolhendo e colaborando com o aperfeiçoamento acadêmico do Centro de Ciências Computacionais. In: 11ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2012, Rio Grande. 11ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2012.

• ZIMPECK, A. L. ; MEINHARDT, C. ; BUTZEN, P. F. . Projeto de um Somador Tolerante a Falhas com Baixo Consumo de Potência. In: 10ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2011, Rio Grande. 10ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2011.

• AGUIAR, Y. Q. ; ZIMPECK, A. L. ; MACIEL, B. K. ; MEINHARDT, C. ; BUTZEN, P. F. . Otimização do dimensionamento dos transistores de um circuito somador para redução de atrasos e consumo de potência. In: 10ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2011, Rio Grande. 10ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2011.

• ZIMPECK, A. L. ; MACIEL, B. K. ; GARCIA, D. F. ; CAMACHO, P. M. ; MULLER, R. H. ; MACHADO, V. F. ; AGUIAR, Y. Q. ; OLIVEIRA, M. O. ; RODRIGUES, R. B. ; OLIVEIRA, V. M. . Acolhida Cidadã: Uma abordagem ao trote violento. In: SULPET, 2011, Florianópolis. 14º SULPET, 2011.

• ZIMPECK, A.L. ; MACIEL, B. K. ; GARCIA, D. F. ; SILVA, P. M. ; MULLER, R. H. ; MACHADO, V. F. ; AGUIAR, Y. Q. ; OLIVEIRA, M. O. ; RODRIGUES, R. B. ; OLIVEIRA, V. M. . Uma síntese das atividades do PET-C3 no ambiente acadêmico. In: 10ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2011, Rio Grande. 10ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2011.

• ZIMPECK, A.L. . Efeitos da radiação em circuitos integrados e abordagens de mitigação em nível de circuito. 2021. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).

• ZIMPECK, A.L. . Fluxo Digital de Projeto. 2020. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).

• ZIMPECK, A. L. ; REIS, R. A. L. ; ARTOLA, LAURENT ; HUBERT, G. . Circuit-Level Approaches to Mitigate Process Variability and Soft Errors in FinFET Logic Cells. 2020. (Apresentação de Trabalho/Outra).

• ZIMPECK, A.L. . Circuit-Level Approaches to Mitigate the Process Variability and Soft Errors in FinFET Logic Cells. 2019. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).

• ZIMPECK, A.L. ; MEINHARDT, C. ; REIS, R. A. L. . Impact of Variability Effects on 20nm FinFET Transistors and Standard Cells. 2016. (Apresentação de Trabalho/Outra).

Outras produções

Projetos de pesquisa

• 2021 - 2023

  Avaliação e mitigação de fatores que afetam a confiabilidade de circuitos integrados em nanotecnologias, Descrição: Nossa sociedade está cada vez mais utilizando dispositivos portáteis em suas vidas para os mais diversos fins, aumentando a demanda por dispositivos menores, menor consumo de energia e desempenho aceitável. Porém, a cada nova tecnologia, o projeto de sistemas eletrônicos aumenta a complexidade envolvida, além de tornar o processo de manufatura mais difícil devidos aos pequenos padrões geométricos impostos pelas tecnologias atuais. Esses fatores podem gerar algumas variações estruturais induzindo ao desvio de desempenho e ao consumo anormal de energia, podendo tornar o circuito inapropriado ao seu propósito inicial. Além disso, uma única partícula energética proveniente da radiação terrestre ou espacial pode afetar o bom funcionamento de dispositivos eletrônicos, causando perda temporária de dados, entre outros efeitos. À medida que as tecnologias nanométricas aumentam o fator de integração, o impacto de uma única partícula pode difundir a carga para os nós adjacentes, tornando o circuito ainda mais sujeito aos efeitos da radiação. Esses fatos podem levar a perdas financeiras e também de vidas humanas, dependendo da aplicação alvo. Todas essas consequências enfatizam a relevância da criação de novas diretrizes de projeto capazes de lidar com os desafios de confiabilidade impostos pelas tecnologias atuais. Nesse sentido, este projeto busca avaliar o efeito da variabilidade de processo e das falhas transientes nos circuitos FinFET, estudar e aplicar técnicas de mitigação para garantir circuitos mais confiáveis, desenvolver ferramentas capazes de estimar a confiabilidade de forma automatizada propondo ao projetista possíveis modificações para aumentar a robustez, e treinamento de modelos através do uso de inteligência artificial que predigam a confiabilidade dos circuitos integrados.. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Graduação: (10) / Mestrado acadêmico: (2) . , Integrantes: Alexandra Lackmann Zimpeck - Coordenador / Cristina Meinhardt - Integrante / ricardo augusto da luz reis - Integrante / Fernanda Lima Kastensmidt - Integrante / GRACIELI POSSER - Integrante / Leonardo Heitich Brendler - Integrante / Leonardo Barlette de Moraes - Integrante / Guilherme Paim - Integrante / Raphael Teixeira Villarins - Integrante / BRUNO LOPES SOARES - Integrante / Eduardo Antonio César da Costa - Integrante / Gerson Dantas Rocha - Integrante / GIVANILDO CRUZETTA - Integrante / SERGIO JOSE MELO DE ALMEIDA - Integrante / Pedro Jardel Zago de Lima - Integrante., Financiador(es): Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado do Rio Grande do Sul - Outra.

• 2019 - Atual

  PHIDEAU - Automação do Projeto Físico de Circuitos Integrados, Descrição: Esta proposta trata da pesquisa e desenvolvimentos de ferramentas para a síntese física de circuitos integrados, usando novas metodologias desenvolvidas pela equipe e visam reduzir o número de transistores de um circuito, o tamanho dos fios de interconexão, de forma a reduzir a área do mesmo e otimizar o consumo e o desempenho do circuito. A metodologia proposta trata tanto fluxos de projeto que empregam bibliotecas de células, como fluxos nos quais o circuito consiste de uma rede de transistores, sendo que estes transistores podem ter diferentes dimensionamentos. Inicialmente o sistema prevê a geração automática do leiaute de qualquer circuito digital, permitindo o tratamento de circuitos com diferentes números de transistores P e N. Entendemos que posteriormente esta metodologia de geração de leiaute poderá ser adaptada para a geração de algumas classes de circuitos analógicos.. , Situação: Em andamento; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Alexandra Lackmann Zimpeck - Integrante / ricardo augusto da luz reis - Coordenador / Vitor Viana Bandeira - Integrante.

• 2018 - Atual

  Projeto de MPSOCs Robustos, Descrição: O projeto de pesquisa tem por objetivo estratégico aprimorar a resiliência de sistemas embarcados multiprocessados (many-/multi-cores), a partir da investigação de novas técnicas de tolerância a falhas, assim como o desenvolvimento de ferramentas, as quais possam ser empregadas para detecção e tratamento de falhas em tais sistemas. Essa exigência na garantia de comunicações cada vez mais pesadas, de grandes sistemas, irão acentuar problemas como dificuldade de atingir o desempenho requerido pela aplicação, envelhecimento acentuado de parte do circuito, em inglês circuit aging, partes do circuito que não podem ser alimentados simultaneamente com a tensão nominal devido a restrições térmicas de operação, eminglês dark silicon, entre outros. Neste sentido, os mecanismos e/ou arquiteturas de tolerância a falhas paraMPSoCs atendemos requisitos das recentes aplicações de alta complexidade, contornando as limitações das tecnologias de fabricação de ICs atuais e emergentes.. , Situação: Em andamento; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Graduação: (3) / Mestrado acadêmico: (3) / Doutorado: (3) . , Integrantes: Alexandra Lackmann Zimpeck - Integrante / REIS, R.A.L. - Coordenador / José Rodrigo Azambuja - Integrante / Leonardo Heitich Brendler - Integrante / Leonardo Barlette de Moraes - Integrante / Felipe Rocha da Rosa - Integrante / Vitor Viana Bandeira - Integrante / Geancarlo Abich - Integrante / Isadora Silva de Oliveira - Integrante / Luciano Ost - Integrante.

• 2016 - Atual

  Confiabilidade em nanotecnologias - desafios para a tecnologia FinFET, Descrição: Circuitos integrados VLSI (Very Large Scale Integration) usando nanotecnologia demandam novos materiais, estruturas, metodologias de projeto e ferramentas de CAD (Computer Aided Design) para lidar com os problemas decorrentes do processo de fabricação, tais como a variabilidade. Alguns tipos de concepção são parcialmente robustos às variações de processo ou ambientais, quer sistemáticas ou aleatórias. Este projeto visa avaliar os tipos de projeto de circuitos integrados e os aspectos que podem ajudar a melhorar a qualidade de fabricação e de desempenho nas futuras gerações de dispositivos. Neste contexto, é fundamental avaliar como será o comportamento da tecnologia FinFET em tecnologias abaixo de 20nm. A tecnologia FinFET já está substituindo a tecnologia CMOS planar no processo de fabricação. Por este motivo, obter informações preditivas sobre o comportamento desta tecnologia no projeto de células é importante tanto para projetistas como para desenvolvedores de ferramentas de EDA (Electronic Design Automation). São objetivos principais deste projeto avaliar a robustez de circuitos em tecnologia FinFET, traçando um panorama preditivo de robustez da tecnologia FinFET. Dessa forma, este projeto busca apontar metodologias de projeto e de leiaute mais confiáveis para o projeto em nanotecnologias explorando a tecnologia FinFET.. , Situação: Em andamento; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Graduação: (10) / Mestrado acadêmico: (6) / Doutorado: (1) . , Integrantes: Alexandra Lackmann Zimpeck - Integrante / Cristina Meinhardt - Coordenador / Ygor Quadros de Aguiar - Integrante / Roberto Almeida - Integrante / TOLEDO, SAMUEL PRESA - Integrante / Giane Ulloa - Integrante / Rafael Budim Schivittz - Integrante / Luiz Alves - Integrante / Douglas Machado Borges - Integrante / Cleiton Marques - Integrante / Alan Djon Ludke - Integrante / RAFAEL NEVES DE MELLO OLIVEIRA - Integrante / PEDRO SILVA - Integrante.

• 2015 - 2019

  FUCAS - Síntese Automática do Layout de Circuitos Full Custom, Descrição: O objetivo deste projeto é o desenvolvimento de um conjunto de ferramentas, visando a obtenção de um sistema de síntese que permita a realização de circuitos Full-Custom de forma inteiramente automática, desde a sua especificação lógica até a geração do leiaute. O sistema deverá efetuar um mapeamento lógico visando minimizar o número de transistores (portanto diminuindo consumo de energia), e visando diminuir os caminhos críticos.. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Alexandra Lackmann Zimpeck - Integrante / Ygor Quadros de Aguiar - Integrante / ricardo augusto da luz reis - Coordenador / Walter Calienes Bartra - Integrante / Marcelo Oliveira Johann - Integrante / Leonardo Barlette de Moraes - Integrante / Mateus Paiva Fogaça - Integrante / Felipe Rocha da Rosa - Integrante / Vitor Viana Bandeira - Integrante.

• 2015 - 2019

  Sischip2 - Concepção e Síntese de Sistemas em Chip, Descrição: O Núcleo de Excelência SISCHIP2 desenvolve P&D e recursos humanos em Microeletrônica. É composto por pesquisadores e alunos de pós-graduação da UFRGS, UFSM, UFPel, FURG e Unipampa. O Núcleo desenvolve pesquisa, desenvolvimento e inovação nas áreas de projeto, teste e CAD de circuitos integrados. Esta proposta dará continuidade aos trabalhos do Núcleo SISCHIP aprovado no Edital PRONEX2009. Os resultados já alcançados pelo Núcleo e as novas metas traçadas, assim como o seu foco em uma área estratégica para o desenvolvimento do Brasil e do RS, justificam amplamente esta proposta. Investir na microeletrônica e seus componentes é essencial para avançar na competitividade do setor de TI brasileiro e regional. O objetivo principal do Núcleo SISCHIP2 é realizar pesquisa, desenvolvimento e inovação em Projeto (Design), Teste e software de EDA (Electronic Design Automation) para sistemas micro e nano-eletrônicos integrados para a próxima geração de aplicações na tecnologia de informação. O projeto está organizado em 4 grandes áreas temáticas da Microeletrônica: A. Design de Circuitos Dedicados com FPGAs e CMOS digital; B. Projeto de Circuitos com Nano-Dispositivos novos e não-convencionais (FinFETs, CNTFETs e MJ-RAMs); C. Teste e Tolerância a Falhas em Circuitos Integrados; e D. Ferramentas para Automação do Projeto (EDA) de circuitos integrados. O Núcleo vai gerar soluções inovadoras em hardware e software relacionadas a circuitos e sistemas microeletrônicos, segundo o plano de trabalho em cada atividade proposta dentro das áreas temáticas elencadas acima. Na área temática A serão desenvolvidos circuitos e sistemas para aplicações específicas. Destacam-se as atividades de algoritmos, arquiteturas e circuitos para processamento de vídeo, sistemas biomédicos e redes de sensores. Na área B são expandidos os resultados já obtidos no projeto SISCHIP anterior para o projeto de circuitos com transistores do tipo CNFET para o projeto de Circuitos Analógicos em geral. Adicionalmente serão tratados os projetos em FinFETs e com junções de tunelamento magnéticas e dispositivos de memória não-volátil. Na área C serão desenvolvidos métodos e ferramentas para o teste de circuitos mistos (analógico-digitais) e a avaliação de confiabilidade e tolerância a falhas de sistemas digitais críticos. A principal aplicação a ser focada são os circuitos para aplicações aeroespaciais, que necessitam tolerância a falhas induzidas por radiação, entre outros efeitos. Os modelos de confiabilidade relacionados ao envelhecimento de componentes eletrônicos (HCI, NBTI, etc.) são tratados nesta área. Na área D serão desenvolvidas duas linhas de investigação: uma que desenvolve ferramentas para análise da confiabilidade de sistemas digitais e microprocessados, utilizando os modelos de nano-dispositivos como MOSFETs e FinFETs. A outra linha desenvolve algoritmos e ferramentas para o projeto de circuitos integrados digitais em tecnologias CMOS. O projeto SISCHIP2 estimulará a disseminação no Estado e no Brasil das competências de projeto na área da microeletrônica, compartilhando os experimentos, métodos e os recursos humanos com universidades e empresas nacionais. Os desenvolvimentos propostos irão consolidar a relação que o núcleo já tem com as empresas gaúchas como a SMDH e o CEITEC, hoje um polo de referência nacional e internacional em microeletrônica.. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Alexandra Lackmann Zimpeck - Integrante / Cristina Meinhardt - Integrante / Paulo Butzen - Integrante / ricardo augusto da luz reis - Coordenador / Fernanda Lima Kastensmidt - Integrante / raphael martins brum - Integrante / José Rodrigo Azambuja - Integrante / Marcelo Oliveira Johann - Integrante / Denis Teixeira Franco - Integrante / Bruno Zatt - Integrante / Sergio Bampi - Integrante / Altamiro Amadeu Susin - Integrante / Tiago Balen - Integrante / Alessandro Gonçalves Girard - Integrante / Luciano Volcan Agostini - Integrante / Paolo Rech - Integrante / Gilson Inacio Wirth - Integrante.

• 2014 - 2015

  Projeto, Desenvolvimento e Teste de Circuitos e Sensores Micro e Nanométricos Tolerantes a Radiação, Descrição: Projeto de intercambio entre PGMICRO e National Research Nuclear University (MEPHI).. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Alexandra Lackmann Zimpeck - Integrante / Fernanda Lima Kastensmidt - Coordenador / Lucas Antunes Tambara - Integrante.

• 2011 - 2013

  Técnicas de Tolerância a Falhas em Circuitos Integrados, Descrição: A evolução da tecnologia de fabricação CMOS (Complementary Metal-Oxide Semiconductor) tem permitido reduções drásticas das dimensões dos transistores, o que permite aumentar o número de transistores que podem ser integrados em um único chip e também as freqüências de operação dos sistemas. Para tornar isto possível, algumas modificações nas técnicas e materiais de fabricação são necessárias, bem como a redução na tensão de alimentação dos transistores. Em função destas modificações, e também devido à redução das dimensões dos transistores, os circuitos fabricados em tecnologia CMOS estado-da-arte estão se tornado vulneráveis a falhas permanentes e transientes. Este projeto tem como objetivos a avaliação, implementação e automação de diferentes técnicas propostas na literatura para tornar os circuitos mais tolerantes a falhas, assim como, a investigação de diferentes tipos de falhas em circuitos integrados.. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Graduação: (2) . , Integrantes: Alexandra Lackmann Zimpeck - Integrante / Cristina Meinhardt - Coordenador / Paulo Butzen - Integrante / Ygor Quadros de Aguiar - Integrante.

Prêmios