Ygor Quadros de Aguiar

Pós-doutorado

Formação complementar

Idiomas

Áreas de atuação

Organização de eventos

Participação em eventos

Participação em bancas

Orientou

Produções bibliográficas

• SÖDERSTRÖM, DANIEL ; AGUIAR, YGOR ; BI'KO, KACPER ; CANESSE, AURIANE ; LERNER, GIUSEPPE ; PRELIPCEAN, DANIEL ; ALÍA, RUBÉN GARCÍA . Radiation Monitoring and Performance of Electronic Systems in High-Energy Accelerator Radiation Environments. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 1, p. 1-1, 2025.

• AGUIAR, Y. ; ALÍA, R. GARCÍA ; KRANJč ; CECCHETTO, M. ; SÖDERSTRÖM, D. ; MANDAL, A. RAJ ; GASCON, J. ; TRUMMER, J. ; VINCKE, H. ; ALESSI, A. ; CAVANI, O. ; CONSTANTINO, A. ; LERNER, G. ; SOSTERO, L. ; GIRARD, S. ; FERRARI, M. . Dose rate effects in Ag-doped metaphosphate glass radiophotoluminescent dosimeters up to MGy range. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 1, p. 1-1, 2025.

• MARQUES, CLEITON M. ; MICHEZ, ALAIN ; WROBEL, FRÉDÉRIC ; AGUIAR, YGOR Q. ; SAIGNÉ, FRÉDÉRIC ; DILILLO, LUIGI ; GARCÍA ALÍA, RUBÉN . SEU Cross-Section Estimation Using ECORCE TCAD Tool. ELECTRONICS , v. 14, p. 2997, 2025.

• MARQUES, C. M. ; MICHEZ, A. ; WROBEL, F. ; KUBOYAMA, S. ; SAIGNÉ, F. ; DILILLO, L. ; AGUIAR, Y. Q. ; ALÍA, R. G. . Physical Explanation for the Higher Sensitivity to Ion-Induced Burnout in SiC Schottky Diodes Compared to Si Schottky Diodes. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 72, p. 2411-2418, 2025.

• RAJ MANDAL, A. ; FERRARI, M. ; AGUIAR, Y. Q. ; MORANA, A. ; GARCÍA ALÍA, R. ; HASAN, A. ; MARIN, E. ; OUERDANE, Y. ; BOUKENTER, A. ; GIRARD, S. . Online X-Ray Radiation Induced Attenuation of RPL Dosimeters: Dose Rate Dependence at High Doses. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 72, p. 2021-2028, 2025.

• AGUIAR, Y. Q. ; ALÍA, R. GARCÍA ; FERRARI, M. ; HASAN, A. ; PERROT, J. ; MANDAL, A. RAJ ; GIRARD, S. . Analysis of the Thermal Annealing Regeneration Process of RPL Dosimeters for High Dose Levels. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 72, p. 2527-2535, 2025.

• MARQUES, CLEITON ; WROBEL, FRÉDÉRIC ; AGUIAR, YGOR ; MICHEZ, ALAIN ; BOCH, JÉRÔME ; SAIGNÉ, FRÉDÉRIC ; GARCÍA ALÍA, RUBÉN . A Methodology to Estimate Single-Event Effects Induced by Low-Energy Protons. Eng , v. 5, p. 319-332, 2024.

• BI'KO, KACPER ; ALÍA, RUBÉN GARCÍA ; AGUIAR, YGOR ; DANZECA, SALVATORE ; FRANCESCA, DIEGO DI ; GILARDONI, SIMONE ; GIRARD, SYLVAIN ; RICCI, DANIEL ; SEBBAN, MARC ; UZNANSKI, SLAWOSZ . Radiation Environment in the Large Hadron Collider During the 2022 Restart and Related RHA Implications. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 71, p. 607-617, 2024.

• BI'KO, KACPER ; ALÍA, RUBÉN GARCÍA ; BARBERO, MARIO SACRISTAN ; GIRARD, SYLVAIN ; AGUIAR, YGOR Q. ; CECCHETTO, MATTEO ; BELANGER-CHAMPAGNE, CAMILLE ; DANZECA, SALVATORE ; HAJDAS, WOJTEK ; HANDS, ALEX ; HOLGADO, PEDRO MARTÍN ; GARCIA, YOLANDA MORILLA ; MAESTRE, AMOR ROMERO ; PRELIPCEAN, DANIEL ; RAVOTTI, FEDERICO ; SEBBAN, MARC . Mixed-Field Radiation Monitoring and Beam Characterization Through Silicon Diode Detectors. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 71, p. 777-784, 2024.

• FERRARI, M. ; AGUIAR, Y. Q. ; HASAN, A. ; ALEM, A. K. ; GARCÍA ALÍA, R. ; DONZELLA, A. ; PAGANO, D. ; SOSTERO, L. ; ZENONI, A. ; GIRARD, S. . Characterization of Radiophotoluminescence Dosimeters Under X-Ray Irradiation at High Doses. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 71, p. 1821-1828, 2024.

• SACRISTÁN BARBERO, MARIO ; SLIPUKHIN, IVAN ; CECCHETTO, MATTEO ; PRELIPCEAN, DANIEL ; AGUIAR, YGOR ; BILKO, KACPER ; EMRISKOVA, NATALIA ; WAETS, ANDREAS ; CORONETTI, ANDREA ; KASTRIOTOU, MARIA ; CAZZANIGA, CARLO ; DODD, TORRAN ; SAIGNÉ, FRÉDÉRIC ; POUGET, VINCENT ; GARCÍA ALÍA, RUBÉN . Characterization of Fragmented Ultrahigh-Energy Heavy Ion Beam and Its Effects on Electronics Single-Event Effect Testing. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 71, p. 1557-1564, 2024.

• HASAN, A. ; AGUIAR, Y. ; GARCÍA ALÍA, R. ; CAMPANELLA, C. ; MORANA, A. ; ALEM, A.K. ; GIRARD, S. ; RAJ MANDAL, A. ; FERRARI, M. . Online and offline Radiation-Induced Attenuation measurements on FD-7 radiophotoluminescence dosimeters irradiated at high X-ray doses. RADIATION MEASUREMENTS , v. 177, p. 107246, 2024.

• SLIPUKHIN, IVAN ; CORONETTI, ANDREA ; ALÍA, RUBÉN GARCÍA ; SAIGNÉ, FRÉDÉRIC ; BOCH, JÉRÔME ; DILILLO, LUIGI ; AGUIAR, YGOR Q. ; CAZZANIGA, CARLO ; KASTRIOTOU, MARIA ; DODD, TORRAN . Enhancement of System Observability During System-Level Radiation Testing Through Total Current Consumption Monitoring. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 71, p. 1948-1955, 2024.

• MARQUES, CLEITON M. ; WROBEL, FRÉDÉRIC ; AGUIAR, YGOR Q. ; MICHEZ, ALAIN ; SAIGNÉ, FRÉDÉRIC ; BOCH, JÉRÔME ; DILILLO, LUIGI ; GARCÍA ALÍA, RUBÉN . Evaluation of a Simplified Modeling Approach for SEE Cross-Section Prediction: A Case Study of SEU on 6T SRAM Cells. ELECTRONICS , v. 13, p. 1954, 2024.

• CECCHETTO, MATTEO ; BARBERO, MARIO SACRISTAN ; LERNER, GIUSEPPE ; ALÍA, RUBÉN GARCÍA ; AGUIAR, YGOR ; SENAJOVA, DOMINIKA ; INFANTES, FRANCISCO GARCIA ; RODRIGUEZ, JOSE ANTONIO PAVON ; GILARTE, MARTA SABATE ; VLACHOUDIS, VASILIS ; BERNARDES, ANA-PAULA ; CALVIANI, MARCO ; DANZECA, SALVATORE . Electronics Irradiation With Neutrons at the NEAR Station of the n_TOF Spallation Source at CERN. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 70, p. 1587-1595, 2023.

• LERNER, GIUSEPPE ; PELISSOU, PIERRE ; AGUIAR, YGOR Q. ; BARBERO, MARIO SACRISTAN ; CECCHETTO, MATTEO ; BI'KO, KACPER ; COUSSEN, LOUISE ; EMRISKOVA, NATALIA ; ALÍA, RUBÉN GARCÍA ; DYKS, LUKE ; FARABOLINI, WILFRID . Analysis of the Radiation Field Generated by 200-MeV Electrons on a Target at the CLEAR Accelerator at CERN. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 70, p. 1572-1579, 2023.

• BI'KO, KACPER ; ALÍA, RUBÉN GARCÍA ; FRANCESCA, DIEGO DI ; AGUIAR, YGOR ; DANZECA, SALVATORE ; GILARDONI, SIMONE ; GIRARD, SYLVAIN ; ESPOSITO, LUIGI SALVATORE ; FRASER, MATTHEW ALEXANDER ; MAZZOLA, GIUSEPPE ; RICCI, DANIEL ; SEBBAN, MARC ; VELOTTI, FRANCESCO MARIA . CERN Super Proton Synchrotron Radiation Environment and Related Radiation Hardness Assurance Implications. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 70, p. 1606-1615, 2023.

• WROBEL, FRÉDÉRIC ; AGUIAR, YGOR ; MARQUES, CLEITON ; LERNER, GIUSEPPE ; GARCÍA ALÍA, RUBÉN ; SAIGNÉ, FRÉDÉRIC ; BOCH, JÉRÔME . An Analytical Approach to Calculate Soft Error Rate Induced by Atmospheric Neutrons. ELECTRONICS , v. 12, p. 104, 2023.

• PRAMBERGER, DEJAN ; AGUIAR, YGOR Q. ; TRUMMER, JULIA ; VINCKE, HELMUT . Characterization of Radio-Photo-Luminescence (RPL) Dosimeters as Radiation Monitors in the CERN Accelerator Complex. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 69, p. 1618-1624, 2022.

• FERRARI, M. ; SENAJOVA, D. ; ABERLE, O. ; AGUIAR, Y.'Q. ; BAILLARD, D. ; BARBAGALLO, M. ; BERNARDES, A.-P. ; BUONOCORE, L. ; CECCHETTO, M. ; CLERC, V. ; DI CASTRO, M. ; GARCIA ALIA, R. ; GIROD, S. ; GRENARD, J.-L. ; KERSHAW, K. ; LERNER, G. ; MAEDER, M.'M. ; MAKOVEC, A. ; MENGONI, A. ; PEREZ ORNEDO, M. ; et.al . Design development and implementation of an irradiation station at the neutron time-of-flight facility at CERN. Physical Review Accelerators and Beams , v. 25, p. 103001, 2022.

• KESSLER, HENRIQUE ; FERRAZ, BRUNO ; DA ROSA JR., LEOMAR ; AGUIAR, YGOR ; CAMARGO, VINÍCIUS V. A. . Single Event Transient on Combinational Logic: An Introduction and their Mitigation. JICS. JOURNAL OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS (ED. PORTUGUÊS) , v. 17, p. 1-9, 2022.

• GUAGLIARDO, S. ; WROBEL, F. ; AGUIAR, Y.Q. ; AUTRAN, J.-L. ; LEROUX, P. ; SAIGNÉ, F. ; POUGET, V. ; TOUBOUL, A.D. . Single-Event Latchup sensitivity: Temperature effects and the role of the collected charge. MICROELECTRONICS RELIABILITY , v. 119, p. 114087, 2021.

• AGUIAR, YGOR Q. ; WROBEL, FRÉDÉRIC ; AUTRAN, JEAN-LUC ; LEROUX, PAUL ; SAIGNÉ, FRÉDÉRIC ; POUGET, VINCENT ; TOUBOUL, ANTOINE D. . Mitigation and Predictive Assessment of SET Immunity of Digital Logic Circuits for Space Missions. Aerospace , v. 7, p. 12, 2020.

• AGUIAR, Y. Q. ; WROBEL, F. ; AUTRAN, J-L. ; KASTENSMIDT, F. L. ; LEROUX, P. ; SAIGNE, F. ; POUGET, V. ; TOUBOUL, A. D. . Exploiting Transistor Folding Layout as RHBD Technique against Single-Event Transients. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 67, p. 1-1, 2020.

• SCHVITTZ, R.B. ; AGUIAR, Y.Q. ; WROBEL, F. ; AUTRAN, J.-L. ; ROSA, L.S. ; BUTZEN, P.F. . Comparing analytical and Monte-Carlo-based simulation methods for logic gates SET sensitivity evaluation. MICROELECTRONICS RELIABILITY , v. 114, p. 113871, 2020.

• AGUIAR, Y.Q. ; WROBEL, F. ; AUTRAN, J.-L. ; LEROUX, P. ; SAIGNÉ, F. ; POUGET, V. ; TOUBOUL, A.D. . Reliability-driven pin assignment optimization to improve in-orbit soft-error rate. MICROELECTRONICS RELIABILITY , v. 114, p. 113885, 2020.

• AGUIAR, Y.Q. ; WROBEL, F. ; AUTRAN, J.-L. ; LEROUX, P. ; SAIGNÉ, F. ; POUGET, V. ; TOUBOUL, A.D. . Design exploration of majority voter architectures based on the signal probability for TMR strategy optimization in space applications. MICROELECTRONICS RELIABILITY , v. 114, p. 113877, 2020.

• AGUIAR, Y. Q. ; WROBEL, F. ; AUTRAN, J.-L. ; LEROUX, P. ; SAIGNE, F. ; TOUBOUL, A. D. ; POUGET, V. . Impact of Complex Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE , v. 66, p. 1465-1472, 2019.

• AGUIAR, Y.Q. ; WROBEL, F. ; GUAGLIARDO, S. ; AUTRAN, J.-L. ; LEROUX, P. ; SAIGNÉ, F. ; TOUBOUL, A.D. ; POUGET, V. . Radiation hardening efficiency of gate sizing and transistor stacking based on standard cells. MICROELECTRONICS RELIABILITY , v. 1, p. 113457, 2019.

• AGUIAR, Y.Q. ; WROBEL, F. ; AUTRAN, J.-L. ; LEROUX, P. ; SAIGNÉ, F. ; TOUBOUL, A.D. ; POUGET, V. . Analysis of the charge sharing effect in the SET sensitivity of bulk 45-nm standard cell layouts under heavy ions. MICROELECTRONICS RELIABILITY , v. 88-90, p. 920-924, 2018.

• AGUIAR, Y. Q. ; ARTOLA, L. ; HUBERT, G. ; MEINHARDT, C. ; KASTENSMIDT, F. L. ; REIS, R. . Evaluation of Radiation-Induced Soft Error in Majority Voters designed in 7nm FinFET Technology. MICROELECTRONICS RELIABILITY , v. 76-77, p. 660-664, 2017.

• BARTRA, W. E. C. ; AGUIAR, Y. Q. ; MEINHARDT, C. ; VLADMIRESCU, A. ; REIS, R. . Evaluation of heavy-ion impact in bulk and FDSOI devices under ZTC condition. MICROELECTRONICS RELIABILITY , v. 76-77, p. 655-659, 2017.

• AGUIAR, Y.Q. DE ; ZIMPECK, A.L. ; MEINHARDT, C. ; REIS, R. . Permanent and single event transient faults reliability evaluation EDA tool. MICROELECTRONICS RELIABILITY , v. 64, p. 63-67, 2016.

• AGUIAR, Y. Q. ; WROBEL, F. ; AUTRAN, J-L. ; ALÍA, RUBÉN GARCÍA . Single-Event Effects, from Space to Accelerator Environments. 1. ed. Springer Nature, 2024.

• AGUIAR, Y. Q. ; LERNER, G. ; ALIA, R. G. ; PRELIPCEAN, D. ; APOLLONIO, A. ; GILARTE, M. S. ; CERUTTI, F. ; DANZECA, S. . Radiation to Electronics Impact on CERN LHC Operation: Run 2 Overview and HL-LHC Outlook. In: International Particle Accelerator Conference, 2021. 12th International Particle Accelerator Conference.

• GUAGLIARDO, S. ; WROBEL, F. ; AGUIAR, Y. Q. ; AUTRAN, J-L ; LEROUX, P. ; SAIGNE, F. ; POUGET, V. ; TOUBOUL, A.D. . Effect of Temperature on Single Event Latchup Sensitivity. In: 2020 15th Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), 2020, Marrakech. 2020 15th Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), 2020. p. 1.

• GUAGLIARDO, S. ; WROBEL, F. ; AGUIAR, Y. Q. ; AUTRAN, J.-L. ; LEROUX, P. ; SAIGNÉ, F. ; POUGET, V. ; TOUBOUL, A. D. . Single Event Latchup Cross Section Calculation from TCAD Simulations ? Effects of the Doping Profiles and Anode to Cathode Spacing. In: IEEE Radiation Effects on Components and Systems (RADECS) Conference, 2019, Montpellier. IEEE Radiation Effects on Components and Systems (RADECS) Conference, 2019.

• DE AGUIAR, YGOR Q. ; MEINHARDT, CRISTINA ; REIS, RICARDO A. L. . Radiation sensitivity of XOR topologies in multigate technologies under voltage variability. In: 2017 IEEE 8th Latin American Symposium on Circuits & Systems (LASCAS), 2017, Bariloche. 2017 IEEE 8th Latin American Symposium on Circuits & Systems (LASCAS), 2017. p. 1.

• BRENDLER, L. H. ; FARIAS, C. ; ZIMPECK, A. L. ; AGUIAR, Y.Q. DE ; MEINHARDT, C. ; REIS, R. . Projeto de Portas Lógicas XOR com Redução de Potência por Voltage Scaling. In: IBERCHIP Workshop, 2017, Bariloche, Argentina. XXII Iberchip Workshop, 2017.

• SILVA, P. ; ZIMPECK, A. L. ; AGUIAR, Y.Q. DE ; REIS, R. . Impacto da Variabilidade PVT em Somadores na Tecnologia FinFET. In: IBERCHIP Workshop, 2017, Bariloche, Argentina. XXII Iberchip Workshop, 2017.

• ZIMPECK, A. L. ; AGUIAR, Y. Q. ; MEINHARDT, C. ; REIS, R. . Robustness of Sub-22nm Multigate Devices Against Physical Variability. In: IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2017, Baltimore. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2017.

• AGUIAR, Y. Q. ; KASTENSMIDT, F. L. ; Meinhardt C. ; ARTOLA, L. ; HUBERT, G. ; REIS, R. . Implications of Work-Function Fluctuation on Radiation Robustness of FinFET XOR Circuits. In: Radiation Effects on Components and Systems (RADECS) Conference, 2017, Geneva, Switzerland. Radiation Effects on Components and Systems (RADECS) Conference, 2017.

• AGUIAR, Y. Q. ; ZIMPECK, A.L. ; MEINHARDT, C. ; REIS, RICARDO A. L. . Temperature Dependence and ZTC Bias Point Evaluation of sub 20nm Bulk Multigate Devices. In: IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS),, 2017, Batumi, Georgia. IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS),, 2017.

• AGUIAR, Y. Q. ; ZIMPECK, A. L. ; Meinhardt C. . NFAS-tool: avaliação da confiabilidade de células combinacionais sob falhas de radiação do tipo SET. In: XXII Iberchip Workshop, 2016, Florianópolis. LASCAS - IBERCHIP 2016, 2016.

• AGUIAR, Y. Q. ; ZIMPECK, A. L. ; Meinhardt C. . Reliability Evaluation of Combinational Circuits from a Standard Cell Library. In: 31st South Symposium on Microelectronics (SIM16), 2016, Porto Alegre. 31st South Symposium on Microelectronics (SIM16), 2016.

• ZIMPECK, ALEXANDRA L. ; AGUIAR, YGOR ; MEINHARDT, CRISTINA ; REIS, RICARDO . Geometric variability impact on 7nm Trigate combinational cells. In: 2016 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2016, Monte Carlo. 2016 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2016. p. 9.

• AGUIAR, Y. Q. ; OLIVEIRA, V. M. ; MACIEL, B. K ; SOARES, L. B. ; MATTOS, S. D. G. ; FREITAS, A. C. . Encontro com os Docentes: A Importância da interação do corpo docente com o Programa de Educação Tutorial. In: XVIII SULPET Encontro dos grupos PET da região Sul, 2015, Londrina. ANAIS DO XVIII SULPET Encontro dos grupos PET da região Sul, 2015.

• MACIEL, B. K ; AGUIAR, Y. Q. ; MATTOS, S. D. G. ; SOARES, L. B. ; OLIVEIRA, V. M. . Introdução à robótica e estímulo à lógica de programação no ensino básico utilizando o kit educativo LEGO® MINDSTORMS. In: XLIII Congresso Brasileiro de Educação em Engenharia, 2015, São Bernardo do Campo. COBENGE 2015, 2015.

• MATTOS, SANDRO DARCY GAUBERT ; OLIVEIRA, VINICIUS MENEZES DE ; SOARES, LUCIANE BALDASSARI ; AGUIAR, YGOR QUADROS DE ; MACIEL, BRAIAN KONZGEN . Introdução à Robótica e Estímulo à Lógica de Programação no Ensino Básico Utilizando o Kit Educativo LEGO® Mindstorms. In: IV Congresso Brasileiro de Informática na Educação, 2015, Maceió. p. 1418.

• AGUIAR, YGOR QUADROS DE ; CECOTTI, LETÍCIA ; CAETANO, LUCAS ; MARCOS, PEDRO DE BOTELHO ; AZAMBUJA, JOSE RODRIGO . Pré-Comp: introduzindo os fundamentos da Computação e contribuindo com a motivação e aproveitamento acadêmico. In: I Workshop de Ensino em Pensamento Computacional, Algoritmos e Programação, 2015, Maceió. p. 1340-1348.

• STEFFENS, C. ; SILVA FILHO, S. ; LEONARDO, B. ; AGUIAR, M. ; BOTELHO, S. S. C. ; ROSA, V. ; AGUIAR, Y. Q. ; HUTTNER, V. . A VBM System for Intelligent Robotic Welding. In: Simpósio Brasileiro de Automação Inteligente (SBAI), 2015, Natal. Anais do Simpósio Brasileiro de Automação Inteligente (SBAI), 2015. p. 1242-1247.

• ZIMPECK, A. L. ; MACIEL, B. K ; AGUIAR, Y. Q. ; SOARES, L. B. ; OLIVEIRA, V. M. ; MACHADO, V. ; AMARAL, R. S. . A importância da interação entre docentes e grupos PETS. In: SulPET, 2012, Maringá. ANAIS DO XV SULPET Encontro dos grupos PET da região Sul, 2012. p. 55-58.

• AGUIAR, Y. Q. ; ZIMPECK, A. L. ; MACIEL, B. K ; OLIVEIRA, V. M. . Acolhida Cidadã: Uma abordagem ao trote violento. In: XIV SulPET, 2011, Florianópolis. ANAIS DO XIV SULPET Encontro dos grupos PET da região Sul, 2011.

• ZIMPECK, A. L. ; MACIEL, B. K ; AGUIAR, Y. Q. ; OLIVEIRA, V. M. ; MACHADO, V. . Ensino, Pesquisa e Extensão: Uma síntese das atividades do PET-C3 no Ambiente Acadêmico. In: XVI Encontro Nacional de Grupos do Programa de Edcuação Tutorial (ENAPET), 2011, Goiás. XVI Encontro Nacional de Grupos do Programa de Edcuação Tutorial (ENAPET), 2011.

• CECOTTI, L. ; AGUIAR, Y. Q. ; CAETANO, L. ; MARCOS, P. B. ; AZAMBUJA, J. R. . Pré-Comp: estimulando o pensamento computacional e contribuindo com a motivação e aproveitamento acadêmico. In: 14° Mostra da Produção Universitária, 2015, Rio Grande. 14° Mostra da Produção Universitária.

• AGUIAR, Y. Q. ; ZIMPECK, A. L. ; Meinhardt C. . Automação da inserção de falhas Single Event Transient em Circuitos Combinacionais em tecnologias nanométricas. In: 14° Mostra da Produção Universitária, 2015, Rio Grande. 14° Mostra da Produção Universitária, 2015.

• SEQUEIRA, J. ; AGUIAR, Y. Q. ; MACIEL, B. K ; MATTOS, S. D. G. ; SOARES, L. B. ; OLIVEIRA, V. M. . PET Sai da Toca: mobilidade e integração entre grupos do Programa de Educação Tutorial. In: 14° Mostra da Produção Universitária, 2015, Rio Grande. 14° Mostra da Produção Universitária, 2015.

• AGUIAR, Y. Q. ; SOARES, L. B. ; MACIEL, B. K ; FREITAS, A. C. ; LIBARDONI, M. ; AMARAL, R. S. ; OLIVEIRA, V. M. . Desenvolvimento de Língua Estrangeira através do Grupo PET. In: XII Mostra da Produção Universitária (MPU), 2013, Rio Grande. VIII Seminário de Ensino, 2013.

• ZIMPECK, A. L. ; MACIEL, B. K ; SOARES, L. B. ; AGUIAR, Y. Q. ; OLIVEIRA, V. M. ; AMARAL, R. S. . Acolhendo e colaborando com o aperfeiçoamento acadêmico do Centro de Ciências Computacionais. In: 11ª Mostra da Produção Universitária (MPU). In: 11ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2012, Rio Grande. 11ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2012.

• ZIMPECK, A. L. ; AGUIAR, Y. Q. ; MACIEL, B. K ; Meinhardt C. ; BUTZEN, P. F. . Projeto de um Somador Tolerante a Falhas com Baixo Consumo de Potência. In: 10ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2011, Rio Grande. 10ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2011.

• AGUIAR, Y. Q. ; ZIMPECK, A. L. ; MACIEL, B. K ; Meinhardt C. ; BUTZEN, P. F. . Otimização do dimensionamento dos transistores de um circuito somador para redução de atrasos e consumo de potência. In: 10ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2011, Rio Grande. 10ª Mostra da Produção Universitária (MPU), 2011.

• AGUIAR, Y. Q. ; ZIMPECK, A. L. ; Meinhardt C. . A tool for Fault Insertion Simulation in CMOS Circuits. 2015. (Apresentação de Trabalho/Outra).

• AGUIAR, Y. Q. . Programa de Educação Tutorial Ciências Computacionais: programa, atividades e processo seletivo. 2013. (Apresentação de Trabalho/Comunicação).

• AGUIAR, Y. Q. . O Curso de Engenharia de Automação e o seu Ensino na Universidade Federal do Rio Grande. 2012. (Apresentação de Trabalho/Comunicação).

Outras produções

Projetos de pesquisa

• 2017 - 2020

  RADSAGA - Radiation and Reliability Challenges for Electronics in Space, Aviation, Ground and Accelerators, Descrição: The trend toward small devices has made normal commercial ICs (integrated circuits) more and more susceptible to Single Event Upsets (SEUs) triggered by ionizing particles from nuclear interactions of cosmic radiation or the decay of residual radioactive material in IC packages. This way, many of the concerns for radiation-hardened circuits very familiar to the space missions are also becoming a concern for standard commercial products where the corresponding industry relies on systems using so-called "Commercial-Off-The-Shelf" (COTS) components. However, in order to make circuits for the specialized applications requiring operation in an ionizing radiation environment, often components are developed using dedicated and expensive radiation hardened technologies which are less and less competitive for industrial applications. Bearing this in mind, many challenging questions arise and are addressed throughout the RADSAGA ESR projects. They refer to specific areas such as avionic applications, space missions, and accelerator systems, and more recently also to the car and energy sector, all together requiring to investigate on:1. how to allow for an efficient component and system quality assurance based on COTS;2. what processes lead to radiation-induced failures of distributed systems in complex radiation environments and what predictive tools can be developed;3. how to perform monitoring in mixed radiation environments and how to characterize and calibrate mixed-beams required for test facilities offering representative environments;4. how to establish design and test guidelines for electronics in mixed radiation environments.. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Doutorado: (15) . , Integrantes: Ygor Quadros de Aguiar - Integrante / TOUBOUL, A. D. - Integrante / GUAGLIARDO, S. - Integrante / WROBEL, FRÉDÉRIC - Integrante / AUTRAN, JEAN-LUC - Integrante / LEROUX, PAUL - Integrante / SAIGNÉ, FRÉDÉRIC - Integrante / POUGET, VINCENT - Integrante / Ruben Garcia Alia - Coordenador / Israel da Costa Lopes - Integrante.

• 2016 - 2017

  Confiabilidade em nanotecnologias - desafios para a tecnologia FinFET, Descrição: Circuitos integrados VLSI (Very Large Scale Integration) usando nanotecnologia demandam novos materiais, estruturas, metodologias de projeto e ferramentas de CAD (Computer Aided Design) para lidar com os problemas decorrentes do processo de fabricação, tais como a variabilidade. Alguns tipos de concepção são parcialmente robustos às variações de processo ou ambientais, quer sistemáticas ou aleatórias. Este projeto visa avaliar os tipos de projeto de circuitos integrados e os aspectos que podem ajudar a melhorar a qualidade de fabricação e de desempenho nas futuras gerações de dispositivos. Neste contexto, é fundamental avaliar como será o comportamento da tecnologia FinFET em tecnologias abaixo de 20nm. A tecnologia FinFET já está substituindo a tecnologia CMOS planar no processo de fabricação. Por este motivo, obter informações preditivas sobre o comportamento desta tecnologia no projeto de células é importante tanto para projetistas como para desenvolvedores de ferramentas de EDA (Electronic Design Automation). São objetivos principais deste projeto avaliar a robustez de circuitos em tecnologia FinFET, traçando um panorama preditivo de robustez da tecnologia FinFET. Dessa forma, este projeto busca apontar metodologias de projeto e de leiaute mais confiáveis para o projeto em nanotecnologias explorando a tecnologia FinFET. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Graduação: (4) / Mestrado acadêmico: (3) / Doutorado: (1) . , Integrantes: Ygor Quadros de Aguiar - Integrante / Cristina Meinhardt - Coordenador / ZIMPECK, A.L. - Integrante / Rafael B. Schivittz - Integrante / Giane Ulloa - Integrante / Roberto Almeida - Integrante / Luiz H. M. Alves - Integrante / Clayton Farias - Integrante / ANDREI LUIZ FRITZEN ENGEROFF - Integrante., Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa / FUNDACAO DE AMPARO A PESQUISA DO ESTADO DO RIO GRANDE DO SUL - Bolsa / Universidade Federal do Rio Grande - Bolsa.

• 2016 - 2017

  FUCAS - Síntese Automática do Layout de Circuitos Full Custom, Descrição: O objetivo deste projeto é o desenvolvimento de um conjunto de ferramentas, visando a obtenção de um sistema de síntese que permita a realização de circuitos Full-Custom de forma inteiramente automática, desde a sua especificação lógica até a geração do leiaute. O sistema deverá efetuar um mapeamento lógico visando minimizar o número de transistores (portanto diminuindo consumo de energia), e visando diminuir os caminhos críticos.. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Ygor Quadros de Aguiar - Integrante / Alexandra Lackmann Zimpeck - Integrante / Ricardo Augusto da Luz Reis - Coordenador / Walter Enrique Calienes Bartra - Integrante / Marcelo de Oliveira Johann - Integrante.

• 2014 - 2015

  Técnicas de Tolerância a Falhas em Circuitos Integrados, Descrição: A evolução da tecnologia de fabricação CMOS (Complementary Metal-Oxide Semiconductor) tem permitido reduções drásticas das dimensões dos transistores, o que permite aumentar o número de transistores que podem ser integrados em um único chip e também as freqüências de operação dos sistemas. Para tornar isto possível, algumas modificações nas técnicas e materiais de fabricação são necessárias, bem como a redução na tensão de alimentação dos transistores. Em função destas modificações, e também devido à redução das dimensões dos transistores, os circuitos fabricados em tecnologia CMOS estado-da-arte estão se tornado vulneráveis a falhas permanentes e transientes. Este projeto tem como objetivos a avaliação, implementação e automação de diferentes técnicas propostas na literatura para tornar os circuitos mais tolerantes a falhas, assim como, a investigação de diferentes tipos de falhas em circuitos integrados. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Graduação: (1) / Mestrado acadêmico: (2) . , Integrantes: Ygor Quadros de Aguiar - Integrante / Cristina Meinhardt - Coordenador / Butzen - Integrante / Alexandra Lackmann Zimpeck - Integrante / Eduardo Liebl - Integrante.

• 2012 - 2013

  TECSUB (Tecnologia Subaquática), Descrição: A FURG, Fundação Universidade Federal do Rio Grande, é uma Universidade jovem, que tem uma vocação natural para as ciências voltadas ao mar e regiões costeiras. Com tudo, o Brasil não possui significativa experiência na fabricação de veículos subaquáticos. Nosso objetivo então consiste em adquirir o conhecimento e a experiência necessários à construção dos veículos (ROV e AUV). Para o desenvolvimento do projeto há a participação de dois laboratórios da FURG: o NAUTEC (Núcleo de Automação e Computação, sob a responsabilidade da Prof. Sílvia S. C. Botelho) e o NuMA (Núcleo de Matemática Aplicada e Controle, sob a responsabilidade do Prof. Sebastião C. P. Gomes).. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Integrantes: Ygor Quadros de Aguiar - Integrante / Paulo Drews Jr - Coordenador / Silvia Botelho - Integrante / Sebastião Gomes - Integrante.

• 2011 - 2012

  Projeto de Circuitos Integrados de Baixo Consumo de Potência, Descrição: Nos últimos anos houve um grande crescimento da indústria de dispositivos eletrônicos portáteis. Como esses aparelhos são alimentados por uma bateria, o consumo de energia é uma grande restrição no projeto dos circuitos integrados presentes nestes equipamentos. Uma das técnicas para diminuir o consumo é reduzir a tensão de alimentação abaixo da tensão de limiar dos transistores MOSFET. Em contrapartida, o desempenho do circuito também sofre uma drástica redução. Este projeto científico, tecnológico e de inovação tem como principal objetivo a definição das melhores alternativas para diferentes tipos de circuitos de baixo consumo, tais como somadores, células de memória e circuitos seqüenciais projetados em tecnologias nanométricas. Além disso, o projeto prevê um amplo estudo de famílias lógicas caracterizando-as quanto ao baixo consumo de potência. , Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa. , Alunos envolvidos: Graduação: (9) . , Integrantes: Ygor Quadros de Aguiar - Integrante / Cristina Meinhardt - Coordenador / Butzen - Integrante / Braian Konzgen Maciel - Integrante / Alexandra Lackmann Zimpeck - Integrante.

Prêmios