Thiago Santos Copetti

Atualmente realizando pós doutorado na RWTH Aachen University, Alemanha. Doutor em Microeletrônica pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (2020). Mestre em Engenharia Elétrica pela Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (2015). Graduado em Engenharia Elétrica pela Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (2012).

Informações coletadas do Lattes em 25/09/2025

Acadêmico

Formação acadêmica

Doutorado em Microeletrônica

2015 - 2020

Universidade Federal do Rio Grande do Sul
Título: Reliability evaluation of finFET-based SRAMs in the presence of resistive defects
Orientador: em Delft University of Technology ( Said Hamdioui)
com Tiago Roberto Balen. Coorientador: Letícia Maria Bolzani Poehls. Bolsista do(a): Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior, CAPES, Brasil. Palavras-chave: FinFET; SRAM; Resistive Defects; SPICE; TCAD; Reliability. Grande área: EngenhariasSetores de atividade: Pesquisa e desenvolvimento científico.

Mestrado em Engenharia Elétrica

2013 - 2015

Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul
Título: Metodologia Baseada em Hardware para o Desenvolvimento de Circuitos Integrados Tolerantes ao Fenômeno de NBTI,Ano de Obtenção: 2015
Letícia Maria Bolzani Poehls.Coorientador: Fabian Luis Vargas. Palavras-chave: CMOS; NBTI; Sensor; envelhecimento; fonte de alimentação.Grande área: Outros

Graduação em Engenharia Elétrica

2009 - 2012

Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul
Título: Desenvolvimento do Layout de um Sensor On-Chip para o Monitoramento de Envelhecimento de SRAMs
Orientador: Letícia Maria Bolzani Poehls

Graduação interrompida em 2008 em Engenharia Civil

2006 - Atual

Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul
Ano de interrupção: 2008

Pós-doutorado

2021

Pós-Doutorado. , RWTHA Aachen University, RWTHA, Alemanha. , Grande área: Engenharias, Grande Área: Engenharias / Área: Engenharia Elétrica / Subárea: Circuitos Elétricos, Magnéticos e Eletrônicos / Especialidade: Circuitos Eletrônicos.

Formação complementar

2016 - 2016

E-MICRO - OFICINA USP DE CARACTERIZAÇÃO ELÉTRICA DE TRANSISTORES AVANÇADOS. (Carga horária: 40h). , Universidade de São Paulo, USP, Brasil.

Idiomas

Inglês

Compreende Bem, Fala Razoavelmente, Lê Bem, Escreve Bem.

Espanhol

Compreende Razoavelmente, Fala Pouco, Lê Razoavelmente, Escreve Pouco.

Português

Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.

Áreas de atuação

Grande área: Engenharias / Área: Engenharia Elétrica.

Produções bibliográficas

COPETTI, THIAGO ; CARDOSO MEDEIROS, GUILHERME ; TAOUIL, MOTTAQIALLAH ; HAMDIOUI, SAID ; BOLZANI POEHLS, LETÍCIA ; BALEN, TIAGO . Evaluation of Single Event Upset Susceptibility of FinFET-based SRAMs with Weak Resistive Defects. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS , v. 37, p. 383-394, 2021.
POEHLS, L. M. BOLZANI ; FIEBACK, M. C. R. ; HOFFMANN-EIFERT, S. ; COPETTI, T. ; BRUM, E. ; MENZEL, S. ; HAMDIOUI, S. ; GEMMEKE, T. . Review of Manufacturing Process Defects and Their Effects on Memristive Devices. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS , v. 37, p. 427-437, 2021.
COPETTI, T. ; BALEN, T. R. ; BRUM, E. ; AQUISTAPACE, C. ; BOLZANI POEHLS, L. . Comparing the Impact of Power Supply Voltage on CMOS- and FinFET-Based SRAMs in the Presence of Resistive Defects. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS , v. 36, p. 271-284, 2020.
MEDEIROS, G. CARDOSO ; BRUM, E. ; POEHLS, L. BOLZANI ; COPETTI, T. ; BALEN, T. . Evaluating the Impact of Temperature on Dynamic Fault Behaviour of FinFET-Based SRAMs with Resistive Defects. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS , v. 35, p. 191-200, 2019.
MARTINS, M. T. ; MEDEIROS, G. C. ; Copetti, T. ; VARGAS, F. L. ; BOLZANI POEHLS, L. M. . Analysing NBTI Impact on SRAMs with Resistive Defects. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS , v. 33, p. 637-655, 2017.
Copetti, T. ; MEDEIROS, G. C. ; BOLZANI POEHLS, L. ; VARGAS, F. . NBTI-Aware Design of Integrated Circuits: A Hardware-Based Approach for Increasing Circuits? Life Time. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS , v. 32, p. 315-328, 2016.
Jenihhin, Maksim ; SQUILLERO, GIOVANNI ; COPETTI, THIAGO SANTOS ; TIHHOMIROV, VALENTIN ; KOSTIN, SERGEI ; GAUDESI, MARCO ; VARGAS, FABIAN ; RAIK, JAAN ; SONZA REORDA, MATTEO ; BOLZANI POEHLS, LETICIA ; Ubar, Raimund ; MEDEIROS, GUILHERME CARDOSO . Identification and Rejuvenation of NBTI-Critical Logic Paths in Nanoscale Circuits. JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING (DORDRECHT. ONLINE) , v. 32, p. 273-289, 2016.
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COPETTI, T. ; MEDEIROS, G. CARDOSO ; POEHLS, L. BOLZANI ; VARGAS, F. . NBTI-aware design of integrated circuits: a hardware-based approach. In: 2015 16th LatinAmerican Test Symposium (LATS), 2015, Puerto Vallarta. 2015 16th Latin-American Test Symposium (LATS). p. 1.
PALERMO, N. ; TIHHOMIROV, V. ; COPETTI, T.S. ; JENIHHIN, M. ; RAIK, J. ; KOSTIN, S. ; GAUDESI, M. ; SQUILLERO, G. ; REORDA, M. SONZA ; VARGAS, F. ; POEHLS, L. BOLZANI . Rejuvenation of nanoscale logic at NBTI-critical paths using evolutionary TPG. In: 2015 16th LatinAmerican Test Symposium (LATS), 2015, Puerto Vallarta. 2015 16th Latin-American Test Symposium (LATS). p. 1.
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KOSTIN, SERGEI ; RAIK, JAAN ; Ubar, Raimund ; Jenihhin, Maksim ; VARGAS, FABIAN ; POEHLS, LETICIA MARIA BOLZANI ; COPETTI, THIAGO SANTOS . Hierarchical identification of NBTI-critical gates in nanoscale logic. In: 2014 15th Latin American Test Workshop LATW, 2014, Fortaleza. 2014 15th Latin American Test Workshop - LATW. p. 1.
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CERATTI, A. ; COPETTI, T. ; BOLZANI, L. ; VARGAS, F. . Investigating the use of an on-chip sensor to monitor NBTI effect in SRAM. In: 2012 13th Latin American Test Workshop LATW, 2012, Quito. 2012 13th Latin American Test Workshop (LATW). p. 1.
COPETTI, T. S. ; GEMMEKE, T. ; POEHLS, L. M. B. . Validating a DFT Strategy?s Detection Capability regarding Emerging Faults in RRAMs. 2021. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).
BRUM, E. ; FIEBACK, M. ; COPETTI, T. S. ; JIAYI, H. ; HAMDIOUI, S. ; VARGAS, F. ; POEHLS, L. M. B. . Evaluating the Impact of Process Variation on RRAMs. 2021. (Apresentação de Trabalho/Simpósio).
COPETTI, THIAGO ; CARDOSO MEDEIROS, G. ; TAOUIL, M. ; HAMDIOUI, S. ; POEHLS, LETICIA BOLZANI ; BALEN, T. . Evaluating the Impact of Ionizing Particles on FinFET -based SRAMs with Weak Resistive Defects. 2020. (Apresentação de Trabalho/Simpósio).
COPETTI, THIAGO ; MEDEIROS, G. C. ; POEHLS, LETICIA BOLZANI ; BALEN, T. R. . Analyzing the behavior of FinFET SRAMs with resistive defects. 2017. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).
COPETTI, T. ; BOLZANI, L. . Desenvolvimento do Layout de um Sensor On-Chip para o Monitoramento do Envelhecimento de SRAMs. 2012. (Apresentação de Trabalho/Seminário).
COPETTI, T. ; CERATTI, A ; BOLZANI, L. . Caracterização do Envelhecimento por NBTI em SRAMs. 2011. (Apresentação de Trabalho/Seminário).

Histórico profissional

Endereço profissional

RWTHA Aachen University, Technische Hochschule Aachen. , Mies-van-der-Rohe-Straße 15, Aachen-Mitte, 52074 - Aachen, - Alemanha, Telefone: (0049) 2418097606, URL da Homepage:

Experiência profissional

2012 - 2012

Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul

Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Bolsista de Iniciação Científica, Carga horária: 20

Outras informações:
Desenvolvimento de técnicas e ferramentas para Otimização de de Sistemas Integrados (OaSIs).

2011 - 2011

Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul

Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Bolsista de Iniciação Científica, Carga horária: 20

Outras informações:
Elaborar ferramentas de apoio para o desenvolvimento de Circuitos Integrados.

2010 - 2011

Tribunal de Justica do Estado do Rio Grande do Sul

Vínculo: Estagiário, Enquadramento Funcional: Estagiário, Carga horária: 30

Outras informações:
Elaboração de Projeto Elétrico Predial e Memorial Descritivo para licitações.

2008 - 2008

Engenharia e Pesquisas Tecnológicas S.A.

Vínculo: Estagiário, Enquadramento Funcional: Estagiário, Carga horária: 30

Outras informações:
Elaborar projetos em AutoCAD e planílias em geral.